• 独自技術を採用したガラス加工用レーザー装置 製品画像

    独自技術を採用したガラス加工用レーザー装置

    PR高速かつ正確なガラス微細加工が可能。加工時の応力を抑えて、マイクロクラ…

    『LPKF Vitrion M 5000 Gen2』は、独自に開発した「LIDEプロセス」を採用し、±5μm以下の高精度でガラス微細加工が可能なレーザーシステムです。 加工時の応力を最小限に抑え、チッピングやマイクロクラックの発生を防止。 アドバンストパッケージングで標準使用される150×150mmから 510×515mmまでの大型パネルに対応し、基板のサイズや 形状に合わせて柔軟に対...

    • s1.png
    • 510x515_s.jpg

    メーカー・取り扱い企業: LPKF Laser&Electronics株式会社

  • ウエハ外観検査装置(ダイシング前) 製品画像

    ウエハ外観検査装置(ダイシング前)

    検査精度に合わせた画像分解能が選択可能!高速かつ高精度な検査を実現

    『ウエハ外観検査装置(ダイシング前)』は、ウエハ工程で発生する 外観欠陥を高速かつ高精度で検査が可能な装置です。 検査精度に合わせた画像分解能が選択可能。(マクロ検査約10um分解能以上) また、ビューワーソフト...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ヒューブレイン

  • ウエハ・チップ外観検査装置 製品画像

    ウエハ・チップ外観検査装置

    表裏同時検査可能!1台でマクロ検査・ミクロ検査どちらもできるウエハ・チ…

    「ウエハ・チップ外観検査装置 HM-256シリーズ」は、3CMOS 320万画素カラーカメラを標準採用することにより、優れた検出能力を持ち、ウエハやダイシング後にチップの外観を高速で検査できる外観検査装置です。 ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が可能で、多様なパターンのチップの検査が可能です。 【特長】 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ヒューブレイン

  • 「低価格版」ウエハ・チップ外観検査装置 製品画像

    「低価格版」ウエハ・チップ外観検査装置

    ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が…

    「低価格版 ウエハ・チップ外観検査装置 HMWF-A2000」は、高画素カラーカメラを搭載することにより、優れた検出能力を持ち、ウエハやダイシング後にチップの外観を高速で検査できる外観検査装置です。 ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が可能で、多様なパターンのチップの検査が可能です。 【特長】 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ヒューブレイン

  • 画像分解能が選択可能!ウエハチップ外観検査装置(ダイシング後) 製品画像

    画像分解能が選択可能!ウエハチップ外観検査装置(ダイシング後)

    多種多様な機能搭載!320万画素の3CMOSカラーエリアカメラで検査を…

    『ウエハチップ外観検査装置(ダイシング後)』は、ウエハダイシング後の チップを外観検査する装置です。 検査精度に合わせた画像分解能が選択可能。(約0.8μm~2.0μm/pixel) また、オプションで、表裏同時検査・...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ヒューブレイン

1〜4 件 / 全 4 件
表示件数
15件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 構造計画研究所バナー画像再提出_128541.jpg
  • 3校_0830_taiyo_300_300_260838.jpg