セイコーフューチャークリエーション株式会社 【DL可/XPS】XPSによる撥水膜の分析
- 最終更新日：2023-10-20 12:13:37.0
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X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られるので表面汚染、表面処理の評価に活用いただけます
XPSナロースペクトルを取得し、それぞれC1sスペクトルの状態解析を行うことで炭素の結合の種類と定量値がわかりました。
接触角測定と併用することで撥水性や親水性評価に活用可能です。
この事例では「XPSによる撥水膜の分析」を紹介します
ぜひPDF資料をご一読ください。
また、弊社では本XPSに加えGD-OES、オージェなどの各種表面分析を行っております。
お気軽にご相談いただければ幸いです。
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基本情報【DL可/XPS】XPSによる撥水膜の分析
●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色
の分析、表面処理の評価に有効です。
●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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