半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』

PR±0.5％以下の測定精度で、水質管理の信頼性を向上。評価結果などの紹介…

『UPW UniCondセンサ』は、大手半導体メーカーとの共同開発により 堅牢な構造と高度な温度補正機能を備えた比抵抗計です。 環境温度やプロセス温度の変化による測定値の変化や 信号ノイズを防ぎ、高い温度補償比抵抗精度を実現。 半導体分野における水質の正確な把握と歩留まりの向上に貢献します。 【特長】 ■±0.5％以下の測定精度を実現 ■ノイズと水質変化による干渉を区別し、高...

メーカー・取り扱い企業： メトラー・トレド株式会社

ケーブルテスター ＜HVX高電圧テストシステム＞

PRPCベースの高電圧ケーブルテスターで、結線内容、不良内容をグラフィカル…

ケーブルテスター「HVX高電圧テストシステム」は、単純なケーブルから、複雑なハーネスケーブルまで、瞬時に検査が出来ます。 PCベースのケーブルテスターの為、結線状態を、グラフィカルに表示して、不良個所を的確に見つける事が出来ます。 また、不良レポートもグラフィカルに出力する事が出来ます。 高電圧テストではDC 10V～1500V, AC 10V～1000V(実効値)で選択でき、様々な漏れ電流の異...

メーカー・取り扱い企業： イーグローバレッジ株式会社 ＭＩ本部

Navitas GaN Power IC構造解析レポート

製造プロセスフロー概要およびGaNトランジスタ、抵抗と静電容量の構造を…

当社では、『Navitas GaN Power IC(NV6117&NV6115)構造解析レポート』を ご提供しております。 NV6117とNV6115の低耐圧トランジスタ、抵抗素子、静電容量素子および GaNエピ層の構造は、同構造と推測されるため、サンプルを使い分けて 解析しています。 【レポート内容】 ■600V GaN製品の比較(NAVITAS、GaN S...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エルテック

SiC MOSFET構造解析、プロセス、デバイス特性解析レポート

東芝デバイス&ストレージ SiC MOSFET(TW070J120B)…

。 プロセス・デバイス特性解析レポートでは、構造解析結果に基づき、 製造プロセスフローの推定、フォト/マスキングのプロセス工程数の見積、 N-エピ層(ドリフト層)のドーピング濃度分析、オン抵抗解析やブレークダウン 電圧の解析を行っています。 【解析のポイント】 ■構造解析レポート 　・SiC-MOSFETの平面レイアウトおよび断面構造を明らかにしている 　・本製品の特長であ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エルテック

LTM4700 uModuleレギュレータ構造・実装解析レポート

優れた放熱パッケージ技術を採用し、その除熱回路を解析！

【Table of Contents】 1．エグゼクティブサマリー 2．パッケージ外観 3．断面観察 4．平面観察 5．熱マネージメントと熱抵抗の推定に関する考察 6．Appendix ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エルテック