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PRmm単位を超える広い面内測定範囲!多結晶セラミックスとSiC単結晶の測…
当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0....
メーカー・取り扱い企業: 株式会社新興製作所
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PRコンパクトながら高解像度・高濃度分解能。画像処理・計測ソフトを標準装備
『EMTシリーズ』はSOFTEX製マイクロフォーカスX線源搭載の コンパクトな卓上型X線検査装置です。 高解像度フラットパネルを採用した「Fタイプ」、 高精細デジタルセンサー採用の「Rタイプ」をラインアップしております。 【特長】 ■最新型のSOFTEX製画像処理・計測ソフトを標準装備 ■高解像度・高濃度分解能を実現 ■操作は全てパソコン制御のため簡単 ※製品につい...
メーカー・取り扱い企業: ソフテックス株式会社 営業本部
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特注システム製品 「干渉系露光装置」のご紹介です。
【ラインナップ】 ○ナノメータ画像位置決め装置 ○防振台 ○フィルム基板張合せ装置 ○偏光板を利用した輝度計測・評価装置 ○リニアスケール付き顕微鏡 ○微小部品組立装置 ○干渉系露光装置 ○分光器用ファイバー集光系 ○基板加工機 ●詳しくはお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: ワイヤード株式会社
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【納入事例】X線計測実験真空容器用高真空排気システム
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測定データの入力・管理業務における課題と解決策を紹介。ヒューマ…
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