• 【総合カタログ進呈!】紫外線(UV)殺菌装置・紫外線酸化装置 等 製品画像

    【総合カタログ進呈!】紫外線(UV)殺菌装置・紫外線酸化装置 等

    PR【純水・超純水の殺菌や紫外線酸化装置まで!】紫外線殺菌装置ならフナテッ…

    40数年前、新しい殺菌手段として、水の紫外線(UV)殺菌装置を開発したフナテック製品の総合カタログです! 純水・超純水用や工業用水、水産養殖・温泉水用など種類豊富な 紫外線(UV)流水式殺菌装置を中心に紫外線酸化装置、オゾン分解装置までご紹介しております。 【掲載製品】 ■紫外線流水式殺菌装置 RTシリーズ・MSシリーズ・HPシリーズ ■紫外線酸化装置 CXシリーズ・FOVシリー...

    メーカー・取り扱い企業: フナテック株式会社 本社 

  • FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展 製品画像

    FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展

    PR受入検査から工程管理、最終製品検査までのさまざまな段階のモニタリングに…

    『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の NIR分光計です。 製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、 製造のばらつきを改善。 固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、 ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。 【特長】 ■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性 ■RockSolidテク...

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    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

  • HAST(PCT) 製品画像

    HAST(PCT)

    当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です!

    『HAST(PCT)』は、樹脂封止された半導体等の電子部品を通常の使用環境より 高い蒸気圧の雰囲気に晒すことにより、短時間に供試品の内部に分を 侵入させ、樹脂封止の気密性を評価することを目的にした試験です。 その試験のうち、JIS C 60068-2-66の不飽和加圧蒸...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • インラインセラミックガスフィルター 製品画像

    インラインセラミックガスフィルター

    常に安定した状態で0.003μmの高濾過精度を有するガスフィルターを開…

    半導体製造ガスラインなどに用いられる(株)ピュアロンジャパン製インラインセラミックガスフィルターです。や酸素などの不純物の除去を確実に行うための、200℃の高温ベーキングが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ピー・ジェイ

  • 光学式細孔率・細孔分布測定装置 製品画像

    光学式細孔率・細孔分布測定装置

    世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター)細孔…

    CTE計測も測定可能 ・従来の方式に比べ、短時間での測定が可能(20分/point) 【仕様】 ・測定可能細孔サイズ(直径);0.5~65nm ・スポットサイズ;1.2*0.8mm ・測定サンプル構成:単層/多層ともに測定可 ・サンプルサイズ:2~300mm(フィルム厚さ:50nm~5μm) ・測定時間;20分/point ・溶媒:IPA(イソプロパノール)、メタノール、トルエン、

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • ウェーハ簡易洗浄機(WCM-01型) 製品画像

    ウェーハ簡易洗浄機(WCM-01型)

    φ300 mmシリコンウェーハを簡易洗浄(ブラシ+)する装置です。

    ・洗浄後はエアーナイフウェーハ表裏面の滴を乾燥します。 ・ウェーハはエッジクランプにて取扱い、表裏面には接触しません。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ジャステム

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