• EMI(エミッション)トータル試験システム MR2300 製品画像

    EMI(エミッション)トータル試験システム MR2300

    PR手近なところでノイズ対策!EMIは事前試験で効率アップ。

    MR2300は当社のスペクトラムアナライザ技術、電波暗箱技術およびアンテナ技術を結集した統合システムです。 EMIトータル試験システム MR2300の特長 ■追加設備のいらないEMIトータル試験システム アンテナ、EMI用スペクトラムアナライザ、LISN、EMI用PCソフトウェアのみならず、電波暗箱まで全てが揃ったトータル試験システム ■自社開発の小型・広帯域アンテナ 30M...

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    メーカー・取り扱い企業: マイクロニクス株式会社

  • レーザー損傷閾値(LIDT)測定の代理店始めました! 製品画像

    レーザー損傷閾値(LIDT)測定の代理店始めました!

    PR予期せぬレーザー損傷を避けるためのレーザー損傷試験をお勧めします

    当社では、レーザーオプティクスの損傷を調べることが可能。 顧客に合わせてレーザーへの耐力の測定及び検査など様々な試験に対応し、 損傷原因や欠陥の特定・オプティクスの寿命推定などができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■試行錯誤の手間の削減 ■オプティクスの寿命推定が可能 ■オプティクスの品質検査(良品、不良品の判別検査) ■研磨、コーティングの最適化 ■損傷原因や...

    メーカー・取り扱い企業: CBCオプテックス株式会社

  • X線単結晶方位測定 製品画像

    X線単結晶方位測定

    試料ホルダーの交換により、φ2.88mmチップ~φ6inchインゴット…

    当社では、サファイア、SiC、LTGAなどの単結晶を、結晶軸に対する 切断方向結晶方位を測定いたします。 試料ホルダーの交換により、φ2.88mmチップ~φ6inchインゴットまで 測定可能。 受託測定もいたしますので、お気軽にお問い合わせください。 ※詳しくはPDF資...

    メーカー・取り扱い企業: シンコー株式会社

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