シリコン（Si）粉末

PRSi純度2N～4N、粒度分布50nm～3mmに対応。ニーズに合わせカス…

当社は、用途に応じた純度や粒度分布のカスタマイズに対応可能な 『シリコン（Si）粉末』を提供しています。 Si純度は2N（Si＞99.0％）、3N（Si＞99.9％）、4N（Si＞99.99％）、 粒度分布は微粉末（100nm～）、粉末（1.0μm～）、粒体（1～3mm）に対応。 プラズマアーク合成により50nmまでの微粉化を実現した『超微粉末』もあり、 超微粉末はSi純度2Nに...

メーカー・取り扱い企業： 日本NER株式会社

ピボットコンベア・フライトコンベアの各種カタログ

PR食品輸送等でも多数実績あり！水平・垂直に搬送！超小型で既設ラインへの組…

コンベアのカタログまとめてプレゼント中！ 株式会社翔和は、 埼玉県に本社を置く専門企業で、 バケットコンベア、フライトコンベアなどのコンベヤシステムを製造・販売しています。 また、舞台照明器具やコンクリート関連の機械も取り扱っています。 【カタログの内容】 ○ピボットコンベア（バケットコンベア） 搬送時のコンベア間の乗り継ぎが無くなり、粉粒体や固形物を優しく運んで 「割れ」や「欠け」「異物混入...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社翔和

卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察

微細なクラックが見やすい！導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ま…

性がある微小なクラックもSEM観察では 明確に確認することが可能です。 しかも卓上SEMなら、導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます。 【特長】 ■蒸着不要 ■簡易的に結晶粒が見える ■微細なクラックが見えやすい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】EBSDによるウイスカ解析

ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介…

機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を 紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像などを掲載しています。 EBSD法により測定された結晶粒と結晶粒界が一致していることがわかります。 ぜひご一読ください。 【掲載事例】 ■観察/断面作製 ■EBSDによる解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス