• 【自動車業界必見】製品トラブルの事前防止に!『降じん試験装置』 製品画像

    【自動車業界必見】製品トラブルの事前防止に!『降じん試験装置』

    PR「降じん試験」に関する装置概要、試験事例などを掲載した資料を無料進呈!…

    「降じん試験」とは、塵埃試験のひとつで、室内で囲いのある場所で細かい粉じんの自然降下によって、車載機器や自動車部品の密閉性・耐浸食性、可動部品への動きの影響を調べる試験です。 近年は、自動車業界への導入でも注目を浴びており、併せて砂塵試験機を製作した実績も増えてきております。 特にエンジンルームは塵埃環境が非常に厳しく、これらの車載機器や自動車部品の耐塵性を評価することは大変重要とされてお...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社テクノ・ハシモト

  • 医療機器 製品安全規格評価・試験・認証サービス 製品画像

    医療機器 製品安全規格評価・試験・認証サービス

    PRIEC 60601、IEC 61010及び各種個別規格に対応

    弊社は米国OSHAに認められたNRTL(Nationally Recognized Testing Laboratories:国家認定試験機関)の1機関であることをはじめ、IECEEより医用電気機器及び体外診断用医療機器分野での認定を受けたCB認定試験所であり、International Accreditation Service, Inc(米国)から登録を取得したILAC認定試験所でもあります。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社UL Japan

  • EBSD(電子線後方散乱回折法)を利用した結晶解析とは 製品画像

    EBSD(電子線後方散乱回折法)を利用した結晶解析とは

    試料表面で生じる電子線後方散乱回析により金属など結晶性材料の結晶方位・…

    EBSD分析とは、SEM(走査電子顕微鏡)と組み合わせて、金属結晶粒子の方位、微粒子化を解析する事で、問題点を顕在化させ、 設計・プロセス・材料の改善や、品質トラブルの未然防止に役立てることが出来ます。 また、 信頼性試験と組み合わせることにより、評価初期段階での歪み発生箇所の解明、破壊メカニズムの解明などに役立ちます。 【マッピングの例】 ■IQマップ  パターンの良否により結晶性...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D) 製品画像

    非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D)

    2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化…

    非破壊解析技術である「C-SAM(2D~3D)」についてご紹介いたします。 超音波顕微鏡では、主にA-Scanデータを基にして、外観上では確認できない 内部領域の空隙やクラック等の有無を評価しています。 検出データを選択的に用いて画像化できるため、対象の界面情報のみを抽出 できる点がメリット。取得した異物質界面での反射波(A-Scanデータ)を 時間分離することで任意界面の空隙や...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 半導体パッケージ開封技術(Cuワイヤ・Auワイヤ) 製品画像

    半導体パッケージ開封技術(Cuワイヤ・Auワイヤ)

    薬液ダメージ低減、高い加工位置精度!IC等のパッケージ開封サービスをご…

    当社では、薬液条件の改善と共に、レーザ開封設備も併用することで薬品の 浸漬時間を短縮し、ワイヤへのダメージ低減ができる開封を実現しています。 ワイヤダメージが少ない、あるいは、ほぼ無い状態で開封することができます ので、故障解析における故障個所の観察や良品解析におけるワイヤの接合試験 の評価を行うことが可能。 また、レーザ開封設備に関しては薬液ダメージ低減だけでなく、高い加工位置...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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