• レーザー損傷閾値(LIDT)測定の代理店始めました! 製品画像

    レーザー損傷閾値(LIDT)測定の代理店始めました!

    PR予期せぬレーザー損傷を避けるためのレーザー損傷試験をお勧めします

    当社では、レーザーオプティクスの損傷を調べることが可能。 顧客に合わせてレーザーへの耐力の測定及び検査など様々な試験に対応し、 損傷原因や欠陥の特定・オプティクスの寿命推定などができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■試行錯誤の手間の削減 ■オプティクスの寿命推定が可能 ■オプティクスの品質検査(良品、不良品の判別検査) ■研磨、コーティングの最適化 ■損傷原因や...

    メーカー・取り扱い企業: CBCオプテックス株式会社

  • パワーモジュール材料評価システム ASU/PM-Lifetime 製品画像

    パワーモジュール材料評価システム ASU/PM-Lifetime

    PR次世代パワーモジュール実装材料の実装後の信頼性を、統計的シミュレーショ…

    ASU/PM-Lifetimeは、パワーモジュール実装信頼性評価を効率的に行うためのシステムであり、材料開発やモジュール設計を強力に支援します。 本システムでは、温度サイクル/パワーサイクル試験時の接合材やワイヤボンディングの寿命評価や、実装信頼性に対するモジュール寸法や材料物性などの因子の影響度を評価することができます。パワーモジュール評価専用にユーザーインターフェースが整えられているため扱い...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社先端力学シミュレーション研究所

  • 知っておきたいフラッシュ製品の寿命予測(2) 製品画像

    知っておきたいフラッシュ製品の寿命予測(2)

    高機能ページベースFTL技術により、MLCタイプのNANDフラッシュ搭…

    GB - 960GB)  * SDカード  : S-45シリーズ (4GB - 128GB)  * microSDカード:S-45uシリーズ (4GB - 64GB) ※ 知っておきたい寿命予測(1)(3)もご参照ください。...

    メーカー・取り扱い企業: スイスビットジャパン株式会社

  • U-500/50/56 eUSB USB3.1内蔵型USBメモリ 製品画像

    U-500/50/56 eUSB USB3.1内蔵型USBメモリ

    寿命監視はもちろん、セキュリティ機能も装備可能な高速・高書換え耐性モジ…

    Swissbit eUSB「U-500/U-56/U-50シリーズ」は、設置環境-40℃~+85℃までの温拡仕様を考慮し、高い振動・衝撃耐性のモジュール型USBフラッシュメモリです。 高度なフラッシュメモリの制御アルゴリズムを搭載したSLC NANDフラッシュと高性能コントローラ、産業用途に特化した閾値設定から厳選した機構部品を搭載し、さらにページベースFTLにより、高い書換え耐性とパフォーマン...

    メーカー・取り扱い企業: スイスビットジャパン株式会社

  • 知っておきたいフラッシュ製品の寿命予測(1) 製品画像

    知っておきたいフラッシュ製品の寿命予測(1)

    低コストで高い信頼性と驚異の書き換え寿命! WAFを極限まで減らし、S…

    タ管理の構造など 数百の条件が関わり その数値が変化します。 さらにIOPSレートにも影響を受け、WAF値が10の場合、ストレージ内部の消去回数は外部データ量に対して10倍になり、NAND単体での寿命予測に対して10倍速く寿命を迎えてしまうことになります。 ...

    メーカー・取り扱い企業: スイスビットジャパン株式会社

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