• CZ/高抵抗FZ 各種ウェーハ販売(評価・開発・テスト用) 製品画像

    CZ/高抵抗FZ 各種ウェーハ販売(評価・開発・テスト用)

    PR少量ウェーハに対応!研究・テスト用途に便利なウェーハ販売サービス! ハ…

    【取扱商品】 *CZ・FZ・拡散ウェーハ・SiC・SOI・EPI・GaAs・SiGe・GaSb・サファイア・ゲルマニウムなど様々な半導体用ウェーハを扱っております。 *プライム・テスト・モニター用ベアウェーハ(高精度ウェーハ・パーティクルチェック用・COP対策品等) *SOIウェーハ:高抵抗デバイス層、基板も対応可、ウェーハを支給していただきSOIウェーハへ加工することも可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エナテック 東京本社

  • ハイパースペクトルカメラ SPECIM FXシリーズ 製品画像

    ハイパースペクトルカメラ SPECIM FXシリーズ

    PR可視域~中赤外域まで高速測定!

    非接触・非破壊で可視領域及び目では見えない 近/中赤外領域の2次元スペクトルデータを取得可能!...産業用および実験室用に設計されています。ラインスキャンモードで動作します。 ...

    メーカー・取り扱い企業: コニカミノルタジャパン株式会社 センシング事業部

  • インライン型膜厚計の分析例 製品画像

    インライン型膜厚計の分析例

    インライン型膜厚計の分析例について紹介します。

    膜厚の管理は製品の信頼性を左右するだけでなく原材料の削減にも貢献します。可搬型蛍光X線分析装置「OURSTEX100FA」は工場の製造工程で膜厚の分析を行うことが可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...

    メーカー・取り扱い企業: アワーズテック株式会社

  • 薄膜の連続監視に!非破壊分析のライン組込式蛍光X線分析装置。 製品画像

    薄膜の連続監視に!非破壊分析のライン組込式蛍光X線分析装置。

    自在にカスタマイズできる、ライン組込式蛍光X線分析装置! フィルムのコ…

    社の非破壊分析技術を生かした、 ライン組込式エネルギー分散型蛍光X線分析装置 「OURSTEX100TA-F」をご紹介いたします。 成膜装置へ組込めば、フィルム上に成膜された 物質の連続膜厚測定、連続組成分析が可能になります。 フィルム本体や樹脂に含まれる成分の連続分析・測定も可能です。 流体の組成の連続モニタリングにも応用可能です。 カスタマイズにより、モニタリング対象元素...

    メーカー・取り扱い企業: アワーズテック株式会社

  • エネルギー分散型蛍光X線分析装置『OURSTEX180』 製品画像

    エネルギー分散型蛍光X線分析装置『OURSTEX180』

    当社保有の要素技術を結集!軽元素から中重元素分析まで幅広い高感度測定が…

    エネルギー分散型蛍光X線分析装置です。 軽元素から中重元素分析まで、幅広い高感度測定が可能。 オイル中のS、CI分析や、セメント・焼却灰中の軽元素分析、 フィルム上の微量軽元素分析、膜厚分析などに適しています。 【特長】 ■コンパクトで可搬性に優れる ■L線専用2重湾曲モノクロメーター搭載 ■Pd-Lα単色励起により軽元素の検出感度が向上 ■高性能SDD検出器・高計数...

    メーカー・取り扱い企業: アワーズテック株式会社

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