• 【書籍】プラスチックのリサイクルと再生材の改質(No.2238) 製品画像

    【書籍】プラスチックのリサイクルと再生材の改質(No.2238)

    PR【試読できます】】先行企業、自治体、業界団体のプラスチックリサイクルの…

    書籍名:プラスチックのリサイクルと再生材の改質技術 --------------------- ★ 複合プラスチックのリサイクル法! ★ リサイクルによって低下する物性、加工性の改善法! ■ 本書のポイント 国内外の規制・戦略動向、リサイクル技術の開発トレンド     ケミカル/マテリアルリサイクル技術     再生プラスチックの物性改善と品質管理     リサイク...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社技術情報協会

  • 『紫外線洗浄・改質ガイド』※仕組、評価方法、アプリケーション例も 製品画像

    『紫外線洗浄・改質ガイド』※仕組、評価方法、アプリケーション例も

    PR電子部品製造等における洗浄工程の改善ヒントに!初心者にもわかりやすく解…

    「紫外線による洗浄・改質技術」は、電子部品、半導体、光学製品などの 製造プロセスで幅広く活用され、ガラス、樹脂、金属などの各種素材に 密着度や親水性の向上、濡れ性改善などの様々な効果を生み出す技術です。 【紫外線洗浄改質の特徴】 ・大気中での処理が可能なドライプロセス ・製品表面へのダメージが極めて少ない(材料・条件による) ・様々な形状や大きさの製品に対応可能 『紫外線洗浄...

    • リーフレット 洗浄と改質rev1.png

    メーカー・取り扱い企業: 千代田交易株式会社

  • 【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析

    TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評…

    ポリイミドは非常に耐熱性が高く電気絶縁性も優れていることから、電子部品をはじめとして様々な分野で用いられている材料です。表面改質を行うことで他の材料との密着性を高めることができることから、改質層の状態を把握することが重要です。今回、有機成分が壊れにくいスパッタ条件にてTOF-SIMS測定を行い、深さ方向にポリイミド成分を評価...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

    高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

    半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分解能なXPSスペ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査 製品画像

    【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査

    TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の最表面の評価…

    細胞培養シャーレの表面では、細胞の密着性(接着性)を高めるために、疎水性のプラスチック表面を親水性に変える処理が行われています。今回、親水処理を行ったシャーレの表面についてXPS,TOF-SIMSで評価した結果、OH,CHOが増加していることがわかりました。XPSで定量的な評価を行い、TOF-SIMSで定性的な評価を行うことで、表面がどのように変化したかを捉えることが可能です。 ...詳しいデー...

    • C0231サムネ.png

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

    高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

    半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが知られています。 高分解能なXPSスペクト...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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