建柱用掘削泥土吸水剤『どろ運べーるシリーズ』

PR建柱作業の強い味方！邪魔な泥を短時間で固めて、運び出しを楽にします

当社の『どろ運べーるシリーズ』をご紹介いたします。 当製品を泥水(泥土)に投入し、オーガで撹拌すれば、短時間で泥水(泥土)の 水分を吸収し、固化することが可能。 ポンプや手作業でなければ搬出できなかった泥土をオーガで容易に 引き上げることができ、なおかつ汚泥をサラサラの状態にする為、現場を 泥で汚すことも殆どなくなります。 【特長】 ■泥土中の水分を吸収し、パサパサorモチモチとした性状に改...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社カナエ

シミュレーションソフト『MapleSim』※ホワイトペーパー進呈

PRロール・ツー・ロールシステムの性能向上に寄与。実設備では出来ない検証も…

シミュレーションソフト『MapleSim』は、紙製品、包装、印刷機、 バッテリー製造機など、ロール・ツー・ロールシステムの開発において、シミュレーションで ケーススタディ・パラメータスタディを容易にし、品質・生産性の向上に寄与します。 ソフトウェアの操作習得も短時間のトレーニングで行えるため、 ウェブ搬送モデルの構築を素早く行うことが可能です。 実際の設備の代わりに、シミュレーションでテストを行...

メーカー・取り扱い企業： Maplesoft Japan株式会社

SiC半導体評価装置「SemiScope」

フォトルミネッセンス(PL)イメージング法を用いたSiC半導体評価装置

ージング測定を行うタイリング機能を用いることで、約33億画素の解像度で6インチウェハ全面のPL画像を得ることができます。 SiCウェハの結晶欠陥を可視化。非接触・非破壊検査がPLイメージング法で短時間測定可能です。 【特徴】 ○SiC半導体評価装置 ○SiCウェハの結晶欠陥を可視化 ○非接触、非破壊検査 ○PLイメージング法のため短時間測定が可能 詳しくはお問い合わせ、また...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フォトンデザイン

ED SCOPE Til　イーディー スコープ タイル

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。 ・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。 ・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマクロレベルの観察が可能。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本ピストンリング株式会社

300mmウェハ対応バンプテスター SigmaW12

最大300mm（12インチ）ウェハ上のバンプのシェア、ツィーザープルテ…

ェアテスト、ツィーザープルテストに最適な多機能ボンドテスター。回転式測定ヘッドにより、作業者によるセンサー（ロードセル）の付け替え不要。最高50mm/secのステージ移動速度により広範囲のバンプを短時間で測定。回転式シェアセンサーによりウェハの回転が不要。パターン認識対応の自動測定プログラムにより省力化を実現。オプションのブロアー、バキュームクリーナーでツール先端の残渣を除去。ウェハ搬送システム...

メーカー・取り扱い企業： テクノアルファ株式会社

HAST(PCT)

当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です！

『HAST(PCT)』は、樹脂封止された半導体等の電子部品を通常の使用環境より 高い水蒸気圧の雰囲気に晒すことにより、短時間に供試品の内部に水分を 侵入させ、樹脂封止の気密性を評価することを目的にした試験です。 その試験のうち、JIS C 60068-2-66の不飽和加圧水蒸気における 通電試験も可能。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

位置決めサポート！センタリングユニット「PVXM series」

製造現場での各工程におけるワーク等の微妙な位置決めを短時間かつシンプル…

底面が平面ではないワークを荷重を受けながら360°自由方向へスライドさせ、位置決め可能な特殊ユニットです。通常の使用方法は4個以上でワークの荷重を受けます。本製品には動力はないため、設備側のシリンダー等でワークを押すと、ユニットの天板がスライドし、給気により任意の位置で天板をロックすることが出来ます。 小スペースでワークの位置決めが可能となるほか、推奨使用荷重・天板ストローク量・天板タップ加工等...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エイテック

高性能ウェハ・マスク破断装置『AMCシリーズ』

SEM用断面観察試料を簡単に作製！最小±2.5μmの位置精度でのけがき…

きを開始します。 観察部は自動スキップされ、けがきによる内部応力を利用して試料を破断します。 電子顕微鏡のサンプルホルダー等に挿入できるように試料を切り出します。 『AMCシリーズ』は、短時間で精度よく簡単に断面試料を作製することができます。 【特長】 ■最小±2.5μmの位置精度でのけがきが可能 ■けがきの応力を利用した破断方法を採用 ■クリーンな断面を持った試料作製が可...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アプコ

異物検出システム『ContamiAnalyzer』

さまざまな業界で対応可能！自動スクリーニング検査システム専用機を構築！

【機能と性能】 ■短時間での検査 ■レビュー機能 ■照明ムラを自動補正 ■目視確認が可能 ■Excelへレポート出力 ■統計表示 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 三谷商事株式会社 ビジュアルシステム部

光学式細孔率・細孔分布測定装置

世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター）細孔…

TiO2細孔率測定 ・細孔サイズ（0.5~65nm)、厚さ（50nm～５um)のサンプル 【特徴】 ・膜厚、屈折率、表面積、浸透率、ヤング率、CTE計測も測定可能 ・従来の方式に比べ、短時間での測定が可能（２０分/point) 【仕様】 ・測定可能細孔サイズ（直径）；0.5~65nm ・スポットサイズ；1.2*0.8mm ・測定サンプル構成：単層／多層ともに測定可 ・サ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

小型テストハンドラー『TH281』

SOP系デバイス　高温測定検査　分類。　高スループット・低ジャム率・省…

測定用の小型テストハンドラーです。 大型テストヘッドドッキング可能な構造で、標準ソケット、 高周波用ソケット、フラットコンタクト等各種ソケットに対応可能。 また、各部をユニット化し、短時間での品種交換を達成しました。 【特長】 ■高スループット・低ジャム率・省スペース ■大量生産に適した大容量のローダー、アンローダー ■大型テストヘッドドッキング可能な構造 ■各部をユ...

メーカー・取り扱い企業： 綜和機電株式会社

ED SCOPE　イーディー スコープ

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。 ・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。 ・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマクロレベルの観察が可能。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本ピストンリング株式会社

ウェーハ厚さ仕分け機（WTS-01,02型）

シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置で…

ツインアームロボットを使用することにより効率的な動作が可能になり短時間処理が可能になりました。 測定データはExcelファイルに自動保存します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジャステム

ウェーハ厚さ仕分け機（WTS-03型）

シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置で…

排出ステージを2箇所にすることにより、短時間処理が可能になりました。 測定データはExcelファイルに自動保存します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジャステム