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  • インパルスノイズ試験器 INS-S100 製品画像

    インパルスノイズ試験器 INS-S100

    PR電源ラインからの侵入や通信線などへの誘導ノイズによる電子機器の性能評価…

    インパルスノイズ試験器はスイッチングデバイスの接点間の放電、電子モーターから発生するアーク放電などによる立ち上がりの早い高周波ノイズを模擬的に発生させ、電子機器の耐性を評価する試験器です。 インパルスノイズ試験器INS-S100は、50Vからのパルス出力が可能で、製品開発時の回路基板や弱電部品などのノイズ耐性評価が手軽に行えるほか、市場での不具合発生時の解析などにも活用できます。 ○ ...

    メーカー・取り扱い企業： 株式会社ノイズ研究所（NoiseKen）

  • 超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ 製品画像

    超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

    PR超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

    Sony社製 CMOSセンサ(Pregius IMX661/3.6型)を搭載した、1億2700万画素のCoaXPressカメラ「VCC-127CXP6」と、Canon社製CMOSセンサ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、...

    メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

  • 解析ソフトウェア　アンテナ設計ソリューション 製品画像

    解析ソフトウェア　アンテナ設計ソリューション

    アンテナ設計をより早く、簡単に！分散解析環境を活用し、大規模な解析が可…

    Ansysのアンテナ設計ソリューションはアンテナ単体の解析はもちろんのこと、アンテナが製品に実装された状態や２つ以上のアンテナを同時に解析することで実際の通信状態における送受信特性やアンテナによって生じる電磁界現象の可視化を行うことが可能です。また分散解析...

    メーカー・取り扱い企業： アンシス・ジャパン株式会社

  • 【技術記事】迷光解析 製品画像

    【技術記事】迷光解析

    迷光解析は、光学アセンブリおよびメカアセンブリの両方で重要な検証ステッ…

    この記事では、ノンシーケンシャルモードでフィルタ文字列機能を使用した迷光分解析手法とその他の重要な機能について説明します。 ※記事の続きは関連リンクでご覧ください。...

    メーカー・取り扱い企業： アンシス・ジャパン株式会社

  • 【製品情報】Zemax 新リリース 22.1 のお知らせ 製品画像

    【製品情報】Zemax 新リリース 22.1 のお知らせ

    STAR モジュールの機能強化およびOpticStudioとOptic…

    当社の主要 3 製品の最新リリースを発表します。Zemax の主力製品である光学設計ソリューション OpticStudio、オプトメカパッケージングを効率化する OpticsBuilder、有限要素解析 （FEA） パッケージと OpticStudio 間のワークフローを簡易化・最適化する最新製品 OpticStudio STAR モジュールの最新リリースを発表しました。この最新バージョン 22....

    メーカー・取り扱い企業： アンシス・ジャパン株式会社

  • 【技術記事】フラッシュLiDAR光学系の開発 製品画像

    【技術記事】フラッシュLiDAR光学系の開発

    光学設計から機械パッケージングまでーOpticStudioとOptic…

    を構成するシーケンシャルモデルを評価する方法をご紹介します。またノンシーケンシャルモードへの変換のデモンストレーションを行い、現実の光源特性や散乱形状などの詳細情報の挿入の仕方を実演します。カスタム解析の作成も可能で、ここでは観測するシーンの奥行き情報を取得します。最後に、OpticsBuilderとネイティブのOpticStudio形状を使用して、フラッシュLiDAR光学系にハウジングを提供しま...

    メーカー・取り扱い企業： アンシス・ジャパン株式会社

  • 【技術記事】バルク散乱をモデル化する方法 製品画像

    【技術記事】バルク散乱をモデル化する方法

    Henyey-Greenstein 分布を使用したバルク散乱をモデル化…

    してノンシーケンシャル モードで Henyey-Greenstein バルク散乱をモデル化する方法について解説します。このモデルの基盤となっている理論について簡単に説明し、DLL を使用した光学系の解析例を 2 つ紹介します。 ※記事の続きは関連リンクでご覧ください。...

    メーカー・取り扱い企業： アンシス・ジャパン株式会社

  • 【技術記事】ZOS-APIを用いてTOFのユーザ解析をの作る方法 製品画像

    【技術記事】ZOS-APIを用いてTOFのユーザ解析をの作る方法

    ZOS-APIを用いてタイムオブフライトのユーザ解析の作る方法

    この記事では、LiDARシステムの飛行時間（タイムオブフライト:TOF）を測定するために、ZOS-API を使用してユーザー解析を作成する方法を紹介します。この解析は、ZRD ファイルを読み込みデータを抽出し、ディテクタに到達する光線の飛行時間をプロットします。 ※記事の続きは関連リンクでご覧ください。...

    メーカー・取り扱い企業： アンシス・ジャパン株式会社

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