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細く絞った電子線を試料に照射!結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微…
『FE-SEM(電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡)』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法(Electron Back-Scatter Diffraction;略してEBSD)を用いると、結晶方位や結晶構造の解析を行うことも できます。 【適...
メーカー・取り扱い企業: コベルコ溶接テクノ株式会社
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