ICカードリーダー『IC SCAN』

PRFeliCa/Mifare対応！ICカードの読み取りが簡単にできます

『IC SCAN』は、多機能で簡単操作のIC読み取り専用システムです。 DES/AES鍵ありデータエリアの読み取りも可能。 FeliCaサービスの読み取り制限がないほか、 Excelなどにキーボード出力可能など多機能です。 また、SIP独自開発ソフトのため、多種カスタマイズの開発も 受け付けます。(有償) 【特長】 ■IDm、UIDの読み取りができる ■読み取ったデータ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムズ・インテリジェンス・プロダクツ（SIP）

【新製品】産業用28ポートスイッチングハブ【ST14528M】

PR期待寿命15年！耐環境性とメンテナンス性に優れた10G対応の産業用スイ…

メタルポート24ポート、SFP+ポート4ポート ファンレス構造の10Gbps対応インテリジェントL2スイッチングハブです。 レイヤ2の基本機能に加え、スタティックによるIPルーティング機能を有しており、より柔軟なネットワーク設計が可能です。その他の固有機能として、高速経路切替機能、装置自己監視機能、USBメモリによる保守（ログ採取・機器設定）機能、CNMS※ 機能を有しています。 ※…C...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社リョウセイ

技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 近年、高感度ならびに低消費電力デバイスの需要が高まり、スピントロニクス分野では磁気メモリや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ（magnetic tunnel junction）構造が広く用いられている。このMTJ構造は数...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

測定データ自動保存・自動転送 (特注)

測定データを取り出す必要はありません。

〇測定データを自動保存して 、あらかじめ決められた場所に自動転送することが可能です。 〇測定データの読み取りミスや転記ミス、USBメモリ等で取出す作業がなくなります。 〇USBメモリ等によるコンピューターウィルス感染の不安がなくなります。 〇お客様の環境にあわせたカスタマイズを実施させていただきます。全測定データもしく...

メーカー・取り扱い企業： 協和界面科学株式会社

【分析事例】発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価

発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます

寿命測定から間接的にキャリアライフタイムの評価が可能です。本資料では4H-SiCエピ基板のキャリアライフタイム評価の事例を紹介します。 測定法：蛍光寿命測定 製品分野：パワーデバイス、LSI・メモリ、電子部品 分析目的：故障解析・不良解析、製品調査、キャリアライフタイム、プロセス評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験_C0699

劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。

を劣化させ、はんだの濡れ性がどうなるかを検証しました。恒温恒湿試験後、電極表面の濡れ性が変化することが分かりました。 測定法：恒温恒湿試験,はんだ濡れ性試験 製品分野：パワーデバイス,LSI・メモリ,電子部品 分析目的：劣化調査・信頼性評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

イメージングスキャナー『Leica BLK360』レンタル

誰にでも扱える設計で簡単操作！重さわずか1kgと軽量なスキャニングシス…

スキャニング：最大測定可能距離60m　360,000点/秒 　　　　　　　　クラス1不可視レーザー使用 ■ケーブル接続不要 ■約40スキャン取得可能なバッテリー ■約100スキャン以上内部メモリに保存可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＳＧＳ

【測定事例あり】EBSD解析の非鉄金属材への適用

当社独自の技術を用い前処理方法を最適化！異種多層の観察・解析が可能

【測定事例】 ■対象：パソコン用の増設メモリ（DRAM）基板 ■部位：パッケージ部品（SOP）のリード部 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ