パワーデバイスの故障解析

ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

析：～100mA/10V　～100uA/25V　まで対応 　エミッション解析：～2kV　まで対応 　＊低抵抗ショート、微小リーク、高電圧耐圧不良など幅広い不良特性に対応 ■リーク箇所のピンポイント断面観察－SEM・TEM－ 　予測される不良に合わせてSEM観察・TEM観察を選択し 　リーク不良箇所をピンポイントで物理観察/元素分析を実施可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワーデバイスのトータルソリューションサービス

パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します

■解決する力 　知識と技術でかいけつに導くコンサルティング 　スピード対応でお客様スケジュールを支援 ■つきとめる力 　故障個所をピンポイントし可視化する技能 　深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術 ■特化した設備 　最高180℃での液槽熱衝撃試験 　パワー半導体に必須のパワーサイクル試験...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス

高い加工精度と広い加工領域を実現！冷却機能でダメージを軽減しながらの加…

【装置スペック】 ■冷却機能付トリプルイオンミリング装置 ・最大試料サイズ：50×50×10mm ・最大加工幅：4mm ・ピンポイント位置精度：10～20μm ・冷却機能：-150℃まで ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【保有設備】FIB（Focused Ion Beam)

半導体、MEMS、液晶ガラスなど！微小領域の断面加工やTEM試料の作製…

【特長】 ■クロスビームFIB「Carl Zeiss 1540XB」 ・FIBで断面加工しながリアルタイムでSEM観察が出来るため、 　ピンポイントで精度よく断面を出すことが可能 ・SEM/SIMの観察が可能 ■シングルビームFIB「SEIKO SMI 2200」 ・TEM試料作製やSIM観察断面の作製、微細加工などの加工が可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス