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57件 - メーカー・取り扱い企業
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PR製造現場のデジタルツイン作成、設備のモデリングや改修工事の現場調査に！…
★設計・製造ソリューション展 [東京]に出展します★ 開催日時: 6月19日（水）～21日（金）10-18時（最終日は17時まで） 会場: 東京ビッグサイト 小間番号: S20-40 *ヘキサゴン・メトロジー株式会社ブース内に出展します。 ライカジオシステムズでは現場でのデータ取得に用いられるハードウェア製品から取得したデータを活用するためのソフトウェア製品まで一気通貫でソリューションをご提案す...
メーカー・取り扱い企業： ライカジオシステムズ株式会社
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XRD・XAFSによる複合解析で、より詳細な評価が可能
high-k材料や強誘電体として注目されているHfZrOx膜は、結晶構造によって誘電率等の物理的性質が大きく変化することから、結晶構造の同定・各結晶構造の含有割合の算出が重要な評価項目です。 通常XRDやXAFSによって評価可能ですが、一方の手法だけでは詳細な解析が困難な場合でも、これら2つの手法を組み合わせることでより詳細な情報が得られます。今回、XRDとXA...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ネオジム磁石に代表される異方性磁石X線回折の極点図測定結果から、残留磁…
ネオジム磁石に代表される異方性磁石の着磁前のX線回折の極点図測定結果から、残留磁束密度に対する結晶学的配向度の算出を可能としました。異方性磁石は磁化容易軸の結晶配向度が高いほど、着磁後の残留磁束密度が大きくなることから、着磁前の結晶配向度を把握することは異方性磁石の開発や生産ラインの品質管理に役立ちます。 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ
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各元素の分布を2次元的に見ることが可能！多層状の試料の分析の際にも有効…
Cuパッドの接合界面におけるEDSによる分析事例をご紹介いたします。 金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析では、各特性X線の強度 (カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出。金属間化合物等は 算出された濃度比により、形成された化合物を推定することが可能です。 また線分析では、SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイル することができるため、分析...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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赤外吸収法により非破壊で格子間酸素・炭素濃度を定量
シリコン単結晶中の格子間酸素及び炭素原子濃度をFT-IR分析により非破壊で求めることが可能です。透過法により測定したスペクトルの格子間酸素または炭素による吸収のピーク高さから算出します。 算出方法は、電子情報技術産業協会（JEITA: Japan Electronics and Information Technology Industries Association）に...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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スライス画像(FIB-SEM/医用/連続切片)位置合わせソフト
ExFact Slice Alignerは、5種類の自動位置合わせ、2…
参照する、高速な自動位置合わせです。単純形状、前後画像で差が少ない場合に有効です。 ◆phaseマッチング 2つの画像をフーリエ変換し、その周波数スペクトルから得た、位相画像を元にシフト量を算出し、高速に自動位置合わせをします。マテリアル等の反復した複雑構造に有効です。 ◆Templateマッチング 画像に共通した画像領域(テンプレート)を設定し、それを基準として自動位置合わせしま...
メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社
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他元素を波形解析することでLiの結合状態別存在比を算出出来ます
り、そこに含まれるLiの化学種を知ることは重要です。Li自身はケミカルシフトが小さく直接の評価が困難ですが、結合相手元素（C,O,F,P）を波形解析で状態分離することにより、Liの結合状態別存在比を算出することが出来ます。サイクル試験前後のLiの状態評価をしたところ、試験後では試験前に比べて、Li2CO3, Li-POxFyの存在比が増加することが判りました。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり
シリコンウエハ上の自然酸化膜・シリコン酸窒化薄膜など厚さ数nm以下の極薄膜について、XPS分析によって膜厚を算出した事例をご紹介します。Siウエハ最表面のSi2pスペクトルを測定し、得られたスペクトルの波形解析を行うことにより、各結合状態の存在割合を求め、この結果と光電子の平均自由行程か ら膜厚を見積もること...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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機能性成分の吸収量算出ができます
に胃で吸収され、速やかに代謝されることが知られています。代謝の過程でグルクロン酸抱合体や硫酸抱合体になりますが、それら代謝物をレスベラトロールに変換して定量することにより、レスベラトロールの吸収量を算出できます。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出
主成分から微量成分まで同時に分析し、試料内に存在する不純物の半定量分析を行う手法です。濃度換算には装置付随の相対感度係数(RSF)を使用します。分析値は主成分元素と目的元素のイオン強度と、RSFから算出した値であり、半定量値です。 ・微量元素（ppbレベル）から主成分レベルまでのバルク分析が可能 ・μmオーダーの深さ方向分析、薄膜分析が可能 ・導電性材料、及び補助電極を用いることで半導体...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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在庫管理・発注管理、市場調査、経営戦略、販売計画・生産計画・人員計画等…
需要予測エンジン「Foresight-One」は、従来のエンジンより一層使いやすく、高精度の予測値を算出できます。 あらゆるジャンルの企業や一般ユーザーに活用していただけるよう、 開発されました。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社シービーエス情報
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詳細な状態評価と併せ、膜厚計算が可能
XPSでは試料表面の化学結合状態を評価することができ、波形解析により更に詳細な評価をすることが可能です。加えて、波形解析結果に仮定パラメータを用いることで、表面酸化膜等の膜厚を算出することも可能です。 本資料では、SiC表面の組成・状態評価を行うとともに、取得したピーク強度から酸化膜厚を算出した事例をご紹介します。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実…
【特長】 ■複数のサンプルを同時に試験できるため試験期間の短縮を図れる ■Si、SiC、GaNの材料に対応 ■豊富なチップ温度の測定技術を保有 （Vf・Vce・Vdsの温度特性より算出、熱電対の使用など） ■パワーモジュールの熱抵抗測定が可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック
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ワイヤーボンディング部の接合面を平面から観察！数値による評価が可能とな…
ては弱さの残るものでした。 クオルテックでは、ボンディングされた箇所の裏面からシリコンをエッチング する事で、金属間化合物の生成状態を、より明確に観察する技術を開発。 金属間化合物の面積を算出し、数値による評価が可能となりました。 【特長】 ■ワイヤーボンディング部の接合面を断面ではなく平面から観察 ■金属間化合物の生成状態を明確かつ定量的に評価することが可能 ※詳しくは...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック
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ダイアタッチやTIM材などの評価に好適！試作から評価まで対応致します
過渡熱抵抗測定＞ ■パワーデバイス向けのT3Ster（パワーサイクル試験装置 内蔵）にて、 過渡熱抵抗の測定を実施、構造関数の取得と熱解析を行う ■そのデータも用いて、材料間の比較や熱抵抗の算出・不良部の推定などが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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分子動力学計算によるカーボンナノチューブ曲げ変形シミュレーション
ナノ材料に外力を加えた時の形状変化、歪みエネルギーの評価が可能
、分子動力学計算を用いて単層カーボンナノチューブの曲げ変形シミュレーションを行った事例を紹介します。シミュレーションを行うことで、実測からは評価が難しい原子レベルでの形状変化の観察や歪みエネルギーの算出が可能です。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。
有の重要な物性の一つです。発光量子収率とは、吸収された光（エネルギー）に対し、どのくらいの効率で発光が得られるかを示す値です。サンプルに吸収された光子数と発光の光子数を測定することで、発光量子収率を算出します。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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特性X線を検出！微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…
どの元素の特性X線エネルギーに 対応するかを調べることで、元素の種類を調べることができる ■金属間化合物の半定量分析 ・各特性X線の強度(カウント数)を調べることで、含有元素の 濃度を算出することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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『スマートフォンを用いた潤滑油の簡易劣化診断技術』＜開発中＞
潤滑油の劣化・汚損具合の状態を簡単にチェック。液体物の異物検査にも活用…
現場で手軽に潤滑油の劣化や汚損具合を診断できる技術です。 撮影用モジュールに潤滑油を入れ、お手持ちのスマートフォンで撮影し、 スマホアプリを用いた画像解析により潤滑油の余寿命を現場診断で算出。 潤滑油に混入した塵埃や摩耗紛などの異物を検知でき、 他の液体物の異物検査にも適用可能です。 【特長】 ■潤滑油メーカーならではの潤滑油の劣化状態を解析する診断技術 ■現場で定量...
メーカー・取り扱い企業： 出光興産株式会社 潤滑油二部 セールス＆マーケティング課
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発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます
リアが1/eになるまでの時間です。これを適切に制御することがデバイスの電気特性をコントロールする上で重要です。 一方、発光寿命とは試料からの発光強度が1/eになるまでの時間を示し、発光減衰曲線から算出可能です。少数キャリアの一部は再結合時に発光するため、発光寿命測定から間接的にキャリアライフタイムの評価が可能です。本資料では4H-SiCエピ基板のキャリアライフタイム評価の事例を紹介します。 測...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました
学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し、それぞれの粒径を算出しました。 測定法：SEM、Slice&View、計算科学・AI・データ解析 製品分野：太陽電池、二次電池、燃料電池 分析目的：構造評価、形状評価、故障解析・不良解析 詳しくは資料を...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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金属組成評価として、始めにXRF分析での元素スクリーニングをお勧めしま…
は、金属切断用の刃を対象としてXRF分析を行ったデータを紹介します。 mmオーダーの広範囲にて面分析を行うことで材料中の金属元素の分布をおおまかに調べ、特徴的な箇所のXRF点分析結果から元素組成を算出することで金属材料の推定を行いました。 測定法：XRF 製品分野：製造装置・部品・日用品 分析目的：組成評価・同定・組成分布評価・故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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高い再現精度で評価可能
ギー(1keV以下)の一次イオンビームを用いたSIMS分析が必要になります。今回、B+を低エネルギーでイオン注入したSiウエハを1keVの酸素イオンビームを用いて、日をまたいで、6回測定した結果から算出したBの面密度の相対標準偏差は3%以下であり、極浅い不純物分布評価においても通常のSIMS分析と同様に高い再現精度が得られることが示されました。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化
粉末X線回折データから結晶構造の精密化が可能です
事例を紹介します。シミュレーションによって実測の粉末X線回折データを再現するような結晶構造モデルを求めることで、格子定数・各サイトの占有率・カチオンミキシングの割合などの結晶構造パラメーターを精密に算出することが可能であり、これらを基に材料物性を考察することができます。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能
する金属濃度分布を調査するため、TOF-SIMSを用いて評価を行いました。TOF-SIMSはベベル部近傍のみの金属成分を検出する空間分解能を有しており、濃度既知の標準試料を用いることで濃度を定量的に算出することが可能です。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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～XPSと計算シミュレーションの比較から～ 価電子帯スペクトルからの…
からの光電子スペクトルより物質の組成・結合状態を評価する手法です。一方でフェルミ準位近傍には最外殻電子の状態を反映した価電子帯スペクトルが現れます。本資料では、Sn酸化物に対して第一原理計算によって算出した状態密度とXPSによって取得した価電子帯スペクトルを比較、考察することで、Sn酸化物に対する還元処理の検証を行った事例をご紹介します。 計算シミュレーションを用いることで取得したXPSスペクト...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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イメージングSIMSによって局在する元素の評価が可能
S測定を行いました。図1に分析によって得られた11B,Asのイオンイメージを示します。11BとAsは同じ領域に注入されていることがわかります。 また、通常の分析では検出領域全体の各元素の平均濃度が算出されてしまいますが、イメージングSIMS測定においては、部分的にデプスプロファイルを抽出することができるため、面内に局在するドーパントの濃度分布を評価することができます（図2）。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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高分解能EELSトモグラフィー
トモグラフィーは、試料を連続的に傾斜させて撮影した多数の投影像をコンピュータで画像処理し、3次元的内部構造を再構成する手法です。粒子など表面積・体積の算出も可能です。 Csコレクタ付きSTEMで0～180度のEELSマップ連続傾斜像を取得することにより、鮮明な3次元（3D)元素分布を構築することが可能となります。HAADF像の苦手とする平均原子番号...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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SRA：広がり抵抗測定法
るまた、必要に応じて体積補正による分布の補正を行う ＊)校正曲線は導電型(p型/n型)、および面方位によって異なります ３. 比抵抗とキャリア濃度の関係式＊）を用いてキャリア濃度(/cm3) を算出する...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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多点マッピング測定により膜厚分布を可視化
のAuの膜厚分布について多点マッピング測定をした事例をご紹介します。 多点マッピングを行うことで、各点のXRFスペクトルよりFP(Fundamental Parameter)法を用いてAu膜厚を算出し、測定座標より膜厚分布の評価をすることが可能です。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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