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PR(6月末まで限定機種キャンペーン) ウルトラビジョンIIテクノロジ世代…
クラス最高のサンプリングとメモリ長にを備えて、自社開発したチップセットを搭載により高機能のミックスドシグナルオシロスコープ、組み込み設計、電力分析、シリアルデコード、RFアプリケーション、ジッター及びアイパターン解析などに適した1台 ■ 周波数帯域: 600MHz / 1GHz / 2GHz、 サンプリングレート:最大10Gサンプル/秒、メモリ長:最大500Mポイント、波形取り込みレート:...
メーカー・取り扱い企業: リゴルジャパン株式会社
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X線検査受託サービス【大型製品に対応】Nadcap認定を取得
PRギガキャストなど大型製品のX線検査に対応!
KILTではX線CTと透過X線の異なるタイプのX線装置を保有しており、 様々な材質やサイズの製品のX線検査に対応しています。 最新鋭のX線CTシステム「FF85」は、 国内最大クラスの出力を誇る600kVミニフォーカスX線管と 高精細なX線撮影に最適な225kVマイクロフォーカスX線管を搭載、 また、ラインセンサとフラットパネルの2つの検出器を搭載しており、 あらゆる対象物のCTスキャンを行って...
メーカー・取り扱い企業: TANIDA株式会社 かほく本社工場
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発光特性の解析から試料の比較が可能です。
ち、蛍光指紋とも呼ばれます。蛍光光度計は感度が高く、また3D蛍光スペクトルは情報量が多いという特徴を有しており、食品や化粧品、日用品、環境排水等の分析への応用が期待されています。3D蛍光スペクトルの解析に多変量解析を使用することで、データの次元を圧縮・削減し特徴を可視化して捉えることが可能です。本資料ではその一例として、オリーブオイルについて分析を行った例を紹介します。 測定法:蛍光光度計、計算...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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弊団取り扱い全手法の詳細解説・納期・料金など、分析をご検討される際に必…
載内容★ ■分析手法紹介 ・質量分析法 ・電子分光法 ・電子顕微鏡観察/分析 ・振動分光 ・X線回折関連 ・SPM関連 ・非破壊検査/故障解析 ・そのほかの測定法 ・加工法/処理法 ■ご依頼方法 ・ご依頼の流れ ・セミナー/展示会のご紹介 ・よくあるご質問 FAQ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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『X線・超音波を用いた非破壊分析の基礎と事例』※希望者全員に進呈
非破壊分析の手法(超音波顕微鏡法・X線CT法)の基礎的な解説や、代表的…
)】 ■X線・超音波を用いた非破壊分析の手法紹介 ・超音波顕微鏡法 ・X線CT法 ・in situ X線CT測定 ■分析事例 ・炭素繊維強化プラスチック(CFRP)内部の繊維配向解析 ・発泡ウレタン内部の空隙率評価 ・発泡ゴムの引っ張り試験CT測定 ・電子デバイス内特異箇所の複合解析 ・トランジスタ内部の状態評価 など ※冊子をご希望の方は「お問い合わせ」...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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RPA で業務改善を実現。既存プログラムの改善や新規開発、開発者向け研…
が在籍していますので、 貴社の課題に沿った RPA プログラムの新規開発だけでなく、 既存のシナリオの改定はもちろん、 開発者向けの研修など、トータルで対応可能です。 AI によるデータ解析なども承っていますので、 受託分析のみならず、様々な角度から貴社の研究開発をサポートします。 ※サービスにつきましては資料をご覧いただくか、お問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XAFS:X線吸収微細構造
配向性有機膜である自己組織化単分子膜(SAM膜)は表面の濡れ性や吸着性といった膜の機能・物性が配向性・配向角によって変化します。 放射光を用いたXAFSでは、ピーク強度のX線入射角依存性を解析することで有機膜材料の配向性・配向角の評価を行うことが可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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PL:PhotoLuminescence
フォトルミネッセンス(PL)とは、物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に戻る際に発生する光のことです。この発光は物質の不純物や欠陥に影響を受けやすいため、発光を分光し詳細に解析をすることによって、物質中の欠陥や不純物の情報を得ることが可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】有機薄膜太陽電池電極界面および有機膜の分散状態評価
雰囲気の影響を最小限に抑えた総合的な評価解析が可能です
有機デバイスは酸素や水に影響されやすい材料を使用したデバイスです。MSTでは雰囲気の影響を最小限に抑えたサンプル搬送・加工方法・測定環境を整え分析を行っており、より真に近い状態評価が可能です。XPS分析で有機膜と電極の界面の状態評価を評価しました。有機膜表面に存在するチタニアの組成、結合状態を確認できます。TOF-SIMS分析でバルク・へテロ構造有機薄膜太陽電池の有機膜中のP3HT (p型有機半導...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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