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PR1ch~128chの振動計測に対応。異常振動の監視や、振動モード分析な…
多機能振動計測・分析ソフト『SVRシステム(収録システム) Fシリーズ』は、簡単な設定入力だけで、計測やアウトプットが手軽に行える製品です。 スペクトル計測、ウォーターフォール計測、打撃試験・モード計測といった 各種振動計測をこのソフトでカバーできます。 ソフトウェアのオリジナルカスタマイズも承っておりますので、 計測でこんな機能が欲しい!などのご要望の声もお待ちいたしております。...
メーカー・取り扱い企業: 国際振音計装株式会社 加古川試験所
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膜厚測定向け干渉スペクトル測定システム OP-FLMT-IFS
膜厚測定向けの干渉スペクトル測定システム
Sは、小型で取り扱い簡便なFlame-T分光器をベースに、ハロゲン光源、2分岐光ファイバ、広帯域ファイバコリメータおよび分光測定用標準ソフトウェアOPwave+を組み合わせた、膜厚測定向けの干渉スペクトル測定システムです。 取得した干渉スペクトルをユーザ自身のプログラムを用いて解析可能なシステムとなります。 またFlame-T分光器はユーザ独自の膜厚測定システムに検出器として組込可能なコンパクト...
メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社
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オーシャンオプティクス社分光器を使用した安価・簡易膜厚測定システム!
SKOP (Starter Kit for Optical thickness measurement) 光学式膜厚測定システムは、 光学薄膜の分光反射率を測定し、そのスペクトルを解析することで薄膜の厚みを測定するシステムです。 基板上の薄膜はエタロンとして作用し、反射スペクトルに干渉パターンを引き起こします。 パターンの正弦波ピークの間隔は、材質の屈折率と膜の厚みに...
メーカー・取り扱い企業: オプトシリウス株式会社
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2つの測定モードを選択し、測定作業をよりスムーズに!蛍光X線式膜厚計の…
【その他の特長】 ■コリメータ5種類内臓 ■自己診断機能及びX線管保守機能 ■膜厚測定中のスペクトル表示 ■測定部モニタ画像の表示 ■測定物のめっき付着分布をビジュアルに表示 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社電測
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X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…
XPSナロースペクトルを取得し、それぞれC1sスペクトルの状態解析を行うことで炭素の結合の種類と定量値がわかりました。 接触角測定と併用することで撥水性や親水性評価に活用可能です。 この事例では「XPSによる...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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被測定物からの反射光を測定する光学式膜厚計の受託開発事例をご紹介!
発した『光学式膜厚計(OEM製品)』についてご紹介いたします。 【概要】 ■開発製品:光学式膜厚計(OEM製品) ■特長 ・被測定物からの反射光を測定可能 ・プリズムの角度を制御しスペクトルを分析し、コーティング厚を算出 ・ハードウェア要素はSH3−DSP、PPMCソフトウェアはOSにμITRO Nを使用 ・VCCI基準に適合 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アンペール 友部事業所/産業機器部
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