【分析事例】（X線CTによる）セラミックス基板の導通不具合調査

供試材における断線箇所の低倍率および高倍率透視観察！クラック進展状態の…

当社で行った、不具合原因調査についてご紹介いたします。 試験設備にマイクロフォーカスX線透視システム（アンドレックス MX-4） と透視画像処理装置（ユニハイト UH-12）を使用。 試験内容は、X線透視装置を用いて供試材における断線箇所の低倍率および 高倍率透視観察と、クラック進展状態の観察です。関連リンク先では、試験 結果の図と透視像を掲載しております。 【試験内容】 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ