• 中・近赤外分光計による製造工程のモニタリングセミナーのご案内 製品画像

    中・近赤外分光計による製造工程のモニタリングセミナーのご案内

    PR【無料開催!】ガス分析用FT-IR製品と新製品BEAMを含むFT-NI…

    本ウェビナーでは赤外分光計および近赤外分光計を活用した プラント規模の反応追跡や工程管理をテーマとし、 前半では、測定時間やコスト面で課題のあるガスクロの代替手段となる ガス分析用FT-IR製品およびアプリケーション例を 後半では、新製品BEAMを含むFT-NIR製品および 代表的なアプリケーション例をわかりやすく紹介させていただきます。 食品・化学・環境・製薬分野での分析法の研究...

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    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

  • 材料開発DXを加速! プラスチックジャパン大阪に出展します。 製品画像

    材料開発DXを加速! プラスチックジャパン大阪に出展します。

    PR材料開発に革新をもたらす、高速分子シミュレーションと機械学習

    分子シミュレーション技術の発展により、原子・分子レベルの現象をコンピュータ・シミュレーションで扱うことができるようになってきました。また、分子シミュレーションと機械学習を組み合わせることにより、実験データが少ない場合でも材料開発に機械学習を活用できるようにもなってきています。シュレーディンガーは最新の分子シミュレーションや機械学習、その両者を融合した技術を使って、お客様の材料開発における解析力の強...

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    メーカー・取り扱い企業: シュレーディンガー株式会社

  • 【事例で解説】外観検査システムの課題と限界 製品画像

    【事例で解説】外観検査システムの課題と限界

    汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行…

    ・外観検査の背景と課題 市場伸長が見込まれる画像処理システム市場の現状と、 外観検査自動化のメリット、検査装置導入時・導入後の課題について、 纏めております。 ・微細化が進む電子回路基板のパターン検査課題 複雑化・微細化していき、検出が難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した検査手法をご紹介します。 ・複数光学条件が必要な外観検査自動化における課題 対象物...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

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