• MCA4A 4チャンネルMCA(マルチチャンネル・アナライザ ) 製品画像

    MCA4A 4チャンネルMCA(マルチチャンネル・アナライザ )

    PRPHA(パルス波高分析)モードとMCS(マルチチャンネル・スケーラ)モ…

    PHAモードでは、16ビットADCを8nsごとに4チャンネル連続して収集し、32kの分解能を実現しています。 ポールゼロ・フィルタと台形波シェーピングを備え、典型的なプリアンプ信号も処理できます。 MCSモードでは、右側の4つのBNCコネクタを用いて、Start, Stop1, Stop2, CHADVの各入力信号を処理します。 内部メモリに、最大16Mbinのスペクトルを蓄積することが...

    メーカー・取り扱い企業: 大栄無線電機株式会社

  • DSC(示差走査熱量分析) 製品画像

    DSC(示差走査熱量分析)

    試料の吸熱/発熱の度合いを観察!温度範囲は-90℃~550℃まで可能で…

    『DSC(示差走査熱量分析)』は、試料の温度変化によって発生した 基準物質との温度差から、熱量差を求め、試料の吸熱/発熱の度合いを 観察する分析手法です。 温度範囲は-90℃~550℃、必要サンプル量は5~...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • DSC(示差走査熱量分析)の測定事例 製品画像

    DSC(示差走査熱量分析)の測定事例

    DSCで熱特性を⽐較!種類の判別、ポリマー分⼦鎖の状態から材料特性に与…

    ポリエチレン(PE)はその側鎖分岐の長さや数によって、 幾つかの種類があり材料特性が異なります。 結晶性高分子であるポリエチレンの融解ピークから、 DSCにて融点及び結晶化度を測定しポリエチレンの種類ごとに比較しました。 長い側鎖が多く分子鎖が密になり難いLDPEは、 融点が低く結晶化度も低い結果となった一方、 分子鎖が密になりやすいHDPEは、融点・結晶化度共に高い値を示しま...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】光学顕微鏡とSEMの使い分け 製品画像

    【資料】光学顕微鏡とSEMの使い分け

    光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較!メリット、デメリットを挙げて解…

    試料の観察には光学顕微鏡とSEM(走査電子顕微鏡)がよく用いられますが、 それぞれ特長があるので目的に応じた装置を選択する事が大切です。 当資料では、光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較し一般的に言われている メリット、デメ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • AFM(原子間力顕微鏡) 製品画像

    AFM(原子間力顕微鏡)

    微小プローブによる高分解能でのイメージング!ナノレベルの構造解析を実現…

    当社では、試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの 構造解析を実現いたします。 「形状測定(タッピングモード)」では、周期的に振動させた プローブで試料表面を軽くタッピングし、表面形状を計測。 また、「位相イメージン...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 材料と熱の関係<熱分析の紹介> 製品画像

    材料と熱の関係<熱分析の紹介>

    分子レベルの構造との関係も推定が可能!熱分析の種類と知る事のできる特性…

    分析と組合わせると、分子レベルの構造との関係も推定が可能です。 材料と熱の関係について知りたい事がありましたら、 まずはお気軽にご相談ください。 【分析装置(抜粋)】 <DSC(示差走査熱量計)> ■観測する変化:熱流(発熱・吸熱) ■知る事のできる特性:融点(凝固点)、ガラス転移、結晶化、比熱容量 ■適用できる材料:プラスチック、ゴム、金属 ■分析事例:熱硬化性樹脂の硬化...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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    【保有設備】FIB(Focused Ion Beam)

    半導体、MEMS、液晶ガラスなど!微小領域の断面加工やTEM試料の作製…

    株式会社アイテスが保有する設備、集束イオンビーム「FIB」をご紹介します。 「FIB(集束イオンビーム)」は、Gaイオンを数μm以下に絞り、ビームを 走査させて試料表面の原子を弾き飛ばしながら微小領域を加工する装置です。 半導体、MEMS、液晶ガラス、ビルドアップ基板など、微小領域の断面加工や TEM試料の作製が可能です。 【保有設備】...

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  • sMIMによる半導体拡散層の解析 製品画像

    sMIMによる半導体拡散層の解析

    濃度の変化をCの変化として検出!dC/dV信号も取得でき、拡散層の解析…

    イクロ波インピーダンス顕微鏡(sMIM)は、ドーパント濃度に 線形な相関を持つ信号が特長です。 sMIM(エスミム) は、SPMに装着した金属探針の先端からマイクロ波を 照射してサンプルを走査し、その反射波を測定し拡散層の濃度に 線形な相関を持つsMIM-C像を得ることができます。 反射率から得られるZsのC成分は酸化膜容量と空乏層容量からなり、 不純物濃度に依存して空乏層幅が...

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