工場内設備の挙動を一括管理！バーチャル工程解析ツール

PR現場の生産システムに接続して稼働状態の可視化とPLCからのメッセージを…

生産設備の全ての稼働データを収集し、プロセス分析する情報基盤を構築でます。 ボトルネックを見つけたり、各設備・装置の運転状況を評価して、負荷度合いから依存度分析、リスクの低減や生産効率の改善に向けた指標を提供します。 複数のロボット間の予期せぬ衝突を検出したり、ロボットプログラムに内在しているインターロック動作の不具合を事前に分析するツールです。 仮想ロボットコントローラーと実機ロボ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テックスイートジャパン　（旧セニット・ジャパン）

超音波軸力制御締結システム　Sonar　Force　

PR軸力によるボルト締結を可能とする新技術です。M6の小径ネジから対応可能…

当社および関連各社との開発技術である『ダイレクト軸力測定システム』をご紹介します。 ボルト本体、被締結部品の仕様最適化ができ、コストダウンを実現。 軸力安定化、誤組付防止、トレーサビリティにより品質が向上します。 また、開発時熟成工数と量産時トルクチェック工数の減少が可能です。 【提供価値】 ■コストダウン：ボルト本体／被締結部品 仕様最適化 ■工数減：開発時熟成工数／量産時トルクチェック工...

メーカー・取り扱い企業： 菱電湘南エレクトロニクス株式会社 検査計測事業部

化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定

化合物半導体サンプルを試料に、深さ分解能を測定した結果を紹介。

よっては、Al0.28Ga0.72As/GaAs を 50nm ずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを 試料として用い、深さ分解能を求めました。 1次イオンビームを最適化したところ、Al0.28Ga0.72As 膜と GaAs 膜の界面での 27Al のプロファイルの傾きから深さ方向分解能を5nmまで高める事が出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター

SiC 基板へのAl イオン注入深さ分析

SiC基板へアルミニウムをBOX 注入したサンプルを分析した結果を紹介…

電子ビームを同時照射し、電荷の蓄積を抑制することで 正確な測定が行えるようになりました。 アルミニウムの質量数(27)はマトリックスであるシリコン(28)と隣接して いるため、測定条件を最適化することによって検出下限を 6×1015 [atoms/cm3]にまで下げることが出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター

アルミイオン注入深さ分析

検出下限を1E16n/cm3に下げることが出来ました。SIMSによる分…

シリコンへアルミニウムを イオン注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 アルミニウムの質量数はシリコンと隣接しているため Q ポール型 SIMS では 測定が困難ですが、測定条件を最適化することによって検出下限を 1E16n/cm3に下げることが出来ました。 【注入条件】 ■エネルギー ：180keV ■ドーズ量 ：1E15n/cm2 (ドーズ量は当社の RBS...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター