• SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器  製品画像

    SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器

    PR裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定

    【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 電磁式/渦電流式両用 膜厚計『SWT-NEOシリーズ』 製品画像

    電磁式/渦電流式両用 膜厚計『SWT-NEOシリーズ』

    PR【膜厚計の基礎知識集進呈中】専用プローブにより測定素地金属を自動認識!…

    サンコウ電子研究所の『SWT‐NEOシリーズ』は、塗装/ライニング/メッキや アルマイトなどの絶縁性皮膜に用いることが出来る、膜厚計です。 測定用途に合わせ、鉄素地用プローブまたは非鉄金属素地用プローブ、 鉄・非鉄素地両用から接続プローブの選択が可能になっています。 スリムなボディ設計で手持ち作業の疲労低減。 分かりやすいガイド表示画面で操作も簡単です。 【特長】 ■専用...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サンコウ電子研究所

  • パワーデバイスの故障解析 製品画像

    パワーデバイスの故障解析

    ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

    あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理-裏面研磨-  各種サンプル形態に対応します。  Siチップサイズ:200um~15mm角 ■不良箇所特定-裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析-  IR-OBIRCH...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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