『FE-SEM（EDS/EBSD付）観察』

細く絞った電子線を試料に照射！結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微…

『FE-SEM（電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡）』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法（Electron Back-Scatter Diffraction；略してEBSD）を用いると、結晶方位や結晶構造の解析を行うことも できます。 【適...

メーカー・取り扱い企業： コベルコ溶接テクノ株式会社