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29件 - メーカー・取り扱い企業
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PR主に金型・周辺治工具向けのレーザークラッディング(レーザー溶接)に取り…
出力10Kwのレーザー発振器を有する、レーザークラッディング設備です。南海鋼材では、金型等の受託施工及び、自動システム設備のご相談まで幅広く承っております。 その他、PTA設備も現場で併用している為、スペック比較も対応可能です。 トーチは、平面形状用途のもの及び、凹み形状部対応の可能なものまで取り揃えます。 施行には金属粉末を用います。粉末の販売も一部、取り扱っております。 開発としては、...
メーカー・取り扱い企業: 南海モルディ株式会社(旧:南海鋼材株式会社)
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PRエマルジョン化した含油廃水も20倍まで濃縮可能!コンパクトで狭い場所で…
『含油廃水用UF装置』はチューブ型UF膜を使った油水分離装置です。 少々のキリコやゴミはそのままUFでろ過できますので前処理が要りません。 含油廃水濃縮処理して、NHexを低減させて廃水処理の負担を軽くします。 また、当社は特殊液体の排水処理にも幅広く対応しており、 さまざまな産業・研究機関で活用されています。 【特長】 ■エマルジョン化した含油廃水を10倍~20倍まで濃縮可能 ■プレフィ...
メーカー・取り扱い企業: 日本アブコー株式会社
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【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した解析
像シミュレーションを併用した結晶形の評価
高分解能HAADF-STEM像は、結晶の原子配列を反映した画像であることから、種々の結晶方位に対応したSTEM像をシミュレーションすることにより、多結晶体中の結晶粒間の相対方位や観察像の正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶粒について、EBSD法で得た結晶方位の情報からSTEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF-STEM像と比較した事例を紹介します...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
相マップおよび粒径分布などを得ることで定量的な解釈が可能である。さらに、TEM観察と同一視野で測定できることから、(S)TEM-EDX / EELSと合わせた複合的な解析やin-situ TEMとの併用も可能となる。 【目次】 1.はじめに 2.ASTARを用いたACOM-TEM法 3.ASTARを用いた分析例 4.まとめ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
【要旨】 最先端の二次イオン質量分析(SIMS)装置であるNanoSIMS 50Lは、プローブ径約50 nmのイオンビームと、透過率の高い質量分析系の併用により、従来のSIMSに比べて約2桁高い空間分解能でイメージング測定を行うことが可能である。本稿では、NanoSIMS 50Lの装置の特徴と分析事例を紹介する。 【目次】 1.はじめに 2.分...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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加工を併用することで界面の元素分析が可能
AES分析は最表面(~深さ数nm)の組成情報や元素分布を得る手法ですが、断面加工を併用することで、層構造内や構造界面でも同様の情報を得ることができます。合金層や元素拡散・偏析等の評価が可能であるため、デバイスの故障解析や不具合調査等に有効です。 以下にワイヤボンディングの接合部界面...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【課題解決事例】自動車部品工場でエアコンから水漏れが発生した事例
ドレン管洗浄 「薬品」「高圧水」「バキューム吸引」の3つの作用で洗浄効…
はドレン管の閉塞状況や勾配の影響により、洗浄水が他のエアコンから溢れ漏水させることがあります。 当社では「バキューム吸引」で管内を負圧にすることにより漏水リスクをなくしつつ「薬品」「高圧水」を併用し、より効果的に管内の汚れが除去できるため、安心して作業を任せられると喜んでいただけました。 また、普段目にしない配管内部の状況を確認いただくため、内視鏡による洗浄前後の調査も欠かさないよう努...
メーカー・取り扱い企業: 日本水処理工業株式会社 本社
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採血直後の細胞内RNAの安定化、検体保存・輸送を1本の採血管で <ワー…
(R) RNA 採血管 ・カタログ番号:762165 ※1 ・採血量:2.5 mL ・サイズ:16 × 100 mm ・出荷単位:100 本/ 箱 ※1 BD 社製の採血ホルダー以外と併用した場合、採血管を採血ホルダーから抜く際にBD ヘモガード(TM) キャップが抜ける可能性があります。採血にはBD バキュテイナ(R) セーフティロック(TM) ブラッドコレクションセット(ホルダー...
メーカー・取り扱い企業: 日本ベクトン・ディッキンソン株式会社 微生物検査製品
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2液性エポキシ樹脂の硬化剤成分の構造推定
主に主剤を評価できます。一方、硬化剤の評価については、種類によっては硬化前の状態で測定する必要があります。本資料では、ポリメルカプタン硬化剤を硬化前の溶液状態で測定し、イオン化法(EI法とFI法)を併用することで構造推定した事例を紹介します。 測定法:GC/MS 製品分野:高分子材料・電子部品・日用品 分析目的:組成評価・同定・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせく...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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新品と過酷試験後の成分比較・不明成分の構造推定
特徴的な成分が確認され、MSスペクトルにより精密質量を特定しました。 さらにLC/MS/MS分析を行うことで、フラグメントイオンの情報から構造の推定ができました。 LC/MSとLC/MS/MSの併用により、不明成分の構造推定が可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察
大気中・水溶液中での試料構造変化の可視化
す。 高分子の評価においては、実環境での評価が重要です。今回は環境制御型AFM(原子間力顕微鏡)を用いて、大気中および水溶液中にて基板上の高分子形状を可視化した事例を紹介します。また、データ解析を併用することでポリマー粒子の分散具合を数値化しました。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析
XPSで4層の異なる有機化合物(或いは有機金属錯体)で形成されていると推定された有機EL素子(図1)について、TOF-SIMS分析を行いました。多層構造試料についてはスパッタを併用した深さ方向分析も行われますが、今回は構成成分の結合を壊さずに測定するために、Slope面を作製して各層を露出させました。Alq3, NPD, CuPcと推定される分子量関連イオン・フラグメントイオ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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表面からの測定で、深さ方向の成分分布を確認可能です
ラマン分析では、表面からの測定で深さ方向の成分分布が確認できます。光を透過し易い物質に有効で、断面加工やイオンスパッタエッチングを併用せず非破壊での評価が可能です。 本資料では、有機多層膜の各層について、ラマン3Dマッピングで評価した例を示します。結果より、有機多層膜は四層で構成されていることが分かりました。また、ライブラリデー...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…
emical Analysis とも呼ばれています。 ・固体表面(約2~8nm)の元素の定性・定量が可能 ・化学結合状態分析が可能 ・非破壊で分析が可能 ・深さ方向分布(イオンスパッタを併用)の測定が可能 ・絶縁物の測定が可能 ・雰囲気制御下での測定が可能...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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FT-IRおよびGC-MSによる有機物の同定解析を実施します。
FT-IRで微小サンプルの測定が可能 顕微FT-IRを使用することで、1mm以下の小さなサンプルも高感度に測定することが可能です。測定範囲は最小10μm程度となります。 ●SEM-EDXとの併用 FT-IRやGC-MSは有機化合物を対象とした分析であり、無機物の情報が得られません。 しかしSEM-EDX等の元素分析結果と併せて解析を行うことで、より信頼性の高い評価が可能となります。...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価
STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…
-EDSによる半導体絶縁膜評価」 を紹介しています。 本事例は問題なしの結果でしたが、異常検出も可能です。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本STEMに加えFIBとの併用で、試料のある領域に対して3D構築を行う不良個所特定も得意としております。 実際に紹介いたしますのでお気軽にお声がけいただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP h...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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一般構造物の振動特性試験に!
【疲労試験機 主な特長】 ●高性能CPU搭載により、計測精度、操作性、信頼性および応用性を大幅にグレードアップした振動試験機です。 ●この試験機と長期荷重試験用の架台を併用することで、様々な電線を架線状態での微風振動試験が行え、実線路での振動疲労現象を再現することができます。 ●その他、製品の耐振動特性試験も行えます。 ◎受託試験・分析業務を承ります。 ご興味...
メーカー・取り扱い企業: 日本カタン株式会社
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細胞加工・培養の委託先施設としてご利用いただけるよう、新設備の整ったC…
【その他 こんなお悩みありませんか?】 ■クリニック併用CPCで細胞を加工、培養している 技術者の確保や育成が難しく外部に受託することを検討している ■患者様にもっと負担の少ない治療を提供したいが委託費が高い 高品質かつ委託費を下げられる事業者...
メーカー・取り扱い企業: コージンバイオ株式会社
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HPLC、LC-MS/MSを用いて有機酸分析を実施します。
【特徴】 ●HPLCとLC-MS/MSを併用 HPLCでは分離できない成分や、試料のマトリクスによる夾雑物の影響を受けてしまう成分については、選択性が高く夾雑物の影響を受けづらいLC-MS/MSを用いて測定を行います。 ●最大18項目...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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【分析事例】熱分解GC/MSダブルショット法による添加剤の同定
TG-DTAとGC/MSを用いた複合解析
TG-DTA(熱重量-示差熱)分析とGC/MS分析を併用することで、最適な温度条件を選んで未知の高分子材料及び含有する揮発性有機化合物をそれぞれ同定することが可能です。市販製品のプラスチック部分の熱分解温度を調べ、熱分解温度以下での緩やかな昇温(熱脱着法...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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数μmの深さまで深さ方向分析を行います
XPSは表面敏感な手法でありサンプル表面の評価に広く用いられますが、イオンエッチングを併用することで深さ方向の分析が可能です。 XPSでは深さ方向の組成分布に加えて結合状態の評価も可能なため、装置部材表面の変色の原因調査などに適しています。 本資料ではターボ分子ポンプの羽の変色部に...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XPS:X線光電子分光法 AES:オージェ電子分光法
XPSとAESは表面敏感な分析手法でありサンプル表面の評価に広く用いられますが、イオンエッチングを併用することで深さ方向の分析が可能となります。 深さ方向分析を行うにあたり、測定したい領域やサンプルの材質に応じてXPSとAESを適切に使い分けることが、目的に沿った分析を行う上で重要です。 XPS...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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適切なサンプリングと顕微測定で異物周辺情報の影響を軽減
サンプリングを併用した顕微FT-IR分析が有効な異物の評価事例を紹介します。 下地の影響がほとんど無い電極上異物はフラックスと同定されましたが、プリント基板上異物からは異物由来の情報が取得できませんでした(図1)。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】STEM・EDXデータと像シミュレーションによる評価
STEM像と原子組成の測定結果から結晶構造の評価ができます
試料の測定によって得られた結果と、シミュレーションの併用により、結晶構造の評価が可能です。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石において、HAADF-STEMとEDXの測定によって得られた結果と、各々の測定条件を用いたシミュレーション像の比較から結晶...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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割断サンプルで50nm薄膜を可視化
報を得る手法ですが、試料の断面からAES測定を行って元素分布像を得ることで、層構造を明瞭に評価することが可能です。積層構造の評価やトレンチやホールの内壁の元素分析に加え、機械加工やイオンビーム加工を併用することで、薄い合金層や元素の拡散・偏析等も評価可能です。 本事例ではSi基板上に成膜された薄膜について、AES分析を用いて評価したデータをご紹介します。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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正極合剤の各種部材の分散の評価
の抵抗測定を行うことが可能です。抵抗値の異なる部材で構成されている電極合剤では、各種材料の混合具合また電気的活性、不活性の活物質の確認が出来る可能性があります。また、AFM等の形状測定、元素分析等を併用することで総合的な評価が可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…
XPSナロースペクトルを取得し、それぞれC1sスペクトルの状態解析を行うことで炭素の結合の種類と定量値がわかりました。 接触角測定と併用することで撥水性や親水性評価に活用可能です。 この事例では「XPSによる撥水膜の分析」を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本XPSに加えGD-OES、オージェ...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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波形解析・Arスパッタによる結合状態の深さ方向分布評価
XPSでは酸化成分(酸素と結合している成分)・金属成分(金属と結合している成分)などの結合状態の評価が可能です。また、アルゴンイオンスパッタリングを併用することにより、深さ方向の結合状態の評価も可能です。 ※ ステンレス表面の不動態皮膜(厚さ数十nm~数百nm程度)について、上記測定を行った結果、(1)表面側にFe酸化成分が多い、(2)Cr酸化成...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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適切なサンプリングで異物周辺情報の影響を軽減
ラマン分光分析は微小異物の定性分析に有効な手法です。異物の下地の情報も併せて検出してしまい評価が困難となる場合には、サンプリングを併用することにより測定が可能となります。 下地の影響のほとんど無い電極上異物はフラックスと同定されましたが、プリント基板上異物は異物由来の情報が取得できませんでした(図1)。下地の影響の無い無機結晶上...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【資料DL可:XPS/AES/AFM】表面分析に関する事例集2
変色調査や表面改質評価などXPS、AES、AFMによる事例を厳選しまし…
・元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能 ・分析事例 ■XPSによるPET表面改質評価 〈特長〉 ・試料の最表面(数nm)の元素情報が得られる (Arイオンスパッタの併用により深さ方向の分析も可能) ・構成元素の結合状態の情報が得られる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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