SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器

PR裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定

【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

エルコメーター456 膜厚計＆ウルトラ・スキャンプローブ

PR膜厚の超高速読み取り機能とBluetooth(R)による測定データの転…

「エルコメーター456 膜厚計＆ウルトラ・スキャンプローブ」は、 広い面積、多くの測定箇所で膜厚管理を要求される工事仕様で 素早く膜厚を測定し、データ編集・作成することができる膜厚計です。 毎分140回の速度で膜厚を測定することが可能で、測定値は膜厚計本体に保存。 保存されたデータはBluetooth(R)を使って、モバイル端末、PCに リアルタイムで転送、測定数値を編集アプリで管理することが...

メーカー・取り扱い企業： Elcometer株式会社 エルコメーター

パワー半導体ウェーハ同時測定テストシステム

パワー半導体のウェーハを32個まで測定が可能

テストボックスは、パワー半導体のウェーハを1個から最大32個まで、弊社のテストシステムと組み合わせることにより、同時測定を実現しました。 テストボックスは、他社製のプローバに対応しており、それぞれ異なったメーカーのプローバでも接続が可能です。 また、本体のテストシステムは、最大、2000V/30Aにまで対応してお...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シバソク

オプティマイズドDCテストシステム

オプティマイズドDCテストシステム

は、新開発の高精度PPS、高精度パワーVIソース、フォトモスマトリックス、タイムモジュールを搭載し、さらにキャリブレーション機能を充実することで機差間誤差、デバイス間誤差を無くし、高精度かつ安定した測定を実現している。ヒューマンインターフェースとしてGUIを標準で搭載し、操作性の優れたオペレーション環境とネッワーク環境などのソフトウエアも充実させている。また、他社製品と比べコンパクト設計・省スペー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シバソク

WL25V+WS58V　ウェーハ　動特性テストシステム

業界初　ウェーハ試験で大電流の動特性試験を実現

を組み合わせる事により、パワー半導体をウェーハ状態で、静特性・動特性を常温／高温の雰囲気で実現することができます。 Vth (200A) ON抵抗　2mΩ L負荷　SW Qg アバランシェ測定 VF Trr, Irr, di/dt...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シバソク