TAITIEN社 水晶デバイス

PR従来品の置き換え提案が可能！Crystal、SPXO、TCXOも従来仕…

当社は、1976年創業の台湾のクロック発振器メーカーTAITIEN社の 正規代理店として、販売活動を行っております。 Crystal、SPXOの汎用水晶デバイスからTCXO、VCXO、OCXOの高精度 水晶発振器製品まで一貫生産し、⾧期供給も可能。 また、従来品の置き換え提案が可能な製品もございます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■Crystal...

メーカー・取り扱い企業： SUPREME COMPONENTS INTERNATIONAL

5G・IoT向け各種高周波製品

PR【ワイヤレスジャパン2024に出展します！】5G、 IoT、スマートフ…

アスニクス株式会社は、高周波製品および関連部品に特化した商社です。 今年5月に、アンテナ専門大手メーカーGLEAD社、アイソレータ及びサーキュレータの専門メーカーJQL社、SAWデバイスや水晶デバイスを製造するTAISAW社と共同で「ワイヤレスジャパン2024」に出展します。 今回の展示会では、5G、IoT向けの製品を幅広く展示します。 ご来場の際は、是非当社ブースへお立ち寄りください。 【ワ...

メーカー・取り扱い企業： アスニクス株式会社

パワーデバイスのHAST試験

パワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能！…

株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。 【特長】 ■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能 ■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施 ■試験中のモ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

デバイスドライバ検証サービス

デバイスドライバでお困りではありませんか？品質向上を支援します

「技術者が少ないため、品質を上げるのが大変な上にコストがかかる」や 「どうやって品質を上げれば良いかわからない」等、デバイスドライバで お困りではありませんか。 開発会社であるからこそ、当社の第三者検証では上流工程（基本設計）から 対応可能です。 これにより検証にかかるコストだけではなく、製造にかかるコ...

メーカー・取り扱い企業： サイエンスパーク株式会社

モジュール試作と熱抵抗評価

ダイアタッチやTIM材などの評価に好適！試作から評価まで対応致します

株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。 パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。 試作から評価まで対応致します。 ご興味がございましたら、是非お気...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

Amazon Alexa向け 情報セキュリティ検証サービス

デバイスメーカー様にてAmazon Alexa搭載デバイスを開発される…

デバイスメーカー様において、Amazon社が提供するAmazon Alexa搭載デバイスを開発される際、Amazon社の規定により認定ラボ(全世界で7社のみ認定)でのセキュリティ検査が必須となっております。 一般的にはお客様においてAmazon社の開発者サイトより先に開発申請をして頂きますが、その際のサポートもさせて頂きます為、Intakeformなどのご準備がない段階でもまずは弊社までご相談くだ...

メーカー・取り扱い企業： ONWARD SECURITY JAPAN株式会社

パワーサイクル試験と特性評価

パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分…

テスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。 【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデバイスの各種...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

顔認証 システムの機能、セキュリティー試験

顔認証を使用したデバイスやシステムの機能試験、パフォーマンス試験、セキ…

顔認証は非接触で本人認証が行える強力な認証手段の一つです。Fime では顔認証デバイスやシステムに対する機能試験やセキュリティー試験を提供します。 FIDOやISOで定義されているテスト手法に加え、カスタマイズ試験が可能です。カスタマイズ試験では、顔認証デバイスが実際に使用される...

メーカー・取り扱い企業： FIME JAPAN株式会社

高感度検出システム開発のご紹介

マイクロ流路による唾液中のバイオマーカー測定デバイスの開発！

株式会社KRIでは、唾液を検体としたバイオチップによる 高感度検出システムの開発を行っております。 μTASシステムにより小型化・高感度化・高速化し、 デバイスを自社技術で開発。 また、唾液による非侵襲の検査は、家庭内で簡便に実施でき、 病気の予防や管理・支援が可能です ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【保有技術】 ■微細加...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社KRI

テストソリューション

フレキシブルに対応！「不具合防止」と「テスト効率化」を実現するテストソ…

ご相談ください。 【支援内容（一部）】 ■第三者検証 ・専門会社のテスト設計/テスト実施によって、バグを早期検出 ・テストを分業することによる開発効率化・コストダウンを実現 ■マルチデバイステスト ・スマートフォンを中心とした6,000台を超えるテスト用実機を保有 ・網羅性の高いマルチデバイステストで、端末依存不具合の抑止に貢献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社デジタルハーツ

テストオペレーションサービス

お客様のニーズに合わせたトータルソリューションを提供します！

を揃えています。 それぞれのニーズに合わせ、適切なウエハテスト、ファイナルテスト及び テストソリューション開発まで含めたトータルソリューションを提供いたします。 【特長】 ■幅広いデバイスに対応した、豊富なテスタラインアップ 　・テストサービス：需要の高まっている多種多様な半導体製品のテストに対応 　・先進の設備：豊富なテスタラインアップで幅広いデバイスに対応 ■グローバルな...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テラプローブ

SLAM技術を活用！【歩きながら3D受託サービス】

ウェアラブル型計測デバイスを身につけ歩きながら3Dスキャン。短時間で広…

当社では、ウェアラブル型計測デバイス「NavVis VLX」を用いて 短時間で広範囲の空間情報を取得できるサービスを行っています。 歩きながら点群データを取得していくため、従来の地上型3Dレーザースキャナーを用いる方法に比べ...

メーカー・取り扱い企業： 大浦工測株式会社 ［東京本社・横浜支店・九州支店・関西支店・仙台営業所 ］

ICチップの外観検査

様々なデバイスをお客様のご要望により短納期で検査納品をいたします

タへの出力が可能。また、オペレータによる外観だけでなく 多量少品種に対しては、イントレー自動外観検査装置による検査も可能です。 さらに有資格者による顕微鏡外観検査も実施しております。様々なデバイスを お客様のご要望により短納期で検査納品をいたします。 【特長】 ■欠陥チップの様々な出力が可能 ■イントレイ外観装置による24H稼動 ■外観検査認定オペレータによるリードタイム短縮...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ニチワ工業

【輸送コストにお悩みの方必見】高品質な物流センターのご紹介

ジャスト・イン・タイムの製品供給に貢献！電子デバイスセンターも完備して…

の高い物流システムを構築 ■WMS導入による入出庫・在庫情報の管理を通して、 　ジャスト・イン・タイムの製品供給に貢献 ■自動ラックによる高い保管効率や、多品種少量、多回納入に対応 ■電子デバイスセンターも完備 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： カリツー株式会社

ESD（CDM）試験受託サービス

デバイス帯電モデル（Charged　Device　Model）のESD…

■ 各規格波形　JEDEC、JEITA（EIAJ)、AEC　に対し 　ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法（Direct CDM）、電界誘導法（Field Induced CDM） 　の両方に対応します。 ■印加ピンの接触状態の確認機能により確実に印加します。 ■ダイオード特性判定法による破壊判定対応も可能です。（要相談）...■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステッ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ラッチアップ試験受託サービス

CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…

特性測定にも対応します。 ■ソケット、専用基板等の手配・試験ボード作製にも対応します。 ＊VCC電源搭載数：4台（100V/0.5A：1台、50V/1A：3台） 　　　　　　　　　多電源デバイスの対応が可能 ＊電源過電圧法の最大電圧：150V（VCC電圧＋VTパルス電圧⇒最大150V）...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

車載電子機器の環境試験

お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法のご提案や、正確なデータを…

近年の車載環境は、温度、湿度、振動などの条件が過酷にも関わらず、 高電圧・大電流をより微細化（軽量化）されたデバイスでコントロール しなければいけません。 クオルテックでは、車載環境を忠実に再現した信頼性試験を提供するだけでなく、 JNLAの登録試験所として、お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能 ・ＦＩＢで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能 ・オプション機能を組み合わせることにより、局所領域の組成・状態分析なども可能 ■短所 ・試料を薄片化する必要がある（一部の試料において薄片...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ロックイン発熱解析法

ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します

デバイスの内部で発生する熱を検出し、故障箇所を特定する半導体故障解析装置となります。高感度赤外検出器にて検出した発熱画像と、IRコンフォーカルレーザ顕微鏡で取得した高解像度なパターン画像を重ね合わせて表示することにより、高感度かつ高い位置精度で故障箇所を迅速に特定します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

EMS分析（エミッション顕微鏡法）

故障箇所を迅速に特定

EMSは、半導体デバイスの異常動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。 ・測定波長領域（可視域から近赤外域）に対して透明な材料のみ評...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

検証サービス

様々な形で検証にまつわるサービスを提供しています

当社では、ASICやアンチヒューズFPGAといった、ミスの⾒落としが許されない デバイスでの開発を成功させてきた当社だからこその、質の高い検証サービスを ご提供しております。 工数を抑え、無駄な手戻りを減らすのに有効な検証の自動化や、 検証を確実にする第三者検証をご提案いた...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社プライムゲート 山口LSIセンター

パワーサイクル試験受託サービス

パワーデバイスの熱疲労を評価するパワーサイクル試験を承ります

当社では、チップの温度を上下させた際の自己発熱に対する 熱疲労の寿命を推測するパワーサイクル試験を承ります。 水冷式コールドプレートを採用しており、安定した放熱特性のもと試験実施が可能。 お客様ご指定のコールドプレート手配、持ち込み品の設置など、 仕様により柔軟に対応させて頂きます。 【特長】 ■当社オリジナルTEGチップを使用した周辺材料評価も可能 ■ご来社頂き、サンプルの...

メーカー・取り扱い企業： シーマ電子株式会社

走査型マイクロ波顕微鏡法_SMM

Scanning Microwave Microscopy

射応答を計測することで、特に半導体の場合にはキャリア濃度に相関した信号を得ることができる手法です。SMM 信号の強度はキャリア濃度に線形に相関するため、定量性が高いことが特徴です。 ・Si デバイスの場合、1015～1020cm-3程度のキャリア濃度に感度がある ・キャリア濃度に線形に相関した信号が得られるため、仮定のもとに定量 評価(半定量)が可能 ・AFM像の取得も可能 ・Si,...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

熱解析の受託サービス

業界初の熱解析手法で、費用を抑えた製品設計＆放熱対策をご提案！

かけていませんか？ Q）製品に実施している放熱対策は、妥当でしょうか？（過剰対策になっていませんか） 「熱解析の受託サービス」は放熱対策にかかる費用の削減を実現します。 熱源である半導体デバイスの熱特性の真値を求め、極限まで温度マージンを抑えた放熱対策を提案させて頂きます。 半導体エンジニアと熱設計エンジニアの知見を合わせ、独自技術（特許出願中）を用い、正しい解を導き出します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【分析事例】IGZO膜の局所結晶構造解析

電子回折で結晶性・配向性を連続的に評価

IGZO膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいる材料です。 薄膜中の結晶構造の有無はTFT特性や信頼性に影響する可能性があり、デバイス中における局所的な結晶評価が必要になります。 TEMの電子回折測定を用いてIGZO膜中の結晶構造を連続的に評価した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

NFCエミュレータ　CTS III

CCC (Car Connectivity Consortium) の…

：NI (National Instruments) 基本機能：13.56MHzを使用する近接通信(NFC)のカードまたはリーダーをアナログまたは/およびデジタルのエミュレートし、対向するNFCデバイスの検証を行う 対応プロトコル：ISO/IEC 14443 (Type A, Type B)、(VHBR含む）、ISO/IEC 15693、FeliCa、Mifatr 準拠試験：NFC Foru...

メーカー・取り扱い企業： FIME JAPAN株式会社

【資料】しるとくレポNo.53＃アバランシェ試験（2）

デバイスの過渡熱抵抗など図を用いて解説！適当なパラメータを持つMOSF…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 当レポートは、しるとくレポNo.52でお話ししたMOSFETのアバランシェ 耐量試験の続きとなります。 デバイスの過渡熱抵抗やアバランシェ動作時の損失と時間の関係について 図やグラフを用いて解説。 デバイス選定の際に、異なる条件で測定されたデバイスを比較しても あまり意味はありません。データシート...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【分析事例】IGZO膜へのTi拡散評価

SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

IGZO膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいる材料です。IGZO膜中に金属元素が拡散するとTFT特性が劣化することが懸念されるため、IGZO膜を用いたデバイス特性および信頼性評価には膜中の金属濃度を精度良く測定する必要があります。 SSDP-SIMSを用いて金属電極の反対側からIGZO膜中のTi濃度を評価した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】IGZO膜中H濃度評価

IGZO膜中Hについて、高感度で深さ方向分布の評価が可能

IGZO膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいる材料です。IGZO膜中のH濃度に応じてキャリア濃度が変化して電気特性が変動するため、IGZO膜を用いたデバイス特性および信頼性評価には膜中のH濃度を精度良く測定する必要があります。 SIMSを用いて加熱条件の異なるIGZO膜中のH濃度を評価した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【資料】しるとくレポNo.34＃パワーサイクル試験

MOSFETを例に簡単に説明！耐久性を評価するためのパワーサイクル試験…

様々な試験の総称です。 主な目的は、設計どおりの性能となっているか確認することと、 市場要求品質を満たしているかを評価することです。 そんな信頼性試験の中から、当レポートでは、パワーデバイスの耐久試験の ひとつである「パワーサイクル試験」についてご紹介しましょう。 詳細については、是非ご一読ください。 【掲載内容】 ■ショートパワーサイクル試験（参考：JEITA-ED...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【資料】しるとくレポNo.52＃アバランシェ試験（1）

アバランシェ降伏、UIS試験回路と波形など！パワーMOSFETのアバラ…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ アバランシェ試験で測定するアバランシェ耐量とは、パワーデバイスに 耐電圧以上の電圧を印加していくと急激に電流が流れはじめ破壊に至って しまうのですが、どのくらいのエネルギーまで耐えられるかということを指します。 当レポートでは、アバランシェ降伏やU...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology