• イオンビームエッチング(IBE)・成膜装置(IBD) 製品画像

    イオンビームエッチング(IBE)・成膜装置(IBD)

    PRR&D用特殊仕様から量産向けまで対応可能!一般的なグリッドと比較して約…

    当社で取り扱う、「イオンビームエッチング(IBE)・成膜装置(IBD)」を ご紹介いたします。 標準的なエントリーモデルから、膜厚均一性等の精密な制御が可能な ハイエンドモデルまでラインアップ。企業、アカデミアでの研究開発向けに、 グローブボックス付属等の特殊仕様にも対応します。 また、R&Dのラボスケールから量産まで対応し、難エッチング材料のエッチング プロセスや、デュアルイ...

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    メーカー・取り扱い企業: プラズマ・サーモ・ジャパン株式会社

  • 電磁式/渦電流式両用 膜厚計『SWT-NEOシリーズ』 製品画像

    電磁式/渦電流式両用 膜厚計『SWT-NEOシリーズ』

    PR【膜厚計の基礎知識集進呈中】専用プローブにより測定素地金属を自動認識!…

    サンコウ電子研究所の『SWT‐NEOシリーズ』は、塗装/ライニング/メッキや アルマイトなどの絶縁性皮膜に用いることが出来る、膜厚計です。 測定用途に合わせ、鉄素地用プローブまたは非鉄金属素地用プローブ、 鉄・非鉄素地両用から接続プローブの選択が可能になっています。 スリムなボディ設計で手持ち作業の疲労低減。 分かりやすいガイド表示画面で操作も簡単です。 【特長】 ■専用...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サンコウ電子研究所

  • 半導体分析 製品画像

    半導体分析

    各種半導体の様々な目的に合わせて、各種手法で分析が可能!

    半導体材料分析項目 原子レベルの構造観察、結晶構造、転位密度、膜厚 表面形状、断面構造(膜厚) 結晶性(面方位)、積層膜の周期構造 表面組成、結合状態、深さ方向分布 不純物濃度、深さ方向分析 結晶構造、応力歪 構成元素、組成 表面のヤング率、硬度...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • DLCの物理分析 製品画像

    DLCの物理分析

    DLC(ダイアモンドライクカーボン)の各種分析が可能!

    DLC(ダイアモンドライクカーボン)の結晶性、膜厚の構造、水素量、密度、硬度の評価を紹介いたします。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

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