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PR小ロットからの対応可能です。特殊なエピ、多層エピなどにも出来るだけ対応…
「エピウェーハ」 1. ディスクリートデバイス向けや IC powerデバイス向けに使用されております。 *直径: 100-200 mm *Epi層ドーパント: Boron 、Phosphorous *Epi層抵抗値: 0.01-500 Ω/cm *Epi厚: 1-150 um *Stacking fault: 10 /cm2 以下 *Thickness Uniformity: ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社エナテック 東京本社
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粉粒体用コネクター製品『BFMフィッティング』<デモ機貸出中>
PRシュート配管を工具レスで着脱可能。接続箇所をしっかりシールでき、粉漏れ…
『BFMフィッティング』は、工具を使わずシュート配管を着脱でき、 高い密閉性で粉体材料の漏れ防止にも貢献するコネクター製品です。 60kPaの高圧環境下でも高いシール性を発揮し、 優れた素材強度で破れや脱落が起こりにくいのも特長です。 使用可能温度域や、静電気対策の有無、通気性の有無など、 豊富なラインアップからニーズに合わせた製品を選択可能です。 ※デモ機を無料で貸し出し...
メーカー・取り扱い企業: ラサ工業株式会社 本社
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複数個のDUTの同時試験が可能!要望に応じた制御方法や試験条件にカスタ…
当社では、二年間でおよそ100種類以上のパワーサイクル試験を受託しており、 この間に蓄積されたノウハウを活かしたパワーサイクル試験装置を 開発、製造、販売することになりました。 近年、HEVなどの車載用を中心に産業用機器や発電装置など、パワー半導体が 幅広い分野で使用されるよう...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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絶縁物の測定が可能!金属・半導体・高分子等さまざまな材料の研究開発や不…
「X線光電子分光法」は、試料表面の元素分析・化学状態分析を行う手法です。 絶縁物の測定が可能なため、金属・半導体・高分子・セラミック・ ガラス等さまざまな材料に適用可能。 表面分析の中でも多用されている手法の一つであり、材料の研究開発や 不良解析に利用されています。 【分析項目】 ■表面の組成分析(定性・定量):ワイドスキャン...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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信頼性の高い結果を迅速に報告!表示が義務化された7品目等、アレルゲン物…
法による定量検査(2日) ■3.PCR法(3日)またはウェスタンブロット法(2日)による確認検査 ■4.分析結果をお客様へ報告 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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50μm程度(目安としては肉眼で確認可能な)大きさであれば、概ねサンプ…
当社では、「フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析」を 行っております。 物質に赤外光(IR)を照射すると、物質固有の官能基の分子振動により 特定の波数領域で光が吸収されます。 広帯域のIR光を連続的に試料に照射しスペクトルを得ることにより、 物質材料を特定することが可能です。測定対象物質は主に 赤外吸収を伴う有機物質と一部の無機物質となります。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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ワイヤーボンディング部の接合面を平面から観察!数値による評価が可能とな…
化合物の面積が大きければ、接合面がそれだけ広い事になり、 ボンディングOKと評価できます。 一般的な断面観察では、金属間化合物の生成状態をある1点でしか確認できず、 評価の裏付けとしては弱さの残るものでした。 クオルテックでは、ボンディングされた箇所の裏面からシリコンをエッチング する事で、金属間化合物の生成状態を、より明確に観察する技術を開発。 金属間化合物の面積を算出し、...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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銅張りガラエポ板に各種表面処理を施しはんだ広がり性を調査!
当社で行った「無電解NiAuランドでのはんだぬれ性不良」の再現実験を ご紹介いたします。 予想された不良原因は、ランド表面処理の違いで、銅張りガラエポ板に 各種表面処理を施しはんだ広がり性調査を実施。 結果として、NiAuの処理方法により、はんだ広がり性が異なることを確認。 同時にそ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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リフロー時のプリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認!
当社で行った「はんだ溶融性不良」の再現実験をご紹介いたします。 予想された不良原因はリフロー条件の不適で、リフロー時の プリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認。 その結果、プリヒート時間の短縮により溶融性を改善できますが、 BGAでのボイドが増加。ボイド...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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実動作に近い環境での試験および評価!突入電流およびサージ電圧に影響しな…
当社は、一般的なパワーサイクル試験(及び連続通電試験)に加え、パルス状の 試験電流をサンプルへ印加させる『パルス通電パワーサイクル試験』も 実施しています。 応用例として、「IGBT/FWD 交互通電試験」では、パルス通電のノウハウを 駆使し、IGBTとFWDを交互に通電させることで、よ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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温度の変化または温度変化の繰り返しが、電子部品や機器に与える影響を確認…
■型式:TSD-101-W ■メーカー:エスペック株式会社 ■テストエリア内容量:100l ■テストエリア耐荷重:30kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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サンプルを高精度に観察!ウェブ会議での対応も可能ですので、お問い合わせ…
低ノイズでの観察、わずか数分での高速動作が可能な「EBSD」や「X線CT」などを ラインアップ。 3サンプルの場合、3~5営業日ほどで対応いたします。なお、「EBSD」は加工時間が プラスされます。 ウェブ会議での対応も可能ですので、まずは各技術担当者へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■X線CT ・CTデータをDVDにコピーしご提供 ・フリービュワーソフトに...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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高精度な試験力・変位のコントロールが可能!微小サンプルの信頼性評価に威…
ルが 可能で、電子部品など微小サンプルの信頼性評価に威力を発揮。 引張・圧縮の繰り返し応力を与えますが、治具の作製により曲げ疲労試験 にも対応します。ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■材料は繰返し応力を受けると静的な引張強さや降伏応力よりも 小さい力で破壊に至る ■繰り返しの試験力や変位を与え、製品の疲労寿命や耐久性を評価 ■治具の作製により曲げ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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100μm以上でも加工可能!ソース・ゲートがある構造物まで加工・観察・…
当社のプラズマFIBはFE-SEMを搭載しており、FIB加工しながら FE-SEM観察が可能です。 断面加工は垂直に行い、FE-SEM観察は52°傾斜させた状態での 撮影となります。 ご希望により、測長・画像の傾斜補正も可能ですので、ご用命の際は お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■1時間以内でSiCの断面加工が可能 ■...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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