• 熱伝導率の高い金型材なら『ベリリウム銅』がオススメ! 製品画像

    熱伝導率の高い金型材なら『ベリリウム銅』がオススメ!

    PRプラスチックの成形サイクルタイムを冷却時間の短縮で実現!さらに温度ムラ…

    金型用材料『ベリリウム銅』は、高熱伝導率を持ち、さらに耐摩耗性に優れた高強度な銅合金材料です。 冷却時間のかかるエンジニアプラスチック(エンプラ)の成形でも、高熱伝導率によりサイクルタイムの短縮を実現。 また、大物金型によくある冷却バランスの悪さも、温度ムラなく冷やすことができるため 成形時の変形が起きにくく、不良率の低減にもつながります。 (一般的な鉄鋼製との比較で寸法変形量1/...

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    メーカー・取り扱い企業: NGKファインモールド株式会社

  • スクリュー製品の肉盛り修復、強度アップ! 製品画像

    スクリュー製品の肉盛り修復、強度アップ!

    PR摩耗、破損したスクリューに、高合金パウダーを肉盛り! 形状復元や耐摩…

    摩耗、破損したスクリューはありませんか? 強度不足でお悩みではありませんか? そこで! 当社のオリジナルシステム、「肉盛りくん」により、プラズマアークまたはレーザー光を用いて高合金パウダーを肉盛りすることによって、損傷した部材の形状復元や強度UPすることができます。 決まって摩耗する部位など、肉盛り補修すれば何度も使えますし、製品を作り直すより、必要な部位のみに高合金パウダーを肉盛...

    メーカー・取り扱い企業: 南海モルディ株式会社(旧:南海鋼材株式会社)

  • 海外製部品・製品 評価サービス 製品画像

    海外製部品・製品 評価サービス

    海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに…

    存試験 ・高度加速寿命試験 ・プリコンディション ・ホットオイル試験 ・In-situ常時測定 ・イオンマイグレーション試験 ・エレクトロマイグレーション試験 ■評価試験 ・接合強度試験  プル/シェア試験 ・機械的強度試験  振動・衝撃試験、落下試験、圧縮強度・ズレ強度 ・ESD/Latch Up/CDM試験 ・はんだ濡れ性試験 ・電気特性計測 ・塩水噴霧試験 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • FT-IRによる樹脂硬化度の測定 製品画像

    FT-IRによる樹脂硬化度の測定

    接着剤の硬化反応の進行(硬化度)をモニターすることが可能!

    測定の手順は、未反応材料と100%反応後の材料のスペクトルを 比較して、変化する領域を確認します。 未反応材料の硬化度を0%、反応後材料の硬化度を100%とし、測定試料 スペクトルのピーク強度を内挿し、反応率(硬化度)を求めます。 【硬化度測定の手順】 ■未反応材料と100%反応後の材料のスペクトルを比較して、  変化する領域を確認 ■未反応材料の硬化度を0%、反応後材料の硬...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • アイテス 装置一覧 製品画像

    アイテス 装置一覧

    アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

    最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析  形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工 ■信頼性評価試験  信頼性評価試験・ESD/ラッチアップ試験・強度試験・光学特性 ■物理解析/化学分析  物理解析・表面分析・化学分析...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面 製品画像

    【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面

    各元素の分布を2次元的に見ることが可能!多層状の試料の分析の際にも有効…

    Cuパッドの接合界面におけるEDSによる分析事例をご紹介いたします。 金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析では、各特性X線の強度 (カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出。金属間化合物等は 算出された濃度比により、形成された化合物を推定することが可能です。 また線分析では、SEM画像で指定した線状の各元素の...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • HDPE・LDPE比較分析 製品画像

    HDPE・LDPE比較分析

    材料構造・材料特性の解析や、不具合、劣化現象なども様々な分析手法から考…

    【HDPE・LDPEの特長】 ■高密度ポリエチレン(HDPE)  ・枝分かれ構造が少ない  ・結晶化度が高い  ・透明度は低い  ・機械強度、耐熱性、耐薬品性に優れている ■低密度ポリエチレン(LDPE)  ・枝分かれ構造が多い  ・結晶化度が低い  ・透明度が高い  ・柔らかく加工性に優れている ※詳しくはPDF資料を...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 静電破壊した橙色LEDの不良解析 製品画像

    静電破壊した橙色LEDの不良解析

    良品と静電気(ESD)破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…

    当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。 ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。 「良品と静電気(ESD)破壊品の輝度と特性比較」や「エミッション 顕微鏡に...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ナイロン6.10の構造解析 製品画像

    ナイロン6.10の構造解析

    特長を当社のFT-IR、熱分解GC-MSを使用して分子レベルで解き明か…

    アイテスでは『ナイロン6.10の構造解析』を行っています。 ナイロンはしなやかさを備え、絹に近い感触を持ち、その一方で、 「鋼鉄より強く、クモの糸より細い」という天然繊維にない高い強度や 耐久性を持ちます。 その特長を当社のFT-IR、熱分解GC-MSを使用して分子レベルで 解き明かしていきます。 【ナイロン6.10 界面重合反応機構】 1.塩素の電子吸引により...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ 製品画像

    顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ

    太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

    PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • エネルギー分散X線分光法(EDS) 製品画像

    エネルギー分散X線分光法(EDS)

    特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…

    性分析(点分析)  ・測定されたスペクトルの特性X線がどの元素の特性X線エネルギーに  対応するかを調べることで、元素の種類を調べることができる ■金属間化合物の半定量分析  ・各特性X線の強度(カウント数)を調べることで、含有元素の  濃度を算出することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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  • 【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します 製品画像

    【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します

    不具合の原因を化学の視点で解決!化学、および反応機構でアプローチする方…

    クラック、変色、剥離、変形、物性強度低下など、製品、 部材などに発生する不具合は様々です。 その多くは、製品を構成する材料に原因がある場合が多く、 その材料を分析調査することで解決することがあります。 当資料では、何が...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 樹脂の変質劣化をFT-IR分析で確認してみませんか? 製品画像

    樹脂の変質劣化をFT-IR分析で確認してみませんか?

    有機分子団(官能基)の吸収波長を検出し分析します!

    イテスでは、樹脂の変質劣化を確認する「FT-IR分析」を 行っております。 樹脂の劣化は、目に見える変色もあれば、見えない変質もあります。 変色では外観変化で把握できますが、見えない変質は強度低下に繋がり、 様々な不具合の起点となります。 IRによる分析は、その変質による分子構造変化を把握する事が可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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  • 顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ 製品画像

    顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ

    太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

    PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...

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