産業機械向けノイズフィルタ：HF-Rx/NF-VZ4シリーズ

PR大電流への対応と小型化・軽量化を両立。最大528Vの電圧に対応。安全規…

小型化・軽量化と大電流対応を両立した２種類のノイズフィルタ 『HF3000C-Rxシリーズ』『NF3000C-VZ4シリーズ』のご紹介です。 当社従来製品と比べ、大幅な省スペース化を実現。 対応電圧は480Vで、10％(最大528V)の電圧変動に対応可能です。 VZ4シリーズは、省スペース化のニーズに応える高さ１１０ｍｍの低背設計を実現。 Rxシリーズは、高い減衰性能を実現し、202...

メーカー・取り扱い企業： 双信電機株式会社 東京本社

【ハンドブック無料進呈！】ノイズに関する課題解決実績ブック

PR「基板や筐体から発生するノイズ」や「短い開発期間でのノイズケア」などに…

当社ではノイズコンサルティングの概要と実績例をまとめてご紹介しています。 【ノイズに関してこんなお悩みはありませんか？】 ・既存の基板から発生するノイズが大きいので改版したい ・短い開発スケジュールの中でもノイズのケアをしたい ・筐体やケーブルにも対策してEMC試験に合格させたい ・第三者の視点を入れてノイズ問題を解決したい ・ノイズの発生源が特定できない　　　　　 　　　　　　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社キョウデン

原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット！正確な原子間力顕微鏡をご紹…

陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000％向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自動で行うAFMソリューション ■...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』

故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール

における大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

ストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』　

最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡

本製品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に 革新的な研究に集中することができます。 【特長】 ■クロストーク除去によるボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能 　およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざ...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

【新発売！】原子間力顕微鏡『Park NX7』

【日本版カタログ進呈中】低コスト・高機能・短納期が可能な新製品！当社が…

フラットな直交XYスキャンができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■拡張性の高いAFMソリューション ■ボーイングのないフラットな直交XYスキャン ■低ノイズZ検出器 ■True Non Contactモードによるチップの寿命、 　サンプルの保存、繰り返し精度の向上 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧い...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』

故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング

の 高真空原子間力顕微鏡(AFM)です。 高濃度ドープの半導体の正確な故障解析が可能。 また、当社のすでに認められた技術を用いることによって、高分解能で 高い再現性と操作性による低ノイズ計測を可能にした製品です。 【故障解析の為の高真空計測】 ■高速スキャンのための進化したStepScan自動機構とレーザーアライメント機構 ■マルチサンプルチャック ■Park独自の容...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社