• DAコンバータユニット(USB接続)『TUSB-0416DAM』 製品画像

    DAコンバータユニット(USB接続)『TUSB-0416DAM』

    PR分解能16ビット、変換レート1MHz USBインターフェース付きDAコ…

    本ユニットは、分解能16bit、変換レート1MHzの高性能DAコンバータユニット(USB接続)です。 アナログ出力はBNCコネクタ4チャンネルで、高分解能の直流電圧出力の他、FIFO方式メモリとUSBインターフェースとの組み合わせで、制限なく連続的に波形出力が可能です。 可変基準電圧源の他、ファンクションジェネレータ、任意波形発生器などとしても使用できます。...出力チャンネル数:4ch(2ch*...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社タートル工業

  • 多機能振動計測・分析ソフト『SVRシステム Fシリーズ』 製品画像

    多機能振動計測・分析ソフト『SVRシステム Fシリーズ』

    PR1ch~128chの振動計測に対応。異常振動の監視や、振動モード分析な…

    多機能振動計測・分析ソフト『SVRシステム(収録システム) Fシリーズ』は、簡単な設定入力だけで、計測やアウトプットが手軽に行える製品です。 スペクトル計測、ウォーターフォール計測、打撃試験・モード計測といった 各種振動計測をこのソフトでカバーできます。 ソフトウェアのオリジナルカスタマイズも承っておりますので、 計測でこんな機能が欲しい!などのご要望の声もお待ちいたしております。...

    メーカー・取り扱い企業: 国際振音計装株式会社 加古川試験所

  • 非破壊解析技術 3D-CSAM 製品画像

    非破壊解析技術 3D-CSAM

    現象を把握し、解析精度を向上!高さ情報を確認し不具合箇所の詳細を確認

    る「非破壊解析技術 3D-CSAM」についてご紹介いたします。 周波数分解機能および3D-CSAM機能により、現象を把握し、解析精度を向上。 超音波による解析は、広めにゲート範囲を設定して、波形および平面画像を取得。 また、深さ情報可視化と3D化として、全点波形取り込みデータから3D画像を 作成し従来の時間軸映像では検出しにくい部位を立体映像構築します。 【特長】 ■周波数...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 振動試験の受託サービス(大型3軸同時加振試験/単軸加振試験) 製品画像

    振動試験の受託サービス(大型3軸同時加振試験/単軸加振試験)

    様々な波形を再現した振動試験・解析・評価を承ります。試験治具の設計・製…

    内) - 建屋:約30m×17m - 加振試験室の天井高さ:約10m - 天井クレーン:容量2.8t、揚程6m ●大型3軸同時加振試験装置 ~重い試験体での3軸同時試験~ <試験可能な波形> □阪神・淡路大震災、東日本大震災の地震波形の再現 □気象庁配信の地震波(各地の地震を再現可能) □人工地震波 □サインビート波 ●単軸加振試験装置 ~軽い試験体での高加速度試験~ ...

    メーカー・取り扱い企業: エア・ウォーター防災株式会社

  • 非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D) 製品画像

    非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D)

    2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化…

    任意界面の空隙やクラック有無など状態確認が可能です。 2次元像(C-Scan)が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉える ために3次元化を目指しています。 「3D C-SAM」は波形データを再構成、3D画像化することで異常部位等を 立体的に捉えることが可能で、材質要因等でX線での評価が困難な場合でも 超音波を用いて評価できる可能性があります。 ※詳しくは関連リンクをご...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【分析事例】Liの結合状態分析 製品画像

    【分析事例】Liの結合状態分析

    他元素を波形解析することでLiの結合状態別存在比を算出出来ます

    EI層(固体電解質界面)は電池の寿命に大きく関わる要素であり、そこに含まれるLiの化学種を知ることは重要です。Li自身はケミカルシフトが小さく直接の評価が困難ですが、結合相手元素(C,O,F,P)を波形解析で状態分離することにより、Liの結合状態別存在比を算出することが出来ます。サイクル試験前後のLiの状態評価をしたところ、試験後では試験前に比べて、Li2CO3, Li-POxFyの存在比が増加す...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • がいし装置の実規模試験に 1500kN横型疲労試験機 製品画像

    がいし装置の実規模試験に 1500kN横型疲労試験機

    リアルタイムに試験波形が確認できる!最新鋭の横形疲労試験機

    式制御システムを装備した最新鋭の試験機です。 ●高性能CPUを搭載 ●デジタル化を図り、計測精度、操作性、信頼性およびデータの応用 性をグレードアップ ●デジタル方式により、リアルタイムに試験波形が確認できるシステム ◎受託試験・分析業務を承ります。  ご興味のある方はカタログをダウンロードしてご覧下さい。  詳細はお気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カタン株式会社

  • 【分析事例】XPSによるDLCの評価 製品画像

    【分析事例】XPSによるDLCの評価

    C1s波形解析を使用したsp2/(sp2+sp3)比の評価

    とsp3(ダイヤモンド構造)を分離して求められるsp2/(sp2+sp3)比は、膜の特性を決定する重要な要因の一つとなります。 このsp2/(sp2+sp3)比について、XPSのC1sスペクトルを波形解析することで評価した例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価 製品画像

    【分析事例】XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価

    詳細な状態評価と併せ、膜厚計算が可能

    XPSでは試料表面の化学結合状態を評価することができ、波形解析により更に詳細な評価をすることが可能です。加えて、波形解析結果に仮定パラメータを用いることで、表面酸化膜等の膜厚を算出することも可能です。 本資料では、SiC表面の組成・状態評価を行うとともに...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステム 製品画像

    狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステム

    50MHz~6GHz帯の20~40MHz BWをノートPCに連続収録・…

    、極力データ落ちのない収録を行います。 複雑な操作は不要。 ソフトを起動し周波数を設定しボタンを押すだけの3ステップで収録開始。再生も3ステップで。標準添付のデータビュアーソフトを使えば波形の確認や切り出しも簡単です。 狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステムは、ノートPCとUSRPで構成されています。 50-6GHz帯を20MHz BW @16bitもしくは...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ドルフィンシステム

  • 【分析事例】Si自然酸化膜の膜厚評価 製品画像

    【分析事例】Si自然酸化膜の膜厚評価

    光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり

    コンウエハ上の自然酸化膜・シリコン酸窒化薄膜など厚さ数nm以下の極薄膜について、XPS分析によって膜厚を算出した事例をご紹介します。Siウエハ最表面のSi2pスペクトルを測定し、得られたスペクトルの波形解析を行うことにより、各結合状態の存在割合を求め、この結果と光電子の平均自由行程か ら膜厚を見積もることが可能です(式1)。 XPSでは非破壊かつ簡便に、広域の平均情報として基板上の薄膜厚みを算出...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

    高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

    半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されること を利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 微生物特許や新種提唱での特徴付け試験を受託「細菌Premium」 製品画像

    微生物特許や新種提唱での特徴付け試験を受託「細菌Premium」

    遺伝子解析、形態観察、生理・生化学的性状試験、化学試験の受託/遺伝子解…

    った経緯の文章説明)  +同定結果 +帰属種・近縁種のバイオセーフティレベル 〇付属データ ・ コロニー像 ・ 細胞形態または グラム染色像 ・ DNA 塩基配列データ ・ シーケンス 波形 データ 【追加試験】 ・細菌Premium実施後、必要に応じてゲノム解析などの追加のご依頼も承ります。 ・特許寄託や新種提唱の際の細菌株寄託には、当社サービス「保存アンプル作製」をご利用くだ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社テクノスルガ・ラボ

  • 微生物特許や新種提唱時の特徴付試験を受託「酵母Premium」 製品画像

    微生物特許や新種提唱時の特徴付試験を受託「酵母Premium」

    酵母の遺伝子解析と形態観察による総合考察付き試験受託サービス/遺伝子解…

    同定に至った経緯の文章説明)+同定結果+帰属種・近縁種のバイオセーフティレベル 【付属データ】 ・巨視観察像 (コロニー) ・微視観察像 (形態) ・DNA塩基配列データ ・シーケンス波形データ 【解析の流れ】 1. 培養・純度確認 2. DNA抽出 3. PCR増幅 4. シーケンス 5. 配列決定 6. 相同性検索 7. 系統解析 8. 文献調査 9. 形...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社テクノスルガ・ラボ

  • 株式会社WADOWのシミュレーション受託 製品画像

    株式会社WADOWのシミュレーション受託

    世界最小のものから宇宙で使われるものまで!経験と実績のシミュレーション…

    【ラインナップ】 ○SIシミュレーション →信号波形、信号タイミング、アイダイヤグラム、他 →使用ツール:ALLEGRO、ライトニング、ハイパーリンクス、ADS、他 ○PIシミュレーション →インプットインピーダンス、トランスファーインピーダン...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社WADOW

  • [C-SAM]超音波顕微鏡法 製品画像

    [C-SAM]超音波顕微鏡法

    C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です…

    構造も非破壊で観察する事が可能です。空気との界面での反射が大きいことから、電子部品のパッケージ内部などに存在する空隙やクラックを高感度で観察できます。空隙箇所の判定は、各測定箇所における超音波の反射波形から判定します。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【ファスマック】DNAシーケンス解析 製品画像

    【ファスマック】DNAシーケンス解析

    シーケンサーによる泳動のみのサービスまで!どのようなご要望にもお応えい…

    ■価格と納期を重視したサービス ■テンプレートDNAとプライマーを混合したサンプルをお送りいただく ■サイクルシーケンス反応、反応産物の精製を行った後、シーケンサーにて泳動を行う ■得られた波形データ、配列データをお客様にご報告 ■サンプル数、納期に応じて3種類のサービスよりお選びいただく ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社グライナー・ジャパン

  • 短絡耐量評価・解析レポート 製品画像

    短絡耐量評価・解析レポート

    短絡耐量性を測定し、故障メカニズムを明らかにします!

    【評価結果の重要性と使用法】 ■短絡保護回路の最小応答時間を推測することができる ■測定された短絡ドレイン電流波形と耐久時間(tsc,f)をSPICE電気・熱シミュレーションで使用し、  トランジスタの内部温度を推定することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エルテック

  • STR分析(細胞認証用) 製品画像

    STR分析(細胞認証用)

    GenePrint24Systemを用いたSTR分析を実施!特定24か…

    細】 ■納期:1週間 ■お送りいただくもの ・DNAサンプル(20ng以上) ※冷蔵便または冷凍便でお送りください ・印刷したオーダーシート ■納品物 ・alleleデータ(エクセル)、波形データ(PDF/fsaファイル) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ファスマック

  • 『RAISING法によるランダムインテグレーション解析サービス』 製品画像

    『RAISING法によるランダムインテグレーション解析サービス』

    国立感染症研究所との共同研究により開発。 外来DNAの挿入位置の決定…

    ■「サンガーシーケンス」と「NGS」の2つのサービスプランをご用意 ▼サンガーシーケンスプラン ・利用例:ウイルスゲノム、融合遺伝子のクロナリティ解析 など… ・納品物:波形データ(ab1ファイル)、配列データ(txtファイル) ▼次世代シーケンス(NGS)プラン ・利用例:ゲノム編集やウイルスベクターによる      ノックインのオフターゲット検出、など… ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ファスマック

  • 【事例】受託Level2 解析⇒コストダウン、VA案 製品画像

    【事例】受託Level2 解析⇒コストダウン、VA案

    電車機器箱振動や電車機器箱振動などの解析!現行評価などを行った事例

    ・組立製検討、保守性検討 <構造物耐震性能解析> ■解析ソフト:Optistruct ■詳細 ・稀に起こる大地震に耐えるか ・強度不足時の設変提案※耐震性能評価手法はHIVECから提案地震波形の生データから  加振荷重への変換作業、応答スペクトル解析等、解析難易度高 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社HIVEC

  • 【分析事例】極薄SiON膜の組成・膜厚評価 製品画像

    【分析事例】極薄SiON膜の組成・膜厚評価

    光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり

    シリコンウエハ上の自然酸化膜・シリコン酸窒化薄膜など、厚さ数nm以下の極薄膜について、サンプル最表面のSi2pスペクトルを測定します。得られたスペクトルの波形解析を行うことにより、各結合状態の存在割合を求め、この結果と光電子の平均自由行程から膜厚を見積もります(式1)。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価 製品画像

    【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価

    波形解析・Arスパッタによる結合状態の深さ方向分布評価

    XPSでは酸化成分(酸素と結合している成分)・金属成分(金属と結合している成分)などの結合状態の評価が可能です。また、アルゴンイオンスパッタリングを併用することにより、深さ方向の結合状態の評価も可能です。 ※ ステンレス表面の不動態皮膜(厚さ数十nm~数百nm程度)について、上記測定を行った結果、(1)表面側にFe酸化成分が多い、(2)Cr酸化成分がFe酸化層の下側に存在、(3)Ni酸化成分はほ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ISCEF(アイセフ)「様々な付加機能」 製品画像

    ISCEF(アイセフ)「様々な付加機能」

    波形処理機能や、M-φ関係の出力機能など様々な付加機能を装備!

    木構造物に好適な構造解析ソフト『ISCEF(アイセフ)』は、 解析機能だけではなく、様々な付加機能も備えております。 付加機能には、フーリエスペクトルや応答スペクトル、周波数カットなどの 波形処理機能や、M-φ関係の出力機能、岩盤の局所安全率算出機能など 様々な土木構造物に適したがものがあります。 【ISCEFの付加機能】 ■波形処理機能 ■岩盤の局所安全率機能 ■梁要素の...

    メーカー・取り扱い企業: センチュリテクノ株式会社

  • 東芝コンピュータテクノロジー株式会社 基板解析 製品画像

    東芝コンピュータテクノロジー株式会社 基板解析

    故障した基板の動作不具合部品や物理的不具合箇所を特定します。

    【特徴】 ○不具合信号タイミング波形などをトレース:デジタル回路の故障箇所をデジタルオシロスコープ等で特定し不具合信号タイミング波形などをトレースします ○オープンショートチェック:物理的不具合箇所を確実に特定します。 ○3次元X...

    メーカー・取り扱い企業: 東芝コンピュータテクノロジー株式会社 本社

  • 【分析事例】定量計算における妨害ピーク除去処理 製品画像

    【分析事例】定量計算における妨害ピーク除去処理

    XPS:X線光電子分光法

    ら放出された、強度の高い光電子ピークを使用します。 XPS分析の定量計算では、このような妨害ピークについて、主として以下の2方法による除去計算を行っています。 1.感度係数比を用いた除去 2.波形分離を用いた除去...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

    高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

    半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されることを利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 大型構造物の疲労強度試験に 1000kN縦型疲労試験機 製品画像

    大型構造物の疲労強度試験に 1000kN縦型疲労試験機

    鉄塔、架橋、建築材料など、大型構造物などの疲労強度試験に最適!

    式制御システムを装備した最新鋭の試験機です。 ●高性能CPUを搭載 ●デジタル化を図り、計測精度、操作性、信頼性およびデータの応用 性をグレードアップ ●デジタル方式により、リアルタイムに試験波形が確認できるシステム ◎受託試験・分析業務を承ります。  ご興味のある方はカタログをダウンロードしてご覧下さい。  詳細はお気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カタン株式会社

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