アングル | イプロスものづくり

PR短時間で高精度加工を実現する高速5軸ミリングマシンに省人化を実現するオ…

ドイツレダース社製の高速ミリングマシン「RXU」シリーズは全軸リニアモーター駆動+リニアガイドの仕様で経年変化なく高精度加工します。高速スピンドルを標準装備し超硬等HRC60以上の高硬度材のミリングが可能です。チャックしたまま掴み替えることなく、ミリング加工の後はジグ研削加工(オプション)、機上測定まで一連の工程が可能です。掴み換えなく1台で完成行程まで行える為、「機械設置面積の削減」「人...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ゴーショー

パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』

狙った欠陥を確実にキャッチ！パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で…

『CI4000』は、全6面検査自動化により、目視検査レスを実現したパワーデバイス用チップ外観検査装置です。上面・下面検査は、マルチアングル照明＋複数枚撮像で様々な欠陥モードに適した検査画像を取り込みます。また、側面検査ではXYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出します。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社安永本社

ウエーハチップ自動外観検査装置『CIシリーズ』

ダイシング後ベアチップの個片外観検査装置各種用途に合わせてライン…

『CIシリーズ』はベアチップ個片をトレイtoトレイで搬送し、高精細な外観検査を行い良品/不良品に分類する装置です。標準搭載されたマルチアングル照明を使い、製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定可能。半導体ベアチップ製造メーカ様・受託メーカ様の出荷前検査に最適な装置です。対象製品例）パワーデバイス、IC、イメージセンサ、...

メーカー・取り扱い企業：株式会社安永本社

IC高精度外観検査装置『LI900W』

半導体ICパッケージ検査のオールラウンダー　車載製品実績NO.1

載されています。　2D検査：全長、全幅、パッケージ中心、ピッチ、位置度、端子径　等　3D検査：コプラナリティ、スタンドオフ、反り、全高　等〇高精度欠陥検査　高画素カメラ・マルチアングル照明を搭載し、表・裏・側面の高精細な欠陥検査を実現します。【検出欠陥モード】　異物付着、キズ、カケ、剥離、端子欠損、マーク不良　等〇その他特徴　・JEDECトレイ対応　・多...

メーカー・取り扱い企業：株式会社安永本社

リードフレーム＆ダイボンドチップ自動外観検査装置『FV100L』

クリーン仕様！リードフレーム・ダイボンドチップの自動外観検査を実現！

『FV100L』は、検査のインライン化にも対応するリードフレーム及びダイボンドチップの自動外観検査装置です。マルチアングルLED照明＋複数枚画像撮像で、多様な不良モードの欠陥を確実にキャッチします。また、4M～25Mpixカメラから選択可能。高分解能検査に対応します。さらに、クリーンファンによるダウン...

メーカー・取り扱い企業：株式会社安永本社

セラミックス基板自動外観検査装置『FV203CR』

表面及び裏面の両面検査に対応！高速照明切替と高速画像取込みで高速検査を…

をセットする事で、セラミックス基板表／裏面の外観検査を行い、検査結果に基づいて良品／不良品に選別を行います。【特長】 ■高密度3D検査により「膨れ」「凹み」欠陥を検出 ■マルチアングル照明を用いて最適な照明環境を実現 ■高速照明切替と高速画像取込みで高速検査を実現 ■表面及び裏面の両面検査に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社安永本社

新型ＩＣパッケージ自動外観検査装置『ＬＩ９３０』

ＬＩ９００Ｗ後継機として車載ＩＣパッケージ対応高機能モデルをリリース

ックモデルです・車載用途など高い出荷品質が求められるＩＣパッケージの外観検査に全てお応えします【特長】 ■各種表面実装型パッケージのJEITA規定寸法測定法に準拠した検査 ■マルチアングル照明を切替えるマルチイメージ検査により欠陥を確実に検出 ■コンパクトな筐体で設置面積を小さく抑える事が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社安永本社

パワーモジュール用ベアチップ外観検査装置『CIシリーズ』

実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減＆歩留まり向上…

ズ』は、チップトレイに収納された個片ベアチップの外観品質検査を行い、良品/不良品に分類する装置です。検出事例・・・エッジクラック、欠け、傷、異物付着、変色等＜特長＞ ■マルチアングル照明により多様な欠陥にアジャスト　　 ■小型・省スペース設計＆作業は全てフロント面から ■イントレイ検査でベアチップへの接触をミニマム化 ■画像情報の高次元統計解析による過検出低減ツール（オ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社安永本社