ケーブル放射ノイズ測定可視化システム『WM9520』

PRケーブルから放射されるノイズを特定しつつ周波数成分と強さを自動で可視化…

『WM9520』は、CISPR25に対応し、磁界プローブまたは電界プローブを使用して ケーブルから放射されるノイズを高精度で自動測定し、周波数成分とレベルの 強さをマップ表示機能により簡単に可視化することが可能なシステムです。 測定可能なケーブル長は2000mmで、プローブの位置決め精度は±1mmの メカニカルパフォーマンス。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。 【仕様(一部)】...

メーカー・取り扱い企業： 森田テック株式会社

SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器

PR裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定

【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

事例　製品環境でのパッケージ　熱抵抗測定技術

半導体の熱抵抗を正しく測定できていますか？熱シミュレーション技術とコラ…

測定用素子として良く利用されるダイオード（PN接合）の特性を理解しないと、 正しく測定できない場合があります。 製品環境でのパッケージ熱抵抗を正しく求めるためには、実デバイスを使った 熱抵抗解析を高精度に評価する技術が必要となります。 局所発熱モデルにおいて実測と熱シミュレーションの整合モデルが作成出来ていれば、 任意発熱時の熱抵抗がシミュレーションで解けます。 弊社では、実測～シミュレーシ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

LSIパッケージ設計／評価解析受託サービス

半導体チップを外部環境から「守る」、電気信号を基板へ「伝える」！

【対応可能な評価解析項目】 ■時間領域反射率測定 ■寸法測定 ■加熱表面形状測定 ■超音波深傷観察 ■走査型電子顕微鏡観察 ■エネルギー分散型X線分析 ■X線観察 ■断面観察 ■プルシェア強度測定 ■信頼性評価 ※詳しくは...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

事例　熱解析（熱シミュレーション）

高精度な熱特性の解析で、製品コストを低減！（熱シミュレーション）

は開発費用を上げますが、温度マージン設計を最適にする事でトータルコストが下がります。（熱シミュレーション） 弊社独自の手法の特長は、チップの特定一部を部分発熱させ、発熱エリア内PN 接合（特定）で測定します。 また、測定結果にフィットしたシミュレーションモデルを構築する事で、システム製品全体がシミュレーション技術で温度予測可能となります。 ライブラリ作成も含め、放熱対策・熱管理のルール化等コ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

熱抵抗検査装置

半導体及び熱解析技術に裏づけされた、熱抵抗検査装置のご提案

お客様ここの製品ジャンル及びニーズに合ったオリジナル装置をご提案致します。 単なる装置の販売ではなく、半導体技術及び熱解析技術の裏づけを基に、最適な仕様提案から測定条件のご提案まで、ソリューションとしてご提案致します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

LSIパッケージ設計／評価解析　受託サービス

製品開発のトータルコーディネートが可能！LSIパッケージの設計・評価解…

【対応可能な評価解析項目】 ■時間領域反射率測定 ■寸法測定 ■加熱表面形状測定 ■超音波深傷観察 ■走査型電子顕微鏡観察 ■エネルギー分散型X線分析 ■X線観察 ■断面観察 ■プルシェア強度測定 ■信頼性評価 ※詳しくは...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology