包装仕様見直しによるコスト削減支援サービス

PR包装仕様見直しによるコスト削減や最適化のお手伝いをさせていただきます！

包装仕様の見直しは、一見単純そうに見えますが実は段ボールや緩衝材などの素材の基礎知識や、緩衝設計、固定技法、評価試験方法、素材の加工方法などの専門知識、また物流に関する幅広い知識や経験が必要とされ、基本的な知識や経験がないと、物流全体のコスト・環境対応・輸送品質を考慮した最適設計は難しいと言われています。 当サービスを利用する事により、以下のメリットが期待できます： （１）　お客...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社 藤沢北事業所

鋼材製品／多様な材料知見と、大型設備を生かした取り組み

PRクラッド鋼板供給以外の製品・サービス、当社設備を活用しお客様の問題を解…

鋼材製品について、主力製品であるクラッド鋼板以外の製品・サービスにも取り組んでいます。 例えば、当社の大型圧延機を活用した委託圧延は、材質に関わらず、板厚600mm超の素材圧延が可能です。 完成品としては板厚・幅・長さのバランスを要考慮ながら、最大重量15トン超、最大幅4メートル超、最大長さ12メートル超の製品ハンドリングも可能です。 委託熱処理についても、バッチ式大型加熱・熱処理炉を保有し...

メーカー・取り扱い企業： 日本製鋼所M&E株式会社 営業本部

高温ラッチアップ試験

高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…

格（抜粋）】 ■JEDEC（JESD78E） ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室温､ClassII：最大使用周囲温度 ■JEITA｛JEITA ED4701／302（試験方法306B）｝ ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室温､ClassII：最大動作温度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

CDM試験 低湿度環境対応

ドライエアにより湿度30％未満を実現！CDM試験における主要規格の湿度…

EDEC JS-002-2018：相対湿度30％未満 ■AEC-Q100-011 Rev-D・AEC-Q101-005 Rev-A：相対湿度30％未満 ■JEITA ED-4701/302A(試験方法305D)：周囲温度25℃±5℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD(HBM・MM)試験受託サービス

DUTボード作製から試験まで！ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…

『ESD(HBM・MM)試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

液槽冷熱衝撃試験

高温180℃対応！車載用・高温対応の電子部品等、高耐熱部品の試験・評価…

株式会社アイテスでは、『液槽冷熱衝撃試験』を行っております。 液体を媒体として温度変化によるストレスを与え、気槽式熱衝撃試験よりも 温度変化が急峻なため、短期間で実施するのに有効な試験方法です。 当装置では、高温の最高温度が180℃まで対応可能なため、高耐熱部品・材料 などの加速試験に対応することができます。 【特長】 ■最高温度が180℃まで対応可能 ■高耐熱部...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワーデバイスのHAST試験

パワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能！…

5%RH～100%RH 　　　　　 　圧力範囲 0.020～0.196MPa（ゲージ圧） 【試験条件例】 　JESD22-A110E　､　 JEITA ED-4701-100A(試験方法302A)　等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)

着色液や蛍光液を浸透させることにより、破断・剥離層の観察を行うことがで…

当社が行う『実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)』についてご紹介です。 パッケージや実装部品の破断・剥離の確認方法として、非破壊検査(透過X線、CT) や断面観察等がありますが、これらは破断した層に対する剥離の広がりを「面」 でとらえることが困難です。 インク浸漬試験(dye and pry)では、着色液や蛍光液を浸透させることにより、 破断・剥離層の観察を行うこと...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワーデバイスの逆バイアス試験（最大2000V）

不良基準（電流値）の設定が可能！高温及び高電圧通電によりデバイス劣化及…

株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準（電流値）の設定が可能で不良判定デバイスの電源を ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD(CDM)試験受託サービス

印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも…

『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる 破壊に対する耐性を評価します。 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。 また、ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も 可能です。(別装置を使用) 【特長】 ■各種...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

加圧繰り返し試験

規定圧力の圧縮エアーを送り込み定時間保持！漏れが発生していないかを確認

『加圧繰り返し試験』は、気密性を要求される製品に対して、圧縮エアーを 既定圧力で送り込み、漏れが発生しないか確認します。 加圧⇔解放状態を繰り返す耐久試験を行うこともでき、 環境試験槽との組み合わせで加温状態で実施することも可能。 また、圧力データのログから漏れが発生したタイミングを 確認することができます。 【装置仕様】 ■加圧圧力：Max0.7MPa(ゲージ圧) ■...

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断面観察によるはんだのクラック率測定

ボールジョイントのクラック率算出など、お客様のご要望に合わせた仕様で実…

はんだ耐久性試験後の基板において、はんだ接合部にクラックが 発生した場合、クラックが許容基準内であるかを確認するため クラック率を算出します。 はんだ耐久性試験後の評価標準は、製品環境仕様に応じて評価項目や 判定基準などを個別に定めることができるため、お客様ごとに規格を お持ちの場合がほとんどです。 測定方法も部品の形状にあわせて様々ですが、ご依頼いただいた際は、 お客様のご...

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真贋調査（比較観察）

正規品又は標準品と調査対象品を比較！サイレントチェンジされていないか等…

アイテスでは、『真贋調査（比較観察）』を行っています。 正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異や サイレントチェンジされていないか等を調査。 外観観察をはじめ、開封観察や電気的特性測定、破壊・非破壊観察、 信頼性試験、材料調査などに対応しています。 【特長】 ■正規品又は標準品と調査対象品を比較 ■構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査 ...

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太陽光発電設備の不具合調査

太陽電池モジュールや太陽光発電設備でのお困りごとの解決策を、故障検出の…

●太陽電池モジュールの評価／分析 太陽電池モジュールの故障解析や性能評価を実施します。 ・非破壊検査：製品出荷検査と同等のEL測定や出力測定にて、故障状態を顕在化します。 ・破壊検査：不具合部分の断面成分解析等にて、故障原因を特定します。 ●現地調査 自然災害等による太陽光パネルの被害状況や、発電低下部分の原因追及を行います。 ・ソラメンテによる測定をはじめ適切な方法をご提案し、故...

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モジュール試作と熱抵抗評価

ダイアタッチやTIM材などの評価に好適！試作から評価まで対応致します

株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。 パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。 試作から評価まで対応致します。 ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。 【特長】 ＜パワーモジュールの試作＞ ■チップの調達からモジュールの組立てまで、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

液晶ディスプレイの分光放射輝度・色度評価

コントラスト比や色温度などを測定可能！光学特性の変化を定量的に評価

当社では液晶ディスプレイやOLEDなどの光学特性を分光放射計を用いて 測定できます。 試験前後に測定を行う事で、光学特性の変化を定量的に評価。 白および赤緑青の4パターンにて分光放射輝度を測定します。 輝度・色度・主波長など、さまざまな光学特性を測定することが 可能です。 【測定器概要】 ■測定項目：分光放射、輝度、色度 ■測定範囲：0.0005cd/m2～5,000,...

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ESD（HBM・MM）試験受託サービス

半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD（静電気…

■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原因究明から問題解決までのお手伝いをします。 ...■HBM試験（C=100pF、R=1.5...

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