車載用半導体IC向け　 2D/3D外観検査装置

車載用半導体ICの目視外観検査撤廃を実現！3D/2D寸法検査で高精度欠…

デバイス全方向検査が可能な、車載用半導体ICの 高機能外観検査装置です。 3D/2D寸法検査により、リード、ボール、モールド面の表裏面の高精度欠陥検査が可能。 25Mカメラと7ch・ボリューム個別制御でMax20枚の高速撮像ができ、 マルチアングル照明＋複数枚撮像により、打痕を消して異物を抽出したり、 根元金属異物、リード上異物、モールド側面ボイドなど、 狙った欠陥を確実にキャ...

メーカー・取り扱い企業： 日精株式会社 本社

イメージセンサ用 高精度６面２次元外観検査装置

検査自動化により、目視検査レスを実現！イメージセンサの全６面微細欠陥検…

高精度欠陥検査ユニットを搭載した高精度6面2次元外観検査装置。 監視カメラ用挿入型、DSC用SMT型などのイメージセンサ各種の 全6面微細欠陥検査ができます。 オリジナルシームレス、７チャンネル、マルチアングル照明で好適な照明環境のなか、 Min10msec/イメージ処理で検査モード毎に複数枚を一括取り込みが可能。 最大25Mpixカメラによる高分解能と高解像度で検査します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日精株式会社 本社

基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』

過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。

基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』は、過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。 モアレ縞の光をプロジェクタから実装部品に照射し、その反射光をカメラで撮影します。 その光の位相のズレから部品の高さが計測できます（反射型位相シフトモアレ法）。 この原理を活用し、部品、ICリード部の高さを計測します。 その高さの違いから部品の浮き、ICリードの浮き、欠品等の...

メーカー・取り扱い企業： 日本ミルテック株式会社

実びんキャップ検査装置『TGV70-30C5シリーズ』

max1,200本/分のラインに対応！カラーカメラを使用した高精度な検…

『TGV70-30C5シリーズ』は、充填後のPETボトルなどキャップ部の 天面・側面をカメラで撮像し、不良品を検出する装置です。 耐熱、耐圧、アセプティック用にも対応。 画像モニタ付きで基本操作はタッチパネルを使用でき、 パスワードによる誤操作防止機能を搭載しています。 【特長】 ■シンプルなストレート搬送(非接触検査) ■品種登録100種 ■NG検出画像保存機能 ■...

メーカー・取り扱い企業： 高嶋技研株式会社

PETボトルキャップ巻角検査装置『TGV70-30AGL型』

パスワードによる誤操作防止機能を搭載！画像モニタ付きで基本操作はタッチ…

『TGV70-30AGL型』は、PETボトル製品のキャップ部をカメラで撮像し 展開画像からキャップの巻締角度を測定し、巻角不良を検出する装置です。 1000本／分のラインに対応。キャップの巻締角度を±10度以内で 管理が可能です。 画像モニタ付きで基本操作はタッチパネルを使用いただけます。 【特長】 ■シンプルなストレート搬送(非接触検査) ■品種登録100種 ■NG検出画...

メーカー・取り扱い企業： 高嶋技研株式会社