Enovasense Field Sensor

PR高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…

フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約１１万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長 　・非接触で下記が測定できます。 　　　☆不透明体の厚みマッピング...

メーカー・取り扱い企業： プレシテック・ジャパン株式会社

超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

PR超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

Sony社製 CMOSセンサ(Pregius IMX661/3.6型)を搭載した、1億2700万画素のCoaXPressカメラ「VCC-127CXP6」と、Canon社製CMOSセンサ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

【外観検査】カラー＆モノクロラインカメラ対応！原反検査システム

カラーラインカメラ＆モノクロラインカメラともに対応！シート、フィルム、…

『原反検査システム』は、途切れ無く連続的に流れる無地の原反製品表面に 発生する欠陥（異物、キズ、スジ、ピンホール等）を検出します。 運転動作中に検出された欠陥画像をリアルタイムに表示。 画像データは検出位置情報と共に記録されており、集計ソフト（オプション） を利用して、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【最適条件を提案します】UISの原反検査画像処理システム

途切れ無く連続的に流れる無地の原反製品表面に発生する欠陥（異物、キズ、…

【特長】 ○欠陥画像の記録・表示 ○欠陥位置の記録・表示 ○欠陥検出信号の出力 ○過去の検査データ確認 ●その他機能や詳細については、カタログをご覧下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【全数検査対応】容器外観検査システム

フィルタ処理や欠け検査など多種の検査機能！独自の検査処理を設定できます

『容器外観検査システム』は、容器を回転させながら外観を撮像し、画像を 分析し欠陥を検出します。 エリアセンサカメラとラインセンサカメラを組み合わせることにより、内面・ 外面・側面の全面検査を実現。また、画像処理を高速でおこなうため、全数 検査にも対応できます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

パターン外観検査システム

マスター登録方式を採用！16Kラインセンサカメラによる超高解像度画像処…

『パターン外観検査システム』は、モノクロ／カラーラインセンサカメラ （最大16K）により超高解像度の画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・ 異物・凹凸などの各種欠陥を高精度に検出します。 検査対象パターン輪郭を直線で囲み、マスタとなる形状を登録し、輪郭の内側・ 外側を個別に検査します。検出強度を個別に設定することが可能。 お客様のニーズにより、卓...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

パターン外観検査システム

12,288×12,000画素の超高解像度画像処理システム

超高解像度のラインセンサカメラにより最大12,288×12,000画素の超高解像度画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・異物 ・凹凸 などの各種欠陥を高精度に検出します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム