パイロットのセラミックス『微細孔セラミックス』

PR微細孔セラミックス：最小孔径Φ0.02mmの制作が可能

一般的にドリル加工やレーザー加工では、直径1mm未満の細孔の場合、 アスペクト比（深さ/内径）が10以上の深孔は困難とされています。 弊社は高度な押出成形でアスペクト比200以上の物まで製作可能です。 また、自由な肉厚で製作でき、変形や偏肉が生じやすい「薄肉パイプ形状」であれば 肉厚0.1mm、長さ100mm（外径Φ1.3mm時）の製作も出来ます。 材質はアルミナ、ジルコニア...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パイロットコーポレーション

『光半導体・オプトエレクトロニクス製品』

PRオリジナル半導体メーカー認定。正規販売代理店および製造メーカーとして、…

当社は、70社を超える半導体メーカーから認定を受けており、 正規販売代理店として製品の提供を行い、製造メーカーとして製品の継続供給も行っております。 東芝、ams OSRAM、京都セミコンダクターなど様々なメーカーの オプトエレクトロニクス製品を豊富に在庫保有しており、 安定した継続供給を実現する体制を整えています。 【特長】 ■フォトカプラ、可視光LEDなど幅広い製品の在庫を保有 ■複数のパ...

メーカー・取り扱い企業： Rochester Electronics, Ltd.

事業案内　検査事例の紹介「燃料電池・二次電池」

被写界深度が深いため、セパレータのように凹凸形状であっても安定した検査…

【特徴】 ◯被写界深度が深いため、セパレータのように凹凸形状であっても安定した検査が可能 ◯欠陥検査だけでなく、電極部や外形などの寸法検査も可能 ◯地合変化が著しい対象物であっても安定して検出 ◯電極などの黒地の物の、スジやピンホールの検査が可能 ●詳しくはお...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス

事業案内　検査事例の紹介「フラットパネルディスプレイ」

テクノスの国際特許技術「チェスマジック」により、モアレを極小化して安定…

ることが可能 ◯被写界深度が深く、搬送中の反りの影響を受けにくく、表面と裏面を同時に検査 　内部に発生する欠陥の検出も可能 ◯テクノスの国際特許技術「チェスマジック」により、モアレを極小化して安定した検査が可能 ◯素材からパネルまで各工程の検査が可能 ◯スピンコーターやダイコーターで発生するコータームラの検査が可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス

事業案内　検査事例の紹介「鉄鋼・非鉄」

外壁材などに使用されるエンボス加工されたものでも、安定した検査が可能 …

【特徴】 ◯外壁材などに使用されるエンボス加工されたものでも、安定した検査が可能 ◯素材の地合の影響を受けずに、微妙な光沢のムラを検出 ◯カメラを遠方に設置できるので熱の影響を受けずに検査可能 ◯光沢面の検査が可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタロ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス

事業案内　検査事例の紹介「ガラス・樹脂板」

従来方式の6000倍の被写界深度により、表裏から内部異物を一度で検査 …

◯成膜ガラスに発生するムラや、樹脂板などに発生する液ダレなどの 　低コントラスト欠陥の検査が可能 ◯表面加工（例：マット加工）されたガラスや樹脂板などの、 　地合変化が著しい対象物であっても安定して検出可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス

事業案内　検査事例の紹介「フィルム」

アクティブ・ナビ機能を搭載することにより、周期欠陥を発見することが可能…

【特徴】 ◯従来方式の6000倍（50μm欠陥検出時）の被写界深度で、 　フィルムのバタツキに影響されず安定した検出が可能 ◯アクティブ・ナビ機能を搭載することにより、周期欠陥を発見することが可能 ◯薄膜のオングストローム単位の薄ムラを検出可能 ◯人間の100倍以上の精度でムラやスジを検出 ◯フィ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス

事業案内　検査事例の紹介「紙・合成紙・繊維・メッシュ」

毎分１００００メートルで流れる製紙ラインでも検査が可能

【特徴】 ◯毎分１００００メートルで流れる製紙ラインでも検査が可能 ◯アクティブ・ナビ機能を搭載することにより、周期欠陥を発見 ◯不織布や、合成繊維などの地合変化が著しい対象物であっても安定して検出可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス

事業案内　検査事例の紹介「電子材料」

光沢の影響や全体の反りの影響を受けずに微細欠陥の検出が可能

【特徴】 ◯光沢の影響や全体の反りの影響を受けずに微細欠陥の検出が可能 ◯地合変化のばらつきを押さえ微細欠陥を強調、安定検査 ◯淡色濃色問わず、独自の画像処理技術で検査 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス

事業案内　検査事例の紹介「半導体」

300mmウェハを１面4秒で検査可能

【特徴】 ◯300mmウェハを１面4秒で検査可能 ◯ソーマークも安定して検出可能 ◯端面エッジのクラック、カケも検査可能 ◯表面はもちろん粗目面も対応可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス

事業案内　検査事例の紹介「レンズ・プリズム」

目視でも確認しづらいコーティングムラや脈理、ヤケなどの検査が可能

の6000倍（50μm欠陥検出時）の被写界深度により、 　表面から内部、裏面を一度で検査 ◯目視でも確認しづらいコーティングムラや脈理、ヤケなどの検査が可能 ◯ワークを回転させ検査を行うことで安定した光学条件で検査が可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス