• ★中心粒径250nm~★焼結体向け超微粒SiCパウダー 製品画像

    ★中心粒径250nm~★焼結体向け超微粒SiCパウダー

    PR【低温焼結・高密度化】焼結用材料に好適!超微粒α-SiCパウダー

    当社独自のSiC(炭化ケイ素)微細化技術を活かしたα-SiCパウダー『GC#40000』をご提供 『Dv50(中心粒径):0.25μm』の超微粒SiCによる、優れた焼結性を示します (GC#40000を焼結体原料に使用により期待されるメリット)  ・低温焼成:CO2削減、ランニングコスト低減  ・緻密化 :成形体強度の向上、ポアの抑制 ※プレス成型や金型における流動性が必要な場合、球状SiC造...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フジミインコーポレーテッド

  • 6月5日 は空気の日!パナソニックのセンサーで空気の見える化を! 製品画像

    6月5日 は空気の日!パナソニックのセンサーで空気の見える化を!

    PR大気環境を見える化。屋内の空気質の変化をリアルタイムで出力し、お客様の…

    6月5日は国連が制定した「世界環境デー」です。これにちなんで空気をまつる「空気神社」がある山形県朝日町では、生物にとってなくてはならない空気に感謝する心を育む目的で「空気の日」を町の条例で1992年に制定しました。 私たちの吸う空気中には『PM2.5』などの微粒子が含まれており、健康被害などを懸念する声が聞かれます。 パナソニックでは一般的にホコリセンサー、ダストセンサーとも呼ばれている『PM2...

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    メーカー・取り扱い企業: パナソニック ライティングデバイス株式会社

  • 動的光散乱法による無機粒子の粒径測定 製品画像

    動的光散乱法による無機粒子の粒径測定

    粒径、粒子径分布を求める!水媒体中のシリカ粒子、アルミナ粒子の粒径測定…

    動的光散乱法により、液中に分散したナノメートルレベルの粒子を分離する ことなく、粒子径・粒度分布を測定することが可能です。 水媒体中のシリカ粒子、アルミナ粒子の粒径測定の例を紹介します。 溶液中の粒子は粒子径に依存したブラウン運動をしており、粒子に光照射した ときに生じる散乱光のゆらぎは、粒子径に依存します。このゆらぎを観測、 解析することで、粒径、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 発生粒子全量評価サービス 製品画像

    発生粒子全量評価サービス

    機械パーツや各種素材の発塵量を評価。発生した微粒子の全量カウントと粒径

    微粒子発生量評価装置「P-Wind」は、当社の微粒子可視化技術を応用して開発された新しいタイプの評価装置です。 供試体から発生した微粒子の全量をリアルタイムにカウント(計数)するだけでなく、粒径分級も同時に行うことができます。 【 特長 】 ■ 発生粒子の全量測定が可能です。測定・評価結果は報告書として提出します。(JIS B9926 に準拠) ■ 高速サンプリング技術により応答...

    メーカー・取り扱い企業: 新日本空調株式会社 ソリューション事業部

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    【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析

    深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました

    、深層学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し、それぞれの粒径を算出しました。 測定法:SEM、Slice&View、計算科学・AI・データ解析 製品分野:太陽電池、二次電池、燃料電池 分析目的:構造評価、形状評価、故障解析・不良解析 詳しくは...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】二次電池正極活物質の構造評価 製品画像

    【分析事例】二次電池正極活物質の構造評価

    活物質の粒径・結晶方位評価、原子レベル観察が可能

    ン二次電池は充放電によるイオンの脱離・挿入などで電極活物質に成分や結晶構造の変 化が生じます。正極活物質として用いられるLi(NiCoMn)O2(NCM)の構造評価として、EBSDにより一次粒子の粒径や配向性を評価しました。更に、方位を確認した一次粒子について高分解能STEM観察を行 い、軽元素(Li,O)の原子位置をABF-STEM像で、遷移金属(Ni,Co,Mn)の原子位置をHAADF-S...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析 製品画像

    技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    分解能が数十 nm程度に対してASTARを用いたACOM-TEM法では2~5 nm)。また、識別できる結晶構造が多いことも特長である。通常のTEM解析では取得困難な結晶方位マップ、結晶相マップおよび粒径分布などを得ることで定量的な解釈が可能である。さらに、TEM観察と同一視野で測定できることから、(S)TEM-EDX / EELSと合わせた複合的な解析やin-situ TEMとの併用も可能となる。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像

    EBSD分析(電子後方散乱回折法)

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    きます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界(対応粒界)観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・隣接結晶粒の回転角の測定が可能 ・透過法により10nm以上のグレインを評価可能...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • NANOSIGHT(ナノサイト) エクソソーム受託測定サービス 製品画像

    NANOSIGHT(ナノサイト) エクソソーム受託測定サービス

    精製済エクソソーム測定の受託を行っています!NANOSIGHT(ナノサ…

    当社では、ナノ粒子解析システム「NANOSIGHT(ナノサイト)」を使って、 サンプルをご送付(ご持参)いただいた試料を、当社技術者が測定し レポートをご提供する『エクソソーム受託測定サービス』を行っています。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■計測可能範囲  ・サイズ:30~1,000nm(サンプルにより前後)  ・個数濃度:10^6~10^9 pa...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社

  • ウルトラファインバブル/UFB/ナノバブル受託測定サービス 製品画像

    ウルトラファインバブル/UFB/ナノバブル受託測定サービス

    ウルトラファインバブル測定の受託を行っています!NANOSIGHT(ナ…

    当社では、ナノ粒子解析システム「NANOSIGHT(ナノサイト)」を用いた 『ウルトラファインバブル(UFB / ナノサイズのバブル)受託測定サービス』を 行っております。 当社までサンプルをご送付(またはご持参)いただいた試料を、技術者が測定し レポートをご提供致します。 【概要】 ■計測可能範囲 (分散媒体は原則水)  ・サイズ:50~1,000nm(サンプルにより前後...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社

  • [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 製品画像

    [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

    ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

    TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能 ・FIBで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能 ・オプション機能を組み合わせること...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SAXS]X線小角散乱法 製品画像

    [SAXS]X線小角散乱法

    ・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

    測定することができます。 ■粒子内部における散乱 粒子内部における散乱では、(2)のようなプロファイルが得られます。プロファイルの傾きは粒子(空孔)の大きさを反映しており、形状は粒子の形状や粒径分布を反映します。 広角に散乱されたX線⇒Åオーダーの結晶の面間隔・歪み・配向性を評価 低角に散乱されたX線⇒ナノオーダーの分子の周期性・配向性を評価...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定 製品画像

    【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定

    「実装条件違いや経年劣化で起きる不具合は何か?」 はんだ内部に潜む問題…

    電子線後方散乱回折法EBSD(Electron Backscatter Diffraction Pattern)は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・微小領域での結晶粒径、相構造に関する分析 ・実装部などの微小部における残留応力の評価(約50μmでの解析事例あり) 本事例では 【EBSD】はんだ断面の内部歪み測定 を紹介しています。 EBSDで熱衝...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法 製品画像

    [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

    TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

    手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM(Automated Crystal Orientation Mapping)-TEM法とも呼ばれます。 結晶粒径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 双晶粒界(対応粒界)の観察が可能 特定結晶方位の抽出が可能 隣接結晶粒の回転角の測定が可能 数nm以上の結晶粒を評価可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【受託測定】粉度分布 製品画像

    【受託測定】粉度分布

    混練・外添などきめ細やかな対応!粉度分布を高精度で測定できます!

    ー原料の粉砕には欠かすことのできないベックマン・コールター社 製精密粉度分布測定装置「マルチサイザー」を設置し、高精度で 測定することが可能です。 原料粉砕後、各種添加剤などの混練・外添、粒径をそろえるための 篩(ふるい)等を経た後、指定の梱包形態にて納品いたします。 【保有設備】 ■レーザー回折式粉度分布測定装置 ■マルチサイザー3 ■ミキサー(200L) ■混練機「P...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社荒木製作所

  • 【測定事例あり】EBSD解析の非鉄金属材への適用 製品画像

    【測定事例あり】EBSD解析の非鉄金属材への適用

    当社独自の技術を用い前処理方法を最適化!異種多層の観察・解析が可能

    られる主な情報】 ■結晶方位(IPFマップ、極点図、Schmid Factorマップ) ■結晶相(Phaseマップ) ■歪(KAMマップ、GRODマップ、GAMマップ、GOSマップ) ■結晶粒径 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

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