• 無料セミナー『IoT×AI・ドローン×AAM 最新動向』 製品画像

    無料セミナー『IoT×AI・ドローン×AAM 最新動向』

    PR2024年6月7日、東京・丸の内で開催。2024年注目市場「IoT×A…

    市場調査レポートを販売する株式会社グローバルインフォメーションは ドイツを本拠とする提携調査会社、IoT Analytics 社(IoTアナリティクス)と Drone Industry Insights(ドローンインダストリーインサイツ)社と共同で 無料セミナー「2024年の注目市場 IoT×AI・ドローン×AAM 最新動向セミナー」を6月7日に開催いたします。 【セミナー概要】 開催日:202...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社グローバルインフォメーション

  • 資料『エンジニア業務の1/3を奪う、ムダな作業の削減方法とは?』 製品画像

    資料『エンジニア業務の1/3を奪う、ムダな作業の削減方法とは?』

    PRメーカー約220社への調査結果を紹介。エンジニアの生産性向上に貢献する…

    本レポートでは、外部コンサルティング会社による調査をもとに、エンジニアの生産性向上や 開発期間短縮に貢献する方法について解説しています。 ※調査は産業機械や自動車など様々な分野の製造メーカー約220社を対象に実施。 設計品質や開発速度などに優れている「優良企業」が、エンジニア部門の 生産効率を下げる「付加価値のない作業」と判断している作業を特定し、 その作業時間を削減するための戦略や実行方法を紹...

    メーカー・取り扱い企業: ソリッドワークス・ジャパン株式会社

  • 【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査 製品画像

    【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査

    TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定

    が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。 ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ることができるため、剥離原因、及び工程の調査に有効です。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】エポキシ樹脂の硬化温度・ガラス転移温度調査 製品画像

    【分析事例】エポキシ樹脂の硬化温度・ガラス転移温度調査

    DSC(示差走査熱量)測定による熱物性評価

    二液混合型のエポキシ樹脂について、DSC(示差走査熱量測定法)を用いて硬化温度及び耐熱性の指標となるガラス転移温度(Tg)を調査しました。硬化前の樹脂をDSC測定したところ、約103℃付近から急激な発熱反応が開始するのが確認されました(図1)。これは昇温加熱により樹脂の重合(硬化)が起きたためです。更に、硬化後の樹脂を室温ま...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】果物によるグルコシルセラミドの違いを調査 製品画像

    【分析事例】果物によるグルコシルセラミドの違いを調査

    肌バリア(保湿)商品をはじめとするセラミド含有製品の分析評価におすすめ…

    物には分子構造が異なる様々な種類のGluCerが含まれており、主成分に差異が見られます。この資料では果物(バナナ、ブドウ、キウイ、イチゴ)の抽出液を分析し、各果物に含まれるGulCerの違いについて調査した事例をご紹介します。 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】固体高分子燃料電池電解質膜の劣化調査 製品画像

    【分析事例】固体高分子燃料電池電解質膜の劣化調査

    LC/MS・ICによる劣化溶出成分の評価

    のため車載用、家庭用コージェネレーション、モバイル用として注目されています。 今回は固体高分子電解質膜をフェントン試薬(過酸化水素水+鉄イオン共存溶液)により模擬的に劣化させて溶液中の劣化分解物の調査を行いました。LC/MSにより劣化分解物の組成情報を、ICにより溶出イオンの情報を得ることができます...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • SiC Trench MOSFET ディスクリートパッケージ評価 製品画像

    SiC Trench MOSFET ディスクリートパッケージ評価

    ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察

    他社品調査や異常品検査では、まず内部構造の調査が必要です。X線CTでは、非破壊で試料内部の透過像を取得し、三次元構築することが可能です。本資料では、製品調査の一環としてSiCチップが搭載されたディスクリートパ...

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  • 【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価 製品画像

    【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価

    X線CTにより部品の非破壊観察・厚さ分布解析が可能

    X線CT分析では、部品の構造や寸法を非破壊で比較・調査することが可能です。本資料では、真空装置に使用されているゴム製のOリングの測定事例を紹介します。ガスがリークしている長時間使用品を調査するため、X線CT分析および三次元画像解析を行い、新品のデータと...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】溶液中の金属量調査 製品画像

    【分析事例】溶液中の金属量調査

    純水やウエハ洗浄液等、様々な溶液の高感度分析が可能です

    す。また、溶液の種類も純水・酸・アルカリ等、各種対応でき、分析する金属元素の濃度領域はpptオーダーから主成分レベルまで幅広く対応することが可能です。本資料では市販されている各溶液に含まれる金属量を調査した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析 製品画像

    SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析

    SEM像の3D化でリークパスを確認

    として捉えることが可能です。SEM画像を3D化することでリークパスを確認することができます。 測定法:Slice&View・EMS 製品分野:パワーデバイス 分析目的:故障解析・不良解析・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】尿中のカテキン代謝物のLC/MS/MS分析 製品画像

    【分析事例】尿中のカテキン代謝物のLC/MS/MS分析

    尿中のカテキン代謝物の定性、及び経時変化・個体差調査

    高感度LC-MS(Q-TOF型)を用いることにより、生体試料中における代謝物のような低濃度成分の定性分析が可能です。生体内で付加や抱合などの代謝を受けた成分の検索や、経時変化や個体差の調査を目的とした試料間比較を行うことができます。高濃度カテキン飲料を摂取後に採尿し、カテキンの代謝を調査したところ、未変化体のカテキンと、代謝物のカテキン-グルクロン酸抱合体が確認されました。8人の尿中...

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  • 【分析事例】SiCパワートランジスタリーク箇所の成分分析 製品画像

    【分析事例】SiCパワートランジスタリーク箇所の成分分析

    Slice&Viewで特定したゲート破壊箇所で拡大観察やEDX分析が可…

    リークによる破壊に伴い、SiやNiなどが一部偏析しているものと考えられます。 測定法:Slice&View・SEM-EDX・EMS 製品分野:パワーデバイス 分析目的:故障解析・不良解析・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】機械部品の洗浄前後における付着成分調査 製品画像

    【分析事例】機械部品の洗浄前後における付着成分調査

    洗浄効果評価や汚染物質の同定が出来ます

    ポンプやエンジン等の機械部品をオーバーホールする際、部品を洗浄して再利用する場合があります。 その際、洗浄によって汚れが十分に取り除けていない場合、組み立て後の機械で不具合が生じる危険性があります。汚れの付着有無を調べたり、付着している成分が何かを調べるには、加熱脱着GC/MS(TD-GC/MS)が有効です。試料を高温(上限350℃)で加熱することで、付着している有機物を揮発させGC/MSで測定...

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  • 【分析事例】汚染原因となる工程の調査 製品画像

    【分析事例】汚染原因となる工程の調査

    手袋由来の汚染の評価

    半導体デバイス製造において汚染工程を調べるため、不良の原因となる薄い付着物が何に起因するかを調べる必要があります。EDXでCが検出され、XPSで定量を行った付着物について、TOF-SIMSで分析を行いました。各工程で使用している標準試料の手袋と比較をしたところ、手袋A, Bと似た傾向が見られました。更に、標準試料の手袋をSiウエハに付着させて検証をしました。その結果、手袋Aに類似していることがわか...

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  • 【分析事例】NPT-IGBT中ドーパント調査 製品画像

    【分析事例】NPT-IGBT中ドーパント調査

    イメージングSIMSによって局在する元素の評価が可能

    NPT-IGBTエミッタ側の50μm角の領域についてイメージングSIMS測定を行いました。図1に分析によって得られた11B,Asのイオンイメージを示します。11BとAsは同じ領域に注入されていることがわかります。 また、通常の分析では検出領域全体の各元素の平均濃度が算出されてしまいますが、イメージングSIMS測定においては、部分的にデプスプロファイルを抽出することができるため、面内に局在するドー...

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  • 【分析事例】バイポーラトランジスタ(IGBT)の不良品調査 製品画像

    【分析事例】バイポーラトランジスタ(IGBT)の不良品調査

    高電圧電源を用いたエミッション顕微鏡による故障箇所の特定

    発光像とIR像の重ね合わせにより、リーク箇所を顕微的視野で特定できます。クラックや静電破壊など大規模な外観異常がある場合は、IR顕微鏡でも異常を確認可能です。また、エミッタ電極の遮光により、発光が検出できない場合には、コレクタ電極を除去し、コレクタ側から近赤外光を検出します。 2000Vまで印加可能な高電圧電源を用い、高耐圧で低リーク電流のパワーデバイスを動作させ、エミッション顕微鏡で故障箇所を...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】繊維の変色原因調査 製品画像

    【分析事例】繊維の変色原因調査

    繊維表面の有機・無機成分の評価が可能です

    TOF-SIMSは、着目の箇所を局所的に分析し、得られる質量スペクトルにより元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできるため、各工程における異物・汚れ・変色の原因究明に非常に有効な手段です。また、イメージ分析も可能なため、有機物の分子情報の可視化も可能です。 本資料では、繊維製品であるクリーンスーツの変色の解析結果をまとめます。TOF-SIMSによる定性結果から、変色部は皮脂である可...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】LASのアルキル鎖長分布調査 製品画像

    【分析事例】LASのアルキル鎖長分布調査

    粉洗剤・液体洗剤、家庭用排水等のLAS分析が可能です

    直鎖アルキルベンゼンスルホン酸およびその塩(LAS)は、生物への影響が懸念される物質とされることから、水質汚濁に係る生活環境の保全に関する環境基準のうち、水生生物の保全に係る環境基準の項目に追加され、基準値が制定されました(平成25年3月27日)。LASの使用用途の約9割が家庭用洗剤とされていることから、既成の家庭用洗剤と家庭用排水の測定を行い、LASアルキル鎖長(C10~C14)分布の比較を行い...

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    【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査

    TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の最表面の評価…

    細胞培養シャーレの表面では、細胞の密着性(接着性)を高めるために、疎水性のプラスチック表面を親水性に変える処理が行われています。今回、親水処理を行ったシャーレの表面についてXPS,TOF-SIMSで評価した結果、OH,CHOが増加していることがわかりました。XPSで定量的な評価を行い、TOF-SIMSで定性的な評価を行うことで、表面がどのように変化したかを捉えることが可能です。 ...詳しいデー...

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    【分析事例】部品表面のシミ・水はじきの原因調査

    切断できない大きな部品でも表面汚染を適切にサンプリングして測定

    Al材表面に水はじきのよいシミがあることがわかりました。そのシミ部をテープに付着(転写)させ、TOFSIMSで分析を行いました。 「シミ部を転写させたテープ表面」からは、「Al材表面のシミ部」と同じフラグメントが検出されており、シミの原因物質がテープに転写されているものと考えられます。このように、原因物質をテープに転写させて採取するこの方法は、切断ができない部品に有効です。...詳しいデータはカ...

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  • 【分析事例】貼り合わせウエハ内部の空隙調査 製品画像

    【分析事例】貼り合わせウエハ内部の空隙調査

    超音波顕微鏡による内部空隙の観察事例

    パワーデバイスやMEMSデバイスなどに用いられる、貼り合わせシリコンウエハを作成する際、貼り合わせ工程において界面に局所的に空隙が発生する事があります。 300mm貼り合わせウエハ内部を超音波顕微鏡を用いて観察しました。その結果、複数箇所にて1mm~20mm程度の複数の空隙があることを確認しました。本手法によって、貼り合わせウエハ内部の密着性評価が可能となります。...詳しいデータはカタログをご...

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  • 【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価 製品画像

    【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

    製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

    的に活用し、試料の総合的な知見を収集した事例をご紹介いたします。 測定法:SIMS・TEM・SCM・SMM 製品分野:パワーデバイス 分析目的:微量濃度測定・形状評価・膜厚評価・構造評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】液晶材料の分子構造解析 製品画像

    【分析事例】液晶材料の分子構造解析

    GC/TOFMSにより液晶ディスプレイ中液晶分子の構造推定が可能です。

    造推定した事例を紹介します。負の誘電異方性を示す液晶材料など約10種の成分を精密質量情報から推定しました。 測定法:GC/MS 製品分野:ディスプレイ、テレビ、プロジェクター 分析目的:市販品調査、分子構造評価、劣化調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】シームレスカプセルの三次元構造観察および膜厚解析 製品画像

    【分析事例】シームレスカプセルの三次元構造観察および膜厚解析

    X線CTによりシームレスカプセルの評価・解析が可能

    スカプセルの3D構造を評価しました。その結果、皮膜内部に異物が確認されました。また、皮膜の膜厚分布を3Dイメージおよびヒストグラム化しました。このようにX線CTを用いることで、内部構造の確認、異物の調査、膜厚分布等を非破壊で評価可能です。 測定法:X線CT法 製品分野:医薬品 分析目的:構造評価・膜厚評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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  • 【分析事例】消毒前後における不織布マスクの表面形状観察 製品画像

    【分析事例】消毒前後における不織布マスクの表面形状観察

    アルコール消毒前後でマスク表面の形状を比較

    ール消毒後では、繊維の形状が変化し、また消毒前の特徴的な凸形状が少なくなっていることがわかりました。 測定法: SEM 製品分野:日用品、ウイルス対策関連品 分析目的:形状評価、構造評価、劣化調査・信頼性評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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  • 【分析事例】アルミニウム(Al)表面のOHの分布、状態評価 製品画像

    【分析事例】アルミニウム(Al)表面のOHの分布、状態評価

    TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捕らえることが可能

    アルミニウム電極表面のOHやフッ化物は電極の腐食原因の一つであり、アルミニウム表面の状態を調査することは不良原因の調査に欠かせません。TOF-SIMSは最表面での深さ方向分解能に優れ、無機物の状態をモニターしながら高感度に深さ方向分布を測定することが可能です。OHと併せて深さ方向分布を評価す...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    【分析事例】食品中混入成分のスクリーニング検査

    食品中に農薬・薬物が混入していないかを高精度に分析します

    食品への異物混入事件が度々世の中を騒がせており、平成26年1月に実施された内閣府の「消費者行政の推進に関する世論調査」で最も関心が高い消費者問題は「食品の安全性」という結果となりました。 食品の安全性を担保するためにMSTでは原因調査のための精度の高い分析を行っており、食品中に一日摂取許容量以上に農薬が混入して...

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  • 【分析事例】エポキシ樹脂のTDS分析 製品画像

    【分析事例】エポキシ樹脂のTDS分析

    真空中での有機物からの脱ガス挙動を調査可能です

    DS(昇温脱離ガス分析法)は高真空中(1E-7 Pa)で試料を昇温、または温度を保持しながら、脱ガス成分をモニターすることが可能です。以下にエポキシ樹脂についてTDSで温度保持を行い、脱ガスの挙動を調査した事例を示します。...

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  • 【分析事例】低分子シロキサンの定量分析 製品画像

    【分析事例】低分子シロキサンの定量分析

    アウトガス中のシロキサンをngオーダーで定量します

    サンは、揮発しやすく基板等に付着しやすい成分です。シロキサンが付着すると、光学系レンズの曇り、膜の剥離や密着不良、リレー回路の接点障害などの悪影響が出ることが知られており、シロキサンのアウトガス量を調査しておくことは重要です。 本資料では、シリコンチューブを200℃で加熱した際の環状ジメチルシロキサンの発生量を調査した事例を紹介します。。...

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  • 【分析事例】TDSによる温度保持中の脱ガス評価 製品画像

    【分析事例】TDSによる温度保持中の脱ガス評価

    温度保持中の脱ガス強度の変化を調査できます

    TDSは高真空中で試料を昇温、または温度を一定に保持した状態で、脱離するガスをリアルタイムに検出する手法です。 Si基板上SiN膜について350℃で温度を保持し、H2の脱離量を調査した例を示します。 単純昇温では500℃付近に脱ガスピークが確認されましたが、350℃で温度保持中はH2の検出強度は低下し、再昇温時に脱ガスピークが確認されました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】冷却下での肉組織の形状観察 製品画像

    【分析事例】冷却下での肉組織の形状観察

    肉組織の形状を確認することで変色の原因を調査

    肉が『黄色く変色してしまう』原因を調査するため、正常品と変色品の肉組織に揃ってい形状の違いに着目してクライオSEM観察を行いました。液体窒素温度で凍結した試料の断面をFIBを用いて作成した後、組織を表出させた断面をSEM観察しました。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ご希望者全員プレゼント!表面分析の基礎と受託分析事例 製品画像

    ご希望者全員プレゼント!表面分析の基礎と受託分析事例

    〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基…

    定量    ・XPS多点測定による広域定量マッピング    ・XPSによるDLCの評価    ・リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量    ・プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査    ・ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価    ・ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価    ・粘着シートによる電子部品の汚染評価    ・ニッケルめっき剥離面の評価    ・...

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