• 板厚0.05ミリからの薄肉溶接技術!ベローズ管や熱交換器などに 製品画像

    板厚0.05ミリからの薄肉溶接技術!ベローズ管や熱交換器などに

    PR真円に自信あり!溶接強度が高いためベローズ管や熱交換器、自動車のチュー…

    フジ精工の『超薄肉溶接パイプ』は、溶接強度が高いため、軽量化・耐久性向上を図ることができます。 フルオーダーメイド式のため、ご希望のサイズを製作することができます。 【用途 例】 ■ベローズ管 ■熱交換器 ■マフラーテール ■長尺管 ★ぜひ一度ご相談ください。 ※詳細はPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。...※詳細はPDFをダウンロードいただ...

    メーカー・取り扱い企業: フジ精工株式会社

  • 解説資料『高周波焼入はやり方次第で変わる(材質編)』 製品画像

    解説資料『高周波焼入はやり方次第で変わる(材質編)』

    PR鋼材別の特徴、合金元素の特性、前処理方法などの知識を明快に解説。困りご…

    高周波焼入の設備設計・製作や試作・受託加工などを手がける当社では、 資料『高周波焼入はやり方次第で変わる(材質編)』を進呈中です。 高周波焼入が可能な材料例や前処理方法といった基礎知識をはじめ、 各種合金元素の添加量が増した際の特性変化や、焼入性倍数について紹介。 他にも、焼入品質の低下や不具合発生につながる 現象に関する情報についても簡潔にまとめています。 【掲載内容】 ...

    メーカー・取り扱い企業: 富士電子工業株式会社

  • 【分析事例】代表的な材料・目的別のTDS解析例 製品画像

    【分析事】代表的な材料・目的別のTDS解析

    TDS:昇温脱離ガス分析法

    中で試料を等速昇温するため微量な脱ガス(単原子層レベル)についても温度依存性を確認することができます。また一部の成分については脱離したガスの分子数も算出可能です。 代表的な材料別にTDSを適用したをご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ナノシミュレーション 製品画像

    ナノシミュレーション

    Nano-simulation

    おり、機密性の高いデータの取り扱いが可能 ・分析・AIの専門家の知見を活かしたシミュレーションが可能 ■対応計算手法 ・量子化学計算 ・第一原理計算 ・分子動力学計算 この資料では、適用や原理、データなどを紹介しています。 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 走査型マイクロ波顕微鏡法_SMM 製品画像

    走査型マイクロ波顕微鏡法_SMM

    Scanning Microwave Microscopy

    相関した信号が得られるため、仮定のもとに定量 評価(半定量)が可能 ・AFM像の取得も可能 ・Si, SiC, GaN, InP, GaAs 等の各種半導体が計測可能 この資料では、適用や原理、データなどを紹介しています。 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    X線CT法

    X-ray Computed Tomography

    は30 kV~160 kVの間で設定できるため、有機材料から電子部品まで幅広く対応可能。 ・専用ステージにより、引張/圧縮や冷却/加温した状態で試料のX線CT測定が可能。 この資料では、適用や原理、データなどを紹介しています。 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

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  • 質量分析を利用した遺伝子解析法 製品画像

    質量分析を利用した遺伝子解析法

    マスアレイ法

    (A/T/G/C)の検出に特化した質量分析が可能 • 目的別に検出可能な標的遺伝子が予めデザインされている解析ツールを多数保有 • 解析ツールのオリジナルデザインも可能 この資料では、適用や原理、データなどを紹介しています。 詳しくは、お問い合わせください。...

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  • 研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」 製品画像

    研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」

    お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

    のご相談から承っております。 ・分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。 ・分析に関するお問い合わせ・お申し込みはお電話やお問い合わせより、受け付けております。 【受託分析データ】 ○TEM分析 原子レベルまで観察 ○SIMS分析 不純物の濃度を評価 ○XRD分析 X線で結晶を特定 その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 生体材料のイメージング質量分析法(IMS)の受託分析 製品画像

    生体材料のイメージング質量分析法(IMS)の受託分析

    TOF-SIMSとMALDI-MSの両方を組み合わせた脂質のイメージン…

    意とし、高い面分解能でイメージングが可能です。一方、MALDI-MSでは高質量成分を得意とし、イメージングが可能な脂質の種類が豊富です。ここではマウス精巣中における脂質のイメージング質量分析の結果をに、TOF-SIMSとMALDI-MSで測定した事を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • よくあるご質問(FAQ) サンプルについて 製品画像

    よくあるご質問(FAQ) サンプルについて

    サンプルについて、よくお問い合わせいただくご質問を、FAQ形式でまとめ…

    、祝日の受け取りは可能ですか? →土、日、祝日にMSTに到着する場合は、配送の手配が必要ですので事前に伝票番号を担当までご連絡ください。 ◆サンプルの固定方法を教えてください。 →代表的なは、別ページ「サンプルの送り方」をご覧ください。 詳細はinfo@mst.or.jpまでお問い合わせください。 ◆サンプルはどのくらいの量必要ですか? →分析手法・目的により異なります。担...

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  • 『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント 製品画像

    『TEMの基礎』『TEMの応用と事』※希望者全員にプレゼント

    高分子や半導体など、幅広い分野の研究開発に活躍するTEM(透過電子顕微…

    た試料に電子を照射し、 試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 MSTでは、TEMの特徴や試料作製方法など基礎知識を掲載した『TEMの基礎』と 代表的な分析事や他手法との複合解析などを掲載した『TEMの応用と事』を進呈中! 写真や図を用いてわかりやすく紹介した資料です。 【掲載内容(一部)】 <TEMの基礎>  ■TEM、STEMで何...

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  • 【分析事例】表面分析による品質管理 製品画像

    【分析事】表面分析による品質管理

    表面の付着成分(ポリジメチルシロキサンなど)をTOF-SIMSで評価で…

    TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析法)は、最表面の有機物・無機物を感度よく評価可能な手法で、製品の様々な品質管理を行うときの分析手段として利用することができます。えば、製品保管時の表面付着物の定期的な確認、製品に剥離・変色などの不具合品が発生した際の原因調査、製作条件を変えた前後での着目成分の変化などです。本資料では、付着成分として代表的なポリジメチルシロキ...

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  • 【分析事例】化合物へテロ接合界面歪の可視化 製品画像

    【分析事】化合物へテロ接合界面歪の可視化

    FFTM法による格子像解析

    方向の格子歪みの解析、(3)結晶面間隔分布、結晶面方位分布の解析、(4)データ分布のヒストグラム表示、(5)空間分解能5nmで0.5%の歪の検出、が可能です。 化合物ヘテロ接合多層膜試料に適用したを示します。...

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  • 【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去 製品画像

    【分析事】ウエットエッチングによる有機付着物除去

    表面汚染を除去してXPSによる評価を行います

    パッタによるダメージにより膜本来の組成,結合状態が評価できない場合があります。Arイオンスパッタを使用せず、表面酸化層をウェットエッチングを用いて除去することで、有機付着物由来のCの影響を低減させたをご紹介します。...

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  • 【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価 製品画像

    【分析事】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価

    ppmオーダーの微量金属も評価可能です

    析法)やICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析法)などによって評価可能ですが、価数・化学結合状態などといった存在状態の評価には放射光を用いたXAFS(X線吸収微細構造)測定が有効です。本資料では測定としてセラミックス材料に微量含まれるCeの価数を評価した事をご紹介します。...

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  • 【分析事例】X線吸収・発光分光によるバンド構造評価 製品画像

    【分析事】X線吸収・発光分光によるバンド構造評価

    材料の価電子帯・伝導帯・ギャップ内準位の詳細な情報が得られます

    光を用いたX線吸収分光(XAS)とX線発光分光(XES)の同時測定からはバンド構造の全容が把握できると共に、それらを構成する元素・軌道の帰属といった詳細な情報も得ることが可能です。 本資料では測定としてGaN基板のXAS・XESスペクトルをご紹介します。...

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  • 【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価 製品画像

    【分析事】Cu表面のXPSによる酸化状態評価

    Cuスペクトルの成分分離、定量、膜厚算出

    Cu2p3/2スペクトルとCuオージェスペクトル等の解析から、Cu表面の結合状態・定量評価・膜厚評価が可能です。 主な応用として、Cu配線のCMP処理・洗浄の評価、Cu電極の錆・変色調査が挙げられます。 各種処理を施したCu表面状態および酸化膜厚についてまとめます。 (クリーンルーム環境下にて処理し、直後に測定を行...

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