CZ/高抵抗FZ 各種ウェーハ販売(評価・開発・テスト用)

PR少量ウェーハに対応！研究・テスト用途に便利なウェーハ販売サービス！ ハ…

【取扱商品】 ＊CZ・FZ・拡散ウェーハ・SiC・SOI・EPI・GaAs・SiGe・GaSb・サファイア・ゲルマニウムなど様々な半導体用ウェーハを扱っております。 ＊プライム・テスト・モニター用ベアウェーハ(高精度ウェーハ・パーティクルチェック用・COP対策品等） ＊SOIウェーハ：高抵抗デバイス層、基板も対応可、ウェーハを支給していただきSOIウェーハへ加工することも可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エナテック 東京本社

セラミック系重防食ライニング『Si-8000』

PR塩酸、硫酸、硝酸、腐食性薬品に耐性があります！金属各種、プラスチックや…

『Si-8000』は、耐熱複合材の宇宙技術開発から生まれた、画期的な 機能を有するセラミックコーティングです。 SiO2シリカガラスを厚膜化、ヒビや割れに強い、常温～250℃での 低温施工、幅広い基材形状に施工可能、GL機器の代替、補修も可能。 硬いけれども割れず、塩酸や硫酸なども問題なく使用可能な 耐薬品性といった特長が備わっております。 被膜には酸・アルカリ・溶剤等に対...

メーカー・取り扱い企業： サーフ工業株式会社

三次元光屈折率・膜厚測定装置　プリズムカプラ　SPA-3DR

試料のX軸・軸・Z軸の光屈折率を回転しながら測定！FPD用フィルムやS…

Sairon Technology, Inc. 三次元光屈折率・膜厚測定装置　プリズムカプラ　SPA-3DRは、試料のX軸・Y軸・Z軸の光屈折率を回転しながら測定します。測定対象は透明フィルム、透明フィルム上の薄膜、石英、液体などがあり、FPD用フィルム、SiO2等...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

光損失測定装置

プリズムカプラ式 光損失測定装置 (世界最高精度0.01dB/cm達成…

●光導波損失・測定可能精度：0.01dB/cm (連続測定法・特許取得済)※世界最高精度（当社調べ） ●光屈折率・測定可能範囲：1.0〜2.4　精度：0.001 ●膜厚・測定可能範囲：0.4um〜30um　精度：±0.5％ ●温度依存性・測定可能範囲：室温〜摂氏100度（光屈折率の測定が可能） ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

膜厚-光屈折率-光伝搬損失　測定装置

プリズムカプラ式 光損失測定装置 (世界最高精度0.01dB/cm達成…

●光導波損失・測定可能精度：0.01dB/cm (連続測定法・特許取得済)※世界最高精度（当社調べ） ●光屈折率・測定可能範囲：1.0〜2.4　精度：0.001 ●膜厚・測定可能範囲：0.4um〜30um　精度：±0.5％ ●温度依存性・測定可能範囲：室温〜摂氏100度（光屈折率の測定が可能） ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー