MANNER社製『テレメータ』

PR自動車、航空機、船舶、タービン、押出機等の回転体で、様々な計測技術を提…

-　回転体のトルク、測温、振動等の計測に -　標準パッケージからカスタムパッケージまで豊富な選択肢 -　誘導式、中距離伝送タイプ等、様々な機種展開 -　タービンのような高速回転、エンジン、トランスミッション内の耐熱等、優れた環境負荷性能 -　1~124chまで用意でき、カスタムハウジングも用意 -　高応答周波数、高サンプリングレート -　短い遅延時間で信頼性あるリアルタイム計測 -　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツイ 東京本社

アリ溝式ステージ『セルフロックステージ　SLXシリーズ』

PR特許取得のロック機構で止めた位置から微動しないステージ。ロングストロー…

バリエーション豊富で多彩な組み合わせができる「アリ溝式ステージ」に、 ロングストロークでストッパー不要の『SLXシリーズ』が加わりました。 位置調整後にステージをストップする特許取得のセルフロック機構を搭載。 手動ストッパーやクランプ操作による微動・位置ずれの心配がありません。 高い位置決め精度での加工・検査が求められる用途や、 位置調整後に長時間確実に固定したい用途で活躍します...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ミラック光学

光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能！

『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

専用光学系＋画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用シス…

『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

『M-Scope type HS』は、1～10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて 2次元画像検出器に結像する方式を採用しています...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用FFP計測装置

～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置

『高出力レーザ用FFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』

複数の光計測を実現！多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光…

『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測 等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。 光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用画像検出器用ポートを搭載し、 複数の光計測...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステムです。 また、セミオートプローバとの組み合わ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用して...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用FFP計測光学系M-Scope type HF

【※デモ測定対応可能】高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減…

『M-Scope type HF』は、1～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)計測用光学系です。 専用設計のハイパワーレーザ対応FFP計測光学系＋2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せを採用。 高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布 (FF...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム解析モジュール『AP013』

さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム

『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

VCSEL／LED用ウエハレベル発光素子計測システム

さまざまな電気・光学特性をウエハレベルで測定可能！

シナジーオプトシステムズ株式会社の「VCSEL／LED用ウエハレベル 発光素子計測システム」は、VCSEL／LEDなどの発光デバイスをウエハ状態で 解析するシステムです。 各種測定器との組み合わせにより、発光素子のさまざまな電気・光学特性を ウエハレベルで測定するシステ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

システム『M-Scope typeS／NFP計測システム』

ビームスポット観察から高度な光学特性解析まで対応可能！

『M-Scope typeS／NFP計測システム』は、ビームスポット観察から 光デバイスの高度な光学特性解析まで対応可能な、高機能光ビーム観察・ 計測光学系M-Scope typeSとその専用処理システムです。 最高200倍の光...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ウエハレベル発光素子光学特性測定装置

VCSEL等の発光素子の各種光学特性をウエハレベルで測定・検査！

『ウエハレベル発光素子光学特性測定装置』は、VCSEL等各種発光素子の 電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステムです。 VCSELの特性計測に必要な電気的特性測定のほか、発光ビームプロファイル計測・ FFP計測（放射角度分布計測）・IVL計測・偏光計測等の光学的な特性測定を ウエハレベルで行うことが可能です。 【特長】 ■マ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

応用システム『エンサークルドフラックス計測システム』

モード伝播を迅速に評価・測定するシステム！

『エンサークルドフラックス計測システム』は、エンサークルドフラックス・ 結合パワー計数等ファイバの性能評価において特に重要なモード分布の解析が 可能なシステムです。 光ファイバのNFP（ニアフィールドパターン）を解析す...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

シナジーオプトシステムズ株式会社　総合カタログ

各種発光素子・光学モジュールの発光ビーム観察などに最適な製品を掲載！

『シナジーオプトシステムズ株式会社　総合カタログ』は、主に光学機器や 精密機器の開発製造・販売を行うシナジーオプトシステムズ株式会社の 「光ビーム観察・計測光学系光ビーム測定システム」の総合カタログです。 光ビーム観察・計測光学系「M-Scope typeS/NFP計測システム」をはじめ、 その応用システムである「エンサークルドフラックス計測シ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置

シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・…

『光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置』は、当社の簡易型光計測用光学系 M-Scope type Jを使用した光学系方式挿入損失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・出射側コア端面画像を直接観察...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社