• シリコンラバーヒーター 【用途事例集進呈中】 製品画像

    シリコンラバーヒーター 【用途事例集進呈中】

    PR樹脂加熱や加熱加工、複雑形状加熱、部分加熱など!事例ごとに適応製品もご…

    当資料では、「シリコンラバーヒーター」などの導入事例を 用途別にご紹介しております。 機械油圧ユニット関連保温や粉体製造機械器具関連保温、 液体注入ディスペンサー保温用ヒーターなどを掲載。 従来の問題点や改善点のほか、各事例ごとに適応製品もご紹介しており、 導入検討の際などに、参考にしやすい一冊となっております。 【掲載事例(一部)】 ■機械油圧ユニット関連保温 ■粉体...

    メーカー・取り扱い企業: オーエムヒーター株式会社

  • 【溶解炉事例】試験片・テストピースの製作を内製化 製品画像

    【溶解炉事例】試験片・テストピースの製作を内製化

    PR破断試験片・引張試験片・衝撃試験片・発光分光試験片やテストピースなど …

    試験片用溶解炉はインダクション(高周波誘導加熱)で金属を溶解後 カーボン型や銅鋳型、鉄鋳型に注ぎ入れて形にします。 型を変更するだけで、さまざまな形状の試験片を製作することが可能です。 また切削加工で出るダライ粉からの製作も可能です。 鉄系・非鉄系合金など、高周波誘導加熱又はアークで溶解可能な金属は全て対象です。 その他金属の特性に合わせてオプション機構も取り付けられます。 ■...

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    メーカー・取り扱い企業: 吉田キャスト工業株式会社

  • ランプ加熱試験(赤外線照射試験) 製品画像

    ランプ加熱試験(赤外線照射試験)

    雰囲気温度に対して試料表面の温度が高くなるような環境を再現できます!

    ランプ加熱試験(赤外線照射試験)についてご紹介します。 環境試験槽に試験試料を設置し送風状態で雰囲気温度を制御しながら、 赤外線ランプを最大7個使用し光を照射することで、試料表面の温度センサー の温...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 高温ラッチアップ試験 製品画像

    高温ラッチアップ試験

    高温状態での動作が要求されるデバイスに!高温でのラッチアップ試験をご紹…

    【仕様】 ■温度範囲:50℃~150℃ ■加熱方式:温風による加熱  (フィクスチャボード上のソケット・デバイス等を熱風発生器で加温) ■制御方法: デバイス付近にセンサーを設置し温度調節器で制御(温度センサ:Pt100)  事前確認とし...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • プラスチック成形品の歪、複屈折評価 製品画像

    プラスチック成形品の歪、複屈折評価

    複屈折位相差(歪)や流れ方向・応力方向(主軸方位)の視覚化が可能です!

    不良の原因となります。 二次元複屈折測定システムは、その応力の指標である複屈折位相差(歪)や 流れ方向・応力方向(主軸方位)の視覚化が可能です。 例として、ポリスチレン(PS)成形品を加熱条件で比較した複屈折評価を ご紹介します。 【装置原理】 ■複屈折を持つ透明体に光を当てると、その偏光状態が変化する性質がある ■複屈折測定装置を使用することで、偏光情報を専用の偏光イメ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • イオンクロマト分析事例(固体表面) 製品画像

    イオンクロマト分析事例(固体表面)

    プリント基板などの平板試料の相対比較に好適!液体試料と固体表面の分析の…

    【固体表面の分析 概要】 ■固体試料は別途前処理を検討 ■例えば、プリント基板の場合、試料を抽出液に浸漬し、加熱処理等により  試料表面のイオン性成分を抽出液に抽出 ■抽出液を回収し、希釈やろ過などの溶液調整後、装置に導入し測定を行う ■測定結果は、単位面積あたりの検出量[μg/cm2]または試料抽出液...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ディスクリート半導体のIOL試験 製品画像

    ディスクリート半導体のIOL試験

    小型のディスクリート半導体を対象としたIOL試験やパワーサイクル試験に…

    い、通電時のデバイス自身の発熱により 温度変化によるストレスをデバイスに加えます。 通電OFF時(冷却時)はファンによる強制冷却も行います。 【調整条件】 ■上昇温度:125℃ ■加熱時間:5分 ■冷却時間:5分 ■ファンの駆動時間:2分 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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