Schuler社（シューラー）カメラ式金型異物検知、保護

PRカメラベースのモニタリング装置で金型の損傷やプレスのダウンタイムを防止

ビジュアルダイプロテクションは、生産稼働中の金型を保護します。カメラベースのこのシステムは、異物などの危険な状況をリアルタイムで検知し、金型が閉じる前にラインを停止させ、損傷を完全に防ぐことが可能です。これによりリスクを最小限に抑え、コストを削減します。ビジュアルダイプロテクションは多機能かつオープンなシステムなので、他社製のプレス機や他分野へも適用可能です。簡単に後付けができ、適用可能な範囲が広...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イリス 東京本社、大阪支店、名古屋支店

堅牢タブレット『EDGE-PAD PRO』【※事例集を無料進呈】

PR部品取り付け漏れの防止や商品の在庫管理などにお役立ち。ノートPCの強度…

当社で取り扱う、堅牢タブレット『EDGE-PAD PRO』のユースケース についてご紹介します。 部品チェックシステムにおける部品取り付け漏れの防止をはじめ、 遠隔体温モニタリングシステムとして非接触でモニタリングも可能。 また、小売店舗での作業端末として商品の在庫管理や、 ロボティクスコンストラクションクレーン制御でLTE対応・ 長時間稼働といった事例もございます。 【...

メーカー・取り扱い企業： ナラサキ産業株式会社 メカトロソリューション部　機能材料課

FastGateインライン向けＣＶ・ＩＶ測定装置ECV-2500

FastGate　インライン向けＣＶ・ＩＶ測定装置

ＵＳＬ（極浅層<40nm）のイオン注入、低ドース・イオン注入のドース量モニタリング、極薄酸化膜（<20Å）の電気的膜厚測定 SiON 膜，High k膜の誘電率測定、Epi の 抵抗率測定などが可能です。 主な測定・評価項目 ・電気的膜厚（CET/EOT) ・フ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

非接触・非破壊インプラモニター　PMR-3000

インプラ後のドーズ量モニタリングとアニール処理前後のジャンクション深度…

■非接触、非破壊測定 　　●インプラのドーズ量モニタリング 　　●ＰAI深さ測定 　　●ジャンクション深さ測定 ■高感度 ■高再現性、信頼性のあるオペレーション ■全自動・簡単操作 ■１＆２ロードポート及びFOUPオープナー対応 ■Cog...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

水銀プローブCV/IV測定装置『MCVシリーズ』

水銀プローブにより電極の形成が不要！R&Dにおける開発時間の短縮、Lo…

ショットキー構造形成後にCV/IV特性評価を行っておりました。 当製品は、装置自身がゲート電極を持つため、メタルゲート作成なしに 酸化膜やウェハーの電気特性を得ることが可能。プロセスモニタリングによる 素早いフィードバックやR&Dにおける開発時間の短縮、Lowコスト化を 提供します。 【特長】 ■水銀プローブにより電極の形成が不要 ■抜群の再現性 ・ショットキー：0.3...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ハイダイナミックレンジを提供。 ウェハー深さ方向の検出感度を大幅に向上させ、幅広い密度とアプリケーションを カバーすることで、表面近傍では確認ができない深さ方向の...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

表面電荷分析装置 SCA2011

表面電荷分析装置

表面電荷分析装置は、半導体前工程管理とりわけ熱酸化膜、ＣＶＤ膜形成、メタライゼーション、洗浄及びエッチングなどプロセス中に生じた汚染とダメージのモニタリングに最適です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社