回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催

多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易　…

『SE-2000』は、薄膜の膜厚・屈折率を“非接触”で高精度に測定できる回転補償子型の分光エリプソメータです。 ユーザーフレンドリーな解析ソフトを備えており、解析作業が容易。 深紫外から近赤外領域まで幅色い波長領域の測定に対応しています。 材料の組成比、異方性、Mueller Mat...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

分光エリプソメーター GES5E

薄膜光学特性を非破壊で測定！ 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…

日本セミラボの分光エリプソメーター『GES5E』は、従来の光学測定器では不可能だった薄膜光学特性の測定を非破壊で実現しました。 薄膜、多層膜の膜厚、各層の屈折率（N,K値）波長分散を算出。研究開発からインライン生産品...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

【初回測定無料キャンペーン】分光エリプソメーター Auto SE

Auto SEによる膜厚・光学定数測定 初回3サンプルまで無料で実施！…

■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■ 　　11月中にお申込いただいたお客様限定！！ 　　Auto SEによる分光エリプソメトリ測定(膜厚・光学定数測定)を 　　初回3サンプルまで無償で測定を実施いたします。 ■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■ 新規開発の光学モデルによりDLCの膜質評価を非破壊・非接触で行います。 各種製法により成膜され...

メーカー・取り扱い企業： ナノテック株式会社

自動薄膜計測装置『DLC Analyzer』

薄膜の膜厚、光学定数などの物質特性を精度良く測定！自動薄膜計測装置

【ご案内】 ■基準片 ラインアップ ・分光エリプソメータ用DLC基準片 ・スクラッチ試験用DLC基準片 ・スクラッチ試験のダイヤモンド圧子確認用試験片 ■各種試験機用 消耗品 ・各種ダイヤモンド圧子 ・摩擦磨耗試験用ボール ・ダイヤモ...

メーカー・取り扱い企業： ナノテック株式会社

技術資料ULVAC TECHNICAL JOURNAL No76

無料プレゼント中！真空に関する最新技術資料 No.76です。【アルバッ…

O TFT 関連成膜技術のOLED パネルへの適用をはじめ、 真空計｢G-TRAN シリーズ｣マルチイオンゲージ「SH2」の開発や、 大型振り子バルブ「VFR シリーズ」の開発、自動高速分光エリプソメータ ｢UNECS-3000A｣の開発などを掲載しています。 今なら最新技術資料を無料でプレゼント中です。 【掲載内容】 ■InGaZnO TFT 関連成膜技術のOLED パネル...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アルバック／ULVAC, Inc.