• 【導入事例】横河マニュファクチャリングの製造現場をAIで作業解析 製品画像

    【導入事例】横河マニュファクチャリングの製造現場をAIで作業解析

    PR【導入事例無料進呈】AIを使って世界6大メーカー工場の組立工程の効率化…

    製造業界が直面する重要課題に対し、横河マニュファクチャリング株式会社はコーピーの作業解析AIを導入し、顕著な成果を上げました。 本導入事例では、その詳細なプロセスと具体的な成果について紹介しています。 【解決した課題】 1.業務の属人化 2.人財育成と技術継承の問題 3.作業員の負荷 4.品質のばらつき 【導入効果の一部をご紹介】 1.工程異常の早期発見: コーピーのAI技...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社コーピー 本社

  • 【現場管理者向け】映像から作業工程を分析・可視化:作業者解析AI 製品画像

    【現場管理者向け】映像から作業工程を分析・可視化:作業者解析AI

    PR手作業工程もAIの力を借りて大幅に効率化!製造現場の動画から作業工程を…

    作業者解析とは 作業者解析AIは、製造ラインにおける作業をリアルタイムおよび録画映像で見える化し、効率的な生産プロセスを実現するための革新的なツールです。サイクルタイムの正確な把握、工程フローの最適化、作業動作の改善、人材配置の最適化、作業漏れ検知、作業負荷の推定など、製造現場の生産性と品質を飛躍的に向上させることができます。 作業解析のメリット 1.驚異的な効率化 ・作業工程の詳細解析で無駄を...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社コーピー 本社

  • 【課題事例】パワー半導体の故障部位が深い / 分析・故障解析 製品画像

    【課題事例】パワー半導体の故障部位が深い / 分析・故障解析

    3つのカタログと動画も掲載。「パワー半導体の故障部位が深くて観察しづら…

    パワー半導体の故障解析の現場において、裏面から「プラズマFIB」による開封・加工が力を発揮します。 ソースやゲートがある構造物まで、加工・観察・分析が可能。 数十μmの通常加工から500μmまでの断面加工が可能で...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【故障解析事例】アバランシェ破壊の再現実験 製品画像

    【故障解析事例】アバランシェ破壊の再現実験

    内部に空洞が形成!Al電極、はんだを溶かした様子が確認できた事例をご紹…

    内部に空洞が形成され、Al電極、はんだを溶かした 様子が確認できました。 【事例概要】 ■再現実験サンプル ・RC-IGBT(Reverse-Conducting IGBT) ■非破壊解析 ・X線観察、超音波探傷 ■詳細解析 ・断面研磨、FE-SEM、EDS ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    • アバランシェ破壊の再現実験2.jpg
    • アバランシェ破壊の再現実験3.jpg
    • アバランシェ破壊の再現実験4.jpg
    • アバランシェ破壊の再現実験5.jpg
    • アバランシェ破壊の再現実験6.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 半導体パッケージ開封技術(Cuワイヤ・Auワイヤ) 製品画像

    半導体パッケージ開封技術(Cuワイヤ・Auワイヤ)

    薬液ダメージ低減、高い加工位置精度!IC等のパッケージ開封サービスをご…

    ザ開封設備も併用することで薬品の 浸漬時間を短縮し、ワイヤへのダメージ低減ができる開封を実現しています。 ワイヤダメージが少ない、あるいは、ほぼ無い状態で開封することができます ので、故障解析における故障個所の観察や良品解析におけるワイヤの接合試験 の評価を行うことが可能。 また、レーザ開封設備に関しては薬液ダメージ低減だけでなく、高い加工位置 精度を有しておりますので、微小I...

    • 半導体パッケージ開封技術-2.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-3.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-4.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-5.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-6.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-7.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-8.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-9.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-10.PNG

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • EDS(エネルギー分散型X線分光法)による元素分析のご紹介 製品画像

    EDS(エネルギー分散型X線分光法)による元素分析のご紹介

    SEMでの高倍率観察中に試料の特定箇所をピンポイントで評価できるため、…

    。 その中には元素固有の情報を持った特性X線が含まれています。 これを半導体検出器のようなエネルギー分散型検出器にて検出し、そのエネルギーと強度を測定すると、 物質を構成する元素を定性的に解析することが出来ます。 【特長】 ■定量分析が可能(バルク材料など) ■多元素同時測定が可能で分析時間が短い ■μmオーダーの微小領域分析が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか...

    • 図5.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

1〜4 件 / 全 4 件
表示件数
30件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • イプロス20240902_2 (2).jpg
  • 300x300.jpg

PR