UWBレーダー方式センサー

PRミリ単位以下の微小な変化を検知！医療機器・電子機器への干渉、影響はあり…

株式会社日本ジー･アイ･ティーは、UWBをはじめとする先端技術の 開発・設計・製造・販売を専門とする企業です。 当社が取り扱う『UWBレーダー方式センサー』は、1mm以下の微小な 変化を検知します。 医療機器・電子機器への干渉、影響がなく、プライバシー保護にも寄与。 バイタルセンサーや、工程内異物検知などにも応用が可能です。 【特長】 ■1mm以下の微小な変化を検知 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本ジー・アイ・ティー

MCA4A 4チャンネルMCA（マルチチャンネル・アナライザ ）

PRPHA（パルス波高分析）モードとMCS（マルチチャンネル・スケーラ）モ…

PHAモードでは、16ビットADCを8nsごとに4チャンネル連続して収集し、32kの分解能を実現しています。 ポールゼロ・フィルタと台形波シェーピングを備え、典型的なプリアンプ信号も処理できます。 MCSモードでは、右側の４つのBNCコネクタを用いて、Start, Stop1, Stop2, CHADVの各入力信号を処理します。 内部メモリに、最大16Mbinのスペクトルを蓄積することが...

メーカー・取り扱い企業： 大栄無線電機株式会社

【資料DL可・DSC】米・麺類等でんぷんの糊化把握

DSCでは食品加工で重要な要素でんぷんの糊化や老化の様子を把握できます…

でんぷん加工食品においては、糊化(α 化 や、逆反応である老化 (β 化 の様子を把握がとても重要です。 弊社ではその様子をDSC(示差走査熱量計)を用いて把握する技術があります この事例ではその技術の一例として 「米・麺類等でんぷんの糊化把握」 を紹介しています また本技術の応用で老化度も測定可能です。 詳細はPDF...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価

STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 加えて以下の特...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可/EBSD】EBSD を用いたアルミスパッタ膜の評価

電子線後方散乱回折法EBSDはアルミスパッタ膜の性能評価や下地材料の選…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ●微小領域の結晶粒の形状および方位の測定 ●基準方位に対する結晶の配向の確認 ●結晶方位差の情報から材料内部の歪の測定 本事例では...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定3（溶け方の違い）

DSC測定による科学的な分析で板チョコの中央部と外周部では「溶け方が異…

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。また、融解挙動を測...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定2（製品間の比較）

チョコレートを徹底的に科学分析することで各社製品の比較が行えます

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。 この事例で...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社