• 面状発熱体 『ポリイミドヒーター』 製品画像

    面状発熱体 『ポリイミドヒーター』

    PR薄手!柔軟!だから多種多様な形状で使用可能な面状発熱体ヒーターです!

    ただ発熱するだけじゃない! 【1】薄くてやわらかいから小型・軽量化に貢献 【2】昇温レスポンスが早いから大幅性能アップ 【3】自由な形状で設計できるから用途が広がる シンワの面状発熱体は、金属箔に電気を流して発熱させる薄いシート状の発熱体です。非常に薄くてやわらかい為、曲面や狭いスペースへの加熱に適しています。さらに回路をエッチングで形成する為、設計者の意図した発熱分布を得ることが...

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    メーカー・取り扱い企業: シンワ測定株式会社 FE部

  • 近赤外線ヒーター(ヒートビームシリーズ) 製品画像

    近赤外線ヒーター(ヒートビームシリーズ)

    PRハロゲンランプヒーターより放射される光(近赤外線)を照射し、高温・急速…

    近赤外線ヒーター ヒートビームシリーズは、特殊高効率ハロゲンランプから照射される近赤外線を利用し、ライン状やスポット状または、面状の熱源が得られるヒーターユニットです。 反射鏡は特殊金メッキを施し、熱効率が高くコンパクトな設計。 熱源にはハロゲンランプを使用する事により、最大1200℃までの加熱と2mm~3mm程度の集光が可能です。 ハロゲンランプから照射される輻射熱を利用しているので、非接...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ハイベック

  • GC-MSによる香り成分の分析 製品画像

    GC-MSによる香り成分の分析

    GC-MSは低分子有機物質の定性定量分析に利用!線香と白檀にてデータを…

    香りをキーワードとして、身近な線香を分析し、その分子構造の特長を 他材料と比較考察しました。 樹木から採れる代表的な香木としては、白檀(びゃくだん)・沈香 (じんこう)・伽羅(きゃら)の3種があげられますが、今回は線香と 白檀にてデータを取得。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 分析と化学反応機構で研究開発をアシストします! 製品画像

    分析と化学反応機構で研究開発をアシストします!

    開発の方向性の決定とスピードアップに繋がる!豊富な技術、知見、装置でご…

    置、観察装置、信頼性試験装置、 そして蓄積された知見と化学反応機構でメーカー様の研究開発をアシストします。 豊富な技術、知見、装置でご対応いたしますので、お気軽にお問合せください。 【特長】 <分析機器例> ■顕微IR ■顕微ラマン ■(EGA/TD/Pyr)GC-MS ■TOF-SIMS ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 化学反応機構研究所 フタル酸エステル1HNMR 製品画像

    化学反応機構研究所 フタル酸エステル1HNMR

    似通った構造の化合物を区別して同定!プロトンの個数、構造の特長などの情…

    NMR分析を行っております。 似通った構造の化合物を区別して同定するにはNMR分析やGCMS分析が有効です。 当分析では、積分値からプロトンの個数、ケミカルシフトから官能基など 構造の特長、またカップリングパターンやカップリング定数から周りの プロトンとの位置関係などの情報を得る事ができます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD解析 製品画像

    EBSD解析

    結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能!EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

    れがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。 IQマップ(イメージクオリティーマップ)をはじめ、IPFマップ、GRODマップ、 極点図など、様々なマップを使用します。 【特長】 ■EBSD法は、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を解析する手法 ■(株)TSLソリューションズOIM7.0結晶方位解析装置を使用 ■結晶格子がどのような方向を向いているのか(結晶方位)を...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EPMA分析 製品画像

    EPMA分析

    100×100mmサイズも対応!ステージ可動により広範囲のマッピングが…

    化インジウム・スズ薄膜上の異物分析例では、SEM-EDXに 比べ、エネルギー分解能・検出限界・PB比が良好でした。 また、微量元素の検出やSEM-EDXでは検出が困難な分析が可能です。 【特長】 ■エネルギー分解能や検出感度が良い ■特に微量成分の定量分析やマップ分析等に優れる ■ステージ可動により広範囲のマッピングが可能 ■100×100mmサイズも対応可能 ※詳しくはP...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ICの不良解析 製品画像

    ICの不良解析

    不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から…

    【発光解析/OBIRCH解析 特長】 ■発光/OBIRCH解析によりリーク箇所、あるいは関係しているネットを特定 ■Layout Viewerによるレイアウト確認が可能 ■カスタマイズされた装置により、様々なサンプルの解析に対...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワー半導体の解析サービス 製品画像

    パワー半導体の解析サービス

    故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

    日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接合部に形成された空乏層を可視化 ■EDS、EELS分析といった元素分析も...

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  • EBSD法によるCu結晶解析 製品画像

    EBSD法によるCu結晶解析

    Cu板における圧縮前後での変化を観察!圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

    べる手法です。 Cu板における圧縮前後での変化観察では、IQマップ、GRODマップ、 IPFマップ(Axis3方向)を使用し、圧縮前後の結晶粒径の半化を 比較することができます。 【特長】 ■個々の結晶の方位情報を取得しマップ化 ■結晶方位、結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 発光解析のための半導体の裏面研磨 製品画像

    発光解析のための半導体の裏面研磨

    様々な形態の半導体で裏面研磨が可能!素子、不具合の様子の観察が出来ます

    けでなく、 形状異常の有無も観察できます。 また、パッケージ、開封済みチップ、ウエハー等様々な形態の半導体で 裏面研磨ができ、さらにリード端子を生かした状態の裏面研磨も可能です。 【特長】 ■裏面解析は、電極による遮光や高濃度基板による光の減衰により  透過しないため、裏面研磨が必要 ■不良を保持したまま発光を検出できる ■形状異常の有無も観察できる ■リード端子を生かし...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ウィスカ評価 製品画像

    ウィスカ評価

    検査員が逃さず観察!信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能で…

    性に大きな影響を与えます。 当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。 基板中のどの部品、どのピンにウィスカが発生しているか検査員が 逃さず観察します。 【特長】 ■信頼性試験後に実装基板の外観観察を行い、ウィスカ有無の判定 ■外観観察にてウィスカが検出されたらデジタルマイクロスコープで  観察・測長 ■より詳細に観察、分析を行いたい場合は、表面S...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EELS分析手法による膜質評価 製品画像

    EELS分析手法による膜質評価

    元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

    信頼性評価サービスなどを行っております。 EELS分析とEDS分析は、TEM試料に加速した電子を照射することで 元素同定を行う分析手法です。 「異なるカーボン膜」の事例では、状態分析が特長である EELS分析手法を用いてナノ領域での膜質評価を行いました。 EDS分析ではスペクトルの比較からBottom膜のみN,Oを微量に検出。 EELS分析では2つのSpectrumのシ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD法による解析例 製品画像

    EBSD法による解析例

    EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

    内で電子線回折が生じます。そのパターンを指数付け することでその点の結晶方位を求めることが可能となります。 結晶方位差を観察することで、結晶粒内の残留応力を推測することができます。 【特長】 ■個々の結晶の方位情報を取得しマップ化 ■結晶方位、結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる ■結晶方位差を観察することで、結晶粒内の残留応力を推測可能 ※詳しくはPDF資料を...

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  • デジタルマイクロスコープによる外観観察 製品画像

    デジタルマイクロスコープによる外観観察

    不具合を的確に把握!広範囲の一括観察や部分拡大も可能で、様々な観察に対…

    も可能、様々な観察に対応いたします。 また、IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍しており、国際規格に 則って観察のお手伝い、ご相談、様々な観察のお悩みに対応できます。 【特長】 ■広範囲の一括観察や部分拡大も可能 ■様々な観察に対応 ■全面観察後、箇所に関係なく鮮明な拡大観察が可能 ■予定外箇所の追加観察も容易 ■IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】ウィスカ観察 製品画像

    【資料】ウィスカ観察

    信頼性試験から観察、3次元測長まで支援!輸送リスクを排除したウィスカ評…

    ープによりウィスカを 観察するとともに、3次元測長を行い、ウィスカ成長を評価します。 信頼性試験グループと組むことで、迅速かつ輸送リスクを排除した ウィスカ評価の実施が可能です。 【特長】 ■信頼性試験から観察、3次元測長まで支援 ■深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウィスカを観察 ■迅速かつ輸送リスクを排除したウィスカ評価の実施が可能 ※詳しくはPDF資...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 断面加工・観察方法の紹介 製品画像

    断面加工・観察方法の紹介

    機械研磨では広範囲の加工及び観察が可能!適切な加工、観察手法や組み合わ…

    CP加工面と同程度の観察面を作製することもできます。 アイテスでは蓄積されたノウハウにより適切な加工、観察手法や組み合わせを ご提案致します。ご相談等、お気軽にお問い合わせ下さい。 【特長】 ■機械研磨では広範囲の加工及び観察が可能 ■機械研磨と撮影を繰り返すことで、3次元的に観察することができる ■構築した3D像を元に任意の箇所での観察が可能 ■機械研磨後、試料によってはC...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • FIB-SEMによる半導体の拡散層観察 製品画像

    FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

    他手法より短納期!FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実…

    検出器によって内蔵電位の違いを可視化した事例では 内蔵電位によりN型とP型領域で発生する二次電子のエネルギーに差が発生。 それによって生まれる軌道の差をSEMの検出器で検出します。 【特長】 ■FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施することが可能 ■他手法より短納期で対応 ■濃度は10E16まで検出可能 ■PN界面が可視化されるが、N+/N-,及びP+/P-の...

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  • 【EBSDによる解析例】鉄板 製品画像

    【EBSDによる解析例】鉄板

    グラフに現れた特長を可視化!結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認…

    F map、結晶粒分布などを用いて、EBSDにて結晶構造を観察。 EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認でき、 マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【概要】 ■EBSDにて結晶構造を観察 ・IPF map ・結晶粒分布 map ・結晶粒分布 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる解析例】パイプ 製品画像

    【EBSDによる解析例】パイプ

    パイプ(オーステナイト)について、EBSDによる解析例を紹介致します

    SDによる解析を実施しています。 EBSD法により結晶サイズの分布を確認することや、配向性を 確認することが可能。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた 特長を可視化できます。 【概要】 ■結晶サイズの分布、配向性を確認 ■グラフに現れた特長を可視化できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物 製品画像

    【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物

    はんだ接合部における金属間化合物の結晶解析例をご紹介いたします

    面にはCu6Sn5やAg4Sn等の化合物が成長しており、 ヒストグラムにより結晶サイズや結晶傾角の分布を示すことができます。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【概要】 ■EBSD法による結晶解析 ・SEM像 ・Phaseマップ ・Cu6Sn5のIQマップ(結晶粒ごとにHigh light) ・Cu6Sn5のIQマッ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSDによる解析例(セラミック) 製品画像

    EBSDによる解析例(セラミック)

    「観察/元素分析」や「EBSDによる解析」など!EBSDによる解析例を…

    ップよりSiが点在している様子が観察されました。 「EBSDによる解析」では、EBSD法により結晶サイズの分布や配向性を 確認でき、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【解析概要】 ■観察/元素分析 ・SEMによる観察とEDXによる元素分析 ■EBSDによる解析 ・EBSDにて結晶構造を観察 ※詳しくはPDF資料をご覧い...

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  • 【EBSDによる解析例】高融点はんだ 製品画像

    【EBSDによる解析例】高融点はんだ

    EBSDにて結晶構造を観察!それぞれの金属で各データの取得ができます

    。 EBSD法により結晶粒分布や、残留応力を推測することが可能。 また、結晶構造が異なる金属については同時に解析できるものがあり、 それぞれの金属で各データの取得ができます。 【特長】 ■結晶粒分布や、残留応力を推測できる ■結晶構造が異なる金属については同時に解析できるものがあり、  それぞれの金属で各データの取得が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気...

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  • 【EBSDによる解析例】ビア 製品画像

    【EBSDによる解析例】ビア

    EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することができます

    )について、EBSDによる解析例を 紹介致します。 EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することが可能。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【概要】 ■EBSDにて結晶構造を観察 ・IPFマップ ・GRODマップ ・結晶粒分布map ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下...

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